-
公开(公告)号:CN1450645A
公开(公告)日:2003-10-22
申请号:CN02105861.X
申请日:2002-04-11
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/112 , H01L27/10
Abstract: 一种无接触区形成于存储单元区的分栅快闪存储单元阵列结构,形成于半导体基板之上,其至少包含:复数个隔离区块,以阵列排列方式形成于该半导体基板上;复数个快闪存储单元,每一该快闪存储单元包含浮置栅极,以阵列排列方式形成于该半导体基板上,且位于该复数个隔离区块以外的主动区上,而构成复数列快闪存储单元,每列快闪存储单元共用一控制栅极线;复数纵行扩散区形成于该隔离区块纵行之间的半导体基板内,且与上述每列快闪存储单元的控制栅极线相会;因此,经由指定列的控制栅极及指定行扩散区可分别指定一存储单元,以进行对该被指定的存储单元程序化,或读取资料;上述存储单元的接触形成于存储单元区以外的半导体基板内。
-
公开(公告)号:CN1278426C
公开(公告)日:2006-10-04
申请号:CN02105861.X
申请日:2002-04-11
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/112 , H01L27/10
Abstract: 一种无接触区形成于存储单元区的分栅快闪存储单元阵列结构,形成于半导体基板之上,其至少包含:多个隔离区块,以阵列排列方式形成于该半导体基板上;多个快闪存储单元,每一该快闪存储单元包含浮置栅极,以阵列排列方式形成于该半导体基板上,且位于该多个隔离区块以外的有源区上,而构成多列快闪存储单元,每列快闪存储单元共用一控制栅极线;多个纵行扩散区形成于该隔离区块纵行之间的半导体基板内,且与上述每列快闪存储单元的控制栅极线相会;因此,经由指定列的控制栅极及指定行扩散区可分别指定一存储单元,以进行对该被指定的存储单元编程,或读取资料;上述存储单元的接触形成于存储单元区以外的半导体基板内。
-