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公开(公告)号：CN116930570A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202210337388.9
申请日：2022-03-31
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种模块化垂直式探针卡，其包含彼此呈间隔地设置的一第一导板单元与一第二导板单元及穿设于所述第一导板单元与所述第二导板单元的多个导电探针。多个所述导电探针具有相同的针长度，并且每个所述导电探针包含位于所述第一导板单元与所述第二导板单元之间的一行程段及分别相连于所述行程段两端的一连接段与一测试段。多个所述导电探针的所述行程段通过形成有彼此相异的N种外形，以使多个所述导电探针能用来进行彼此相异的N种电性传输要求、并同时使多个所述导电探针具备有相同的接触针压，而N为大于1的正整数。据此，通过多个所述导电探针具有特定的结构要求，以符合不同电性传输要求，据以有效地缩短检测时程。
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公开(公告)号：CN117233438A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202210475429.0
申请日：2022-04-29
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 本发明公开一种悬臂式探针卡及其探针模块。所述探针模块包含一支撑板、设置于所述支撑板的一基板、多个悬臂探针及多个细调整件。所述基板呈非平面状且于一测试方向上形成有一翘曲落差。每个悬臂探针的一端连接于所述基板，并且每个所述悬臂探针的另一端定义为一自由端。多个所述细调整件彼此间隔地设置于所述支撑板与所述基板之间。每个所述细调整件能沿所述测试方向而独立地运作，以改变所述支撑板与所述基板之间的距离。所述基板能通过至少一个所述细调整件而形变，以于所述测试方向上缩小所述基板的所述翘曲落差。据此，多个所述悬臂探针能够被安装在沿所述测试方向上的高度更为一致的所述基板。
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公开(公告)号：CN116930572A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202210340606.4
申请日：2022-03-31
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种垂直式探针卡及其栅栏状探针。所述栅栏状探针具有介于5毫米～8毫米之间的一针长度。所述栅栏状探针包含一栅栏段、一陶瓷层、一连接段与一测试段。所述栅栏段呈长形且定义有一长度方向，所述栅栏段形成有沿着所述长度方向的一贯穿槽，并且所述贯穿槽的长度大于所述针长度的65％。所述陶瓷层直接成形于所述栅栏段的外表面、并覆盖于所述贯穿槽的两个长壁面。所述连接段与所述测试段分别相连于所述栅栏段的两个末端部，并且所述陶瓷层未配置于所述连接段与所述测试段。据此，通过所述栅栏状探针的结构设计，以使得所述栅栏段上可以在特定位置采用所述陶瓷层来取代既有的高分子绝缘层，进而有效地提升所述栅栏状探针的散热效果。
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公开(公告)号：CN116930571A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202210337445.3
申请日：2022-03-31
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种垂直式探针卡装置及其栅栏状探针。所述栅栏状探针具有介于5毫米～8毫米之间的一针长度。所述栅栏状探针包含一栅栏段、一连接段与一测试段。所述栅栏段呈长形且定义有一长度方向，所述栅栏段形成有一贯穿槽与一第一凸块。所述贯穿槽沿着所述长度方向形成，并且所述贯穿槽的长度大于所述针长度的65％。所述第一凸块自所述贯穿槽的一个长壁面延伸一第一预设宽度而形成、并与所述贯穿槽的另一个长壁面相隔有一间隙。所述连接段与所述测试段分别相连于所述栅栏段的两个末端部。据此，所述栅栏状探针的所述栅栏段于运作时，可以通过所述第一凸块来降低所述栅栏段形变的幅度，进而维持其机械与电性上的特性。
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公开(公告)号：CN117007842A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202210475430.3
申请日：2022-04-29
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 本发明公开一种悬臂式探针卡及其承载座。所述承载座包含一座体、一金属承载片及多个粗调整件。所述金属承载片安装于所述座体并具有一承载面。多个所述粗调整件彼此间隔地设置于所述座体与所述金属承载片之间。每个所述粗调整件能沿一测试方向而独立地运作，以改变所述承载面与所述座体之间的距离。所述承载面包含有彼此间隔地设置的多个安装区域，并且多个所述安装区域之中的至少两个于所述测试方向上形成有一安装落差。所述承载座能通过至少一个所述粗调整件而使所述金属承载片产生形变，以于所述测试方向上缩小所述安装落差。据此，多个所述安装区域在沿所述测试方向上的高度更为一致。
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公开(公告)号：CN117007841A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202210473940.7
申请日：2022-04-29
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种悬臂式探针卡装置及其弹臂型探针。所述弹臂型探针包含一焊接段、一测试段及彼此间隔地设置的两个外弹性。所述测试段与所述焊接段在一配置方向上呈间隔地设置，并且所述测试段具有一针尖及分别位于所述针尖相反两侧的一外边缘与一内边缘。每个所述外弹性臂具有两个端部，其分别连接所述焊接段与所述测试段的所述内边缘。两个所述外弹性臂的其中之一邻近于所述针尖且定义为一第一外弹性臂，而两个所述外弹性臂的其中另一定义为一第二外弹性臂，并且所述第一外弹性臂的长度大于所述第二外弹性臂的长度。据此，所述弹臂型探针能通过至少其中一个所述外弹性臂产生弹性地形变，以有效地吸收反作用力，并能缩小所述针尖的位移。
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公开(公告)号：CN117007840A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202210473776.X
申请日：2022-04-29
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种悬臂式探针卡装置及其对焦型探针。所述对焦型探针包含一焊接段、一测试段、彼此间隔地设置的两个外弹性臂及一对焦部。所述测试段与所述焊接段在一配置方向上呈间隔地设置，并且所述测试段具有一针尖及分别位于所述针尖相反两侧的一外边缘与一内边缘。每个所述外弹性臂具有两个端部，其分别连接所述焊接段与所述测试段的所述内边缘。所述对焦部相连于所述测试段的所述内边缘、并位于所述针尖与两个所述外弹性臂之间。其中，所述对焦部于远离两个所述外弹性臂的一侧形成有多个对焦点。据此，所述对焦型探针能通过所述对焦部的配置，而能够有效地降低所述针尖的位置被误判的机率。
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公开(公告)号：CN116930573A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202210342230.0
申请日：2022-03-31
申请人： 台湾中华精测科技股份有限公司
摘要： 本发明公开一种多针形垂直式探针卡，其包含彼此呈间隔地设置的一第一导板单元与一第二导板单元及穿设于所述第一导板单元与所述第二导板单元的多个栅栏状探针。每个所述栅栏状探针的针长度介于5毫米～8毫米之间，并包含一栅栏段及分别相连于所述栅栏段两端的一连接段与一测试段。所述栅栏段形成有一贯穿槽，其长度大于所述针长度的65％。所述栅栏段具有分别位于所述贯穿槽相反两侧的两个支臂，其相隔介于10微米～120微米的一调配距离。多个所述栅栏状探针包含具有相同接触针压但用来进行不同电性传输要求的一第一探针与一第二探针。据此，多个所述栅栏状探针可以在所述调配距离的范围内调整所述贯穿槽的外形，进而符合不同电性传输要求。
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