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公开(公告)号：CN104424377A
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201410411479.8
申请日：2014-08-20
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5081 , G06F17/5036 , G06F2217/78 , G06F2217/82
Abstract: 本发明涉及用于具有共享PODE的标准集成电路单元的泄漏预估的系统和方法。本发明的制造使用具有共享的氧化物限定区边缘上多晶硅(PODE)的邻接单元的集成电路的系统和方法，包括：在多个不同单元中模拟单元间漏电流。多个不同单元的每一个邻接另一个单元，并且具有共享的PODE。方法还包括基于单元间漏电流来验证集成电路的预定可接受的功耗。
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公开(公告)号：CN103853874A
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201310656513.3
申请日：2013-12-05
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种方法包括开发电路原理图，该电路原理图包括多个单元。该方法还包括基于电路原理图生成多个单元的单元布置规则和基于单元布置规则开发多个单元的电路布局图。该方法还包括基于阈值电压对电路布局图的多个单元进行分组和将阈值电压一致的填充物插入电路布局图内。本发明还描述了实施该方法的系统。本发明还描述了通过该方法形成的布局。本发明还提供了形成具有不同阈值电压的单元的布局的方法、实现系统和形成的布局。
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公开(公告)号：CN104424377B
公开(公告)日：2018-02-13
申请号：CN201410411479.8
申请日：2014-08-20
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5081 , G06F17/5036 , G06F2217/78 , G06F2217/82
Abstract: 本发明涉及用于具有共享PODE的标准集成电路单元的泄漏预估的系统和方法。本发明的制造使用具有共享的氧化物限定区边缘上多晶硅(PODE)的邻接单元的集成电路的系统和方法，包括：在多个不同单元中模拟单元间漏电流。多个不同单元的每一个邻接另一个单元，并且具有共享的PODE。方法还包括基于单元间漏电流来验证集成电路的预定可接受的功耗。
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公开(公告)号：CN103853874B
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201310656513.3
申请日：2013-12-05
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种方法包括开发电路原理图，该电路原理图包括多个单元。该方法还包括基于电路原理图生成多个单元的单元布置规则和基于单元布置规则开发多个单元的电路布局图。该方法还包括基于阈值电压对电路布局图的多个单元进行分组和将阈值电压一致的填充物插入电路布局图内。本发明还描述了实施该方法的系统。本发明还描述了通过该方法形成的布局。本发明还提供了形成具有不同阈值电压的单元的布局的方法、实现系统和形成的布局。
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