使用多个时序数据库的电路测试及制造

    公开(公告)号:CN108226745B

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN201711100786.4

    申请日:2017-11-09

    Abstract: 本发明实施例涉及使用多个时序数据库的电路测试及制造。一种方法包含针对第一输入参数集合产生第一电路元件集合的第一时序数据库。产生所述第一时序数据库包含确定所述第一电路元件集合中的所述电路元件中的每一个的装置特性及将所述所确定装置特性存储在数据库中。针对第二输入参数集合产生第二电路元件集合的第二时序数据库。所述第二时序数据库是通过使用先前存储在所述数据库中的所述所确定装置特性中的一或多个而产生。在衬底上形成电路。所述电路包含所述第一电路元件集合或所述第二电路元件集合中的至少一个。

    用于设计上下文感知电路的方法

    公开(公告)号:CN113051859A

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202010770678.3

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本文中公开了用于设计上下文感知电路的方法。所述方法包括:识别将被设计到上下文感知电路中的至少一个单元;识别对所述上下文感知电路的布局相关效应有影响的至少一个上下文参数;为每个单元及每个上下文参数产生与所述单元相关联的多个邻接环境;针对每个单元及每个上下文参数,通过在所述多个邻接环境下产生所述单元的多个电性质值而估测所述单元的至少一个电性质对所述上下文参数的敏感度;以及基于每个单元的所述至少一个电性质的所述敏感度且基于至少一个预定阈值,判断每个上下文参数是否是用于所述上下文感知电路的静态分析的关键上下文参数。

    用于设计上下文感知电路的方法

    公开(公告)号:CN113051859B

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202010770678.3

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本文中公开了用于设计上下文感知电路的方法。所述方法包括:识别将被设计到上下文感知电路中的至少一个单元;识别对所述上下文感知电路的布局相关效应有影响的至少一个上下文参数;为每个单元及每个上下文参数产生与所述单元相关联的多个邻接环境;针对每个单元及每个上下文参数,通过在所述多个邻接环境下产生所述单元的多个电性质值而估测所述单元的至少一个电性质对所述上下文参数的敏感度;以及基于每个单元的所述至少一个电性质的所述敏感度且基于至少一个预定阈值,判断每个上下文参数是否是用于所述上下文感知电路的静态分析的关键上下文参数。

    基于布局环境的单元时序特征分析

    公开(公告)号:CN112685988A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202010411732.5

    申请日:2020-05-15

    Abstract: 本发明实施例涉及基于布局环境的单元时序特征分析。本发明实施例涉及一种由至少一个处理器执行的方法包含以下步骤。存取集成电路IC的布局,其中所述布局具有至少一个单元。基于所述单元的布局环境来确定所述单元的环境群组,其中所述环境群组与时序表相关联。对所述布局执行时序分析以根据所述时序表确定所述布局是否遵守时序约束规则。也提供一种系统,其包含:一或多个处理器,其包含用于实施所述方法的指令;及非暂时性计算机可读存储媒体,其包含用于实施所述方法的指令。

    使用多个时序数据库的电路测试及制造

    公开(公告)号:CN108226745A

    公开(公告)日:2018-06-29

    申请号:CN201711100786.4

    申请日:2017-11-09

    Abstract: 本发明实施例涉及使用多个时序数据库的电路测试及制造。一种方法包含针对第一输入参数集合产生第一电路元件集合的第一时序数据库。产生所述第一时序数据库包含确定所述第一电路元件集合中的所述电路元件中的每一个的装置特性及将所述所确定装置特性存储在数据库中。针对第二输入参数集合产生第二电路元件集合的第二时序数据库。所述第二时序数据库是通过使用先前存储在所述数据库中的所述所确定装置特性中的一或多个而产生。在衬底上形成电路。所述电路包含所述第一电路元件集合或所述第二电路元件集合中的至少一个。

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