铜合金板材及其制造方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118103534A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202380013969.X

    申请日:2023-01-19

    Abstract: 本发明提供一种能够将线张力设定得较高且能够得到良好的弯曲加工性的铜合金板材及其制造方法。铜合金板材具有下述合金组成:含有合计为1.0质量%以上5.0质量%以下的Ni及Co中的至少一种成分以及0.10质量%以上1.50质量%以下的Si、余量为Cu及不可避免的杂质,在由针对平行于轧制方向及板厚方向这两者的截面的SEM‑EBSD法的晶体取向解析数据得到的、显示出晶体取向的强度分布的反极图中,具有与轧制方向平行的 取向的晶粒的集聚度为8.0以上,并且在垂直于轧制方向的板宽方向上,具有施密特因子为0.49以上的取向的晶粒的集聚度为3.0以上。

    铜合金线材及其制造方法

    公开(公告)号:CN104169447A

    公开(公告)日:2014-11-26

    申请号:CN201380015337.3

    申请日:2013-07-02

    Inventor: 高泽司

    CPC classification number: C22F1/08 C22C9/00 H01B1/026

    Abstract: 通过下述铜合金线材和该铜合金线材的制造方法,能够以低成本提供一种伸长率、耐弯曲疲劳特性优异的例如用于磁导线等的铜合金线材,该铜合金线材具有下述合金组成而成,该合金组成含有选自由下述成分组成的组中的至少一种:Ag 0.5质量%~4质量%,以及以各自的含量计为0.05质量%~0.3质量%的选自由Sn、Mg、Zn、In、Ni、Co、Zr和Cr组成的组中的至少一种,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成,该铜合金线材的线径或线材的厚度为0.1mm以下,从线材的最外表面起至线径或线材厚度的至少5%的内侧为止的区间的深度区域中的纳米压痕硬度为1.45GPa以上,且线材的中心部的纳米压痕硬度小于1.45GPa,线材的拉伸强度为350MPa以上、伸长率为7%以上。

    铜合金材料以及使用其的电阻器用电阻材料及电阻器

    公开(公告)号:CN117157419A

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN202280026907.8

    申请日:2022-06-24

    Abstract: 提供例如作为电阻材料具有充分高的体积电阻率并且对铜热电动势的绝对值小、且在从常温(例如20℃)到高温(例如150℃)的宽温度范围内的电阻温度系数为负数且绝对值小的铜合金材料以及使用其的电阻器用电阻材料及电阻器。铜合金材料具有含有Mn:20.0质量%以上35.0质量%以下、Ni:5.0质量%以上17.0质量%以下、以及Co:0.10质量%以上2.00质量%以下,余量为Cu及不可避免的杂质的合金组成。电阻器用电阻材料由该铜合金材料构成。另外,电阻器具有该电阻器用电阻材料。

    铜合金材料以及使用其的电阻器用电阻材料及电阻器

    公开(公告)号:CN117157418A

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN202280026857.3

    申请日:2022-06-24

    Abstract: 提供例如作为电阻材料具有充分高的体积电阻率并且对铜热电动势的绝对值小、且在从常温(例如20℃)到高温(例如150℃)的宽温度范围内的电阻温度系数为负数且绝对值小的铜合金材料以及使用其的电阻器用电阻材料及电阻器。铜合金材料具有含有Mn:20.0质量%以上35.0质量%以下、Ni:5.0质量%以上15.0质量%以下以及Fe:0.01质量%以上0.50质量%以下,且Co在0质量%以上1.50质量%以下的范围内(包括Co的含量为0质量%的情况),并且Fe与Co的合计量在0.10质量%以上2.00质量%以下的范围内,余量为Cu及不可避免的杂质的合金组成。

    铜合金线材及其制造方法

    公开(公告)号:CN106164306B

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201580016708.9

    申请日:2015-03-30

    Inventor: 高泽司

    Abstract: 本发明的课题在于以低成本提供一种例如用于磁导线等的铜合金线材,该铜合金线材具有高伸长率,加工性、即线圈成型性优异,除此以外,使用该铜合金线材得到的线圈的特性(线圈寿命)也优异。一种铜合金线材以及其制造方法,该铜合金线材含有0.1质量%~4质量%的Ag和/或含有以各自的含量计为0.05质量%~0.30质量%的选自由Sn、Mg、Zn、In、Ni、Co、Zr和Cr组成的组中的至少一种,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成,其中,对于与线材的长度方向垂直的截面,利用EBSD法从该截面的法线方向进行观察时,具有 取向的晶粒的面积率为总测定面积的10%以上。

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