一种制备合金相变材料纳米点阵的方法

    公开(公告)号:CN101244803A

    公开(公告)日:2008-08-20

    申请号:CN200810024440.5

    申请日:2008-03-20

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种制备合金相变材料纳米点阵的方法,属于纳米电子和纳米光电子器件材料技术领域。该方法包括在水表面铺设单层纳米聚苯乙烯小球PS小球、用衬底材料捞PS小球单层膜、反应离子刻蚀、退火去除PS掩模版、在纳米阵列上层蒸镀绝热绝缘材料、去除蒸镀层表皮各步骤,形成相互绝热、绝缘的纳米相变材料阵列。采用本发明后,可以与当前微电子工艺技术相兼容,避免使用成本昂贵的超精细加工技术,获得高密度、高均匀度的锗锑碲和硅锑碲纳米点阵,使得相变材料的有源区的尺寸达到几十纳米甚至几纳米,有助于大大降低材料发生相变所需的电压和功耗,使硫系化合物纳米相变材料走出实验室,切实实现产业化。

    常温下构筑高密度均匀分布硅纳米点、纳米线的方法

    公开(公告)号:CN100367467C

    公开(公告)日:2008-02-06

    申请号:CN200610085300.X

    申请日:2006-06-09

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种常温下用硅衬底上的单层CdTe纳米晶体作为掩模版,构筑高密度均匀分布硅纳米点、纳米线的方法,属于纳米电子和纳米光电子器件材料技术领域。该方法包括1)氧化、刻蚀;2)铺设单层CdTe纳米晶体模版;3)反应离子刻蚀;4)去除模版和漂洗;5)退火、钝化各步骤,完成高密度均匀分布硅纳米点、纳米线的构筑。采用本发明的方法后,可以与当前微电子工艺技术相兼容,避免使用成本昂贵的超精细加工技术,在获得均匀分布的高密度纳米硅的同时,可对纳米晶粒表面进行有效钝化,以降低缺陷态密度,因而能够显现出由于尺寸变化而引起的量子效应,达到调控低维有序体系结构和性能的目的,使纳米硅量子点走出实验室,切实实现产业化。

    一种制备合金相变材料纳米点阵的方法

    公开(公告)号:CN100569631C

    公开(公告)日:2009-12-16

    申请号:CN200810024440.5

    申请日:2008-03-20

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种制备合金相变材料纳米点阵的方法,属于纳米电子和纳米光电子器件材料技术领域。该方法包括在水表面铺设单层纳米聚苯乙烯小球PS小球、用衬底材料捞PS小球单层膜、反应离子刻蚀、退火去除PS掩模版、在纳米阵列上层蒸镀绝热绝缘材料、去除蒸镀层表皮各步骤,形成相互绝热、绝缘的纳米相变材料阵列。采用本发明后,可以与当前微电子工艺技术相兼容,避免使用成本昂贵的超精细加工技术,获得高密度、高均匀度的锗锑碲和硅锑碲纳米点阵,使得相变材料的有源区的尺寸达到几十纳米甚至几纳米,有助于大大降低材料发生相变所需的电压和功耗,使硫系化合物纳米相变材料走出实验室,切实实现产业化。

    常温下构筑高密度均匀分布硅纳米点、纳米线的方法

    公开(公告)号:CN1873923A

    公开(公告)日:2006-12-06

    申请号:CN200610085300.X

    申请日:2006-06-09

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种常温下用硅衬底上的单层CdTe纳米晶体作为掩模版,构筑高密度均匀分布硅纳米点、纳米线的方法,属于纳米电子和纳米光电子器件材料技术领域。该方法包括1)、氧化、刻蚀;2)、铺设单层CdTe纳米晶体模版;3)、反应离子刻蚀;4)、去除模版和漂洗;5)、退火、钝化各步骤,完成高密度均匀分布硅纳米点、纳米线的构筑。采用本发明的方法后,可以与当前微电子工艺技术相兼容,避免使用成本昂贵的超精细加工技术,在获得均匀分布的高密度纳米硅的同时,可对纳米晶粒表面进行有效钝化,以降低缺陷态密度,因而能够显现出由于尺寸变化而引起的量子效应,达到调控低维有序体系结构和性能的目的,使纳米硅量子点走出实验室,切实实现产业化。

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