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公开(公告)号：CN107822863A
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201711330129.9
申请日：2017-12-13
申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
CPC分类号： A61H35/04 , A61H15/00 , A61H39/04 , A61H2201/0207 , A61H2201/0228 , A61H2201/1207 , A61H2205/022 , A61H2205/023
摘要： 本发明公开了一种洗鼻器，所述洗鼻器包括：容器单元，用于容纳液体；封盖所述容器单元的盖体；以及清洗管组件，所述清洗管组件的一端穿过所述盖体与所述容器单元连通；其特征在于，所述盖体内设有收容部，所述收容部包括：腔室，用于盛放用于洗鼻剂的溶质；以及封装件，以可移除方式封闭所述腔室。在盖体上增设收容部，使得洗鼻器同时收纳了溶质和溶剂，使携带更加方便。
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公开(公告)号：CN105092908B
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201510306976.6
申请日：2015-06-04
申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
CPC分类号： G01R1/06722 , G01R1/06716 , G02F2001/136254 , G09G3/00
摘要： 本发明的实施例提供一种测试探针和测试装置，涉及显示器技术领域，用于保证测试探针与测试样品表面的良好接触，同时减少测试探针对测试样品表面的损伤以及测试探针的磨损。该测试探针包括：壳体、活塞、弹性器件和球体；壳体包括测试端和固定端，测试端设置有一测试开口；活塞能沿壳体内壁在测试端和固定端之间滑动，活塞与壳体的固定端形成导电胶体腔，通过挤压活塞能够使得导电胶体自活塞与壳体内壁间的缝隙溢出；弹性器件的第一端固定于活塞上，弹性器件的第二端向测试端延伸；球体设置于测试开口处，球体可以在测试开口内转动且测试开口的尺寸小于球体的直径；球体与弹性器件的第二端相隔预设间距。本发明的实施例用于测试样品的检测。
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公开(公告)号：CN105092908A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510306976.6
申请日：2015-06-04
申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
CPC分类号： G01R1/06722 , G01R1/06716 , G02F2001/136254 , G09G3/00
摘要： 本发明的实施例提供一种测试探针和测试装置，涉及显示器技术领域，用于保证测试探针与测试样品表面的良好接触，同时减少测试探针对测试样品表面的损伤以及测试探针的磨损。该测试探针包括：壳体、活塞、弹性器件和球体；壳体包括测试端和固定端，测试端设置有一测试开口；活塞能沿壳体内壁在测试端和固定端之间滑动，活塞与壳体的固定端形成导电胶体腔，通过挤压活塞能够使得导电胶体自活塞与壳体内壁间的缝隙溢出；弹性器件的第一端固定于活塞上，弹性器件的第二端向测试端延伸；球体设置于测试开口处，球体可以在测试开口内转动且测试开口的尺寸小于球体的直径；球体与弹性器件的第二端相隔预设间距。本发明的实施例用于测试样品的检测。
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公开(公告)号：CN107822863B
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN201711330129.9
申请日：2017-12-13
申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种洗鼻器，所述洗鼻器包括：容器单元，用于容纳液体；封盖所述容器单元的盖体；以及清洗管组件，所述清洗管组件的一端穿过所述盖体与所述容器单元连通；其特征在于，所述盖体内设有收容部，所述收容部包括：腔室，用于盛放用于洗鼻剂的溶质；以及封装件，以可移除方式封闭所述腔室。在盖体上增设收容部，使得洗鼻器同时收纳了溶质和溶剂，使携带更加方便。
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公开(公告)号：CN107393904B
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201710595983.1
申请日：2017-07-20
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L23/544 , H01L27/12
摘要： 本发明提供一种测试结构，包括多个测试电容，每个测试电容包括至少部分交叠、且绝缘间隔的两层测试电极，多个测试电容围成环形结构，任意相邻两个测试电容中，其中一个测试电容的一个测试电极与另一个测试电容的一个测试电极电连接，且该两个测试电容中，相连的两个测试电极的连接处设置有插孔，用于插入测试针。相应地，本发明还提供一种阵列基板和显示装置。本发明能够提高对显示区的电容检测的检测效率。
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公开(公告)号：CN106950485A
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201710183166.5
申请日：2017-03-24
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明提供了一种基板测试载台及基板测试设备，该基板测试载台包括：载台主体，所述载台主体包括一用于放置待测基板的透明承载板，所述透明承载板包括用于承载待测基板的第一表面；设置在所述透明承载板的背离所述第一表面的一侧的至少一个背光源；及与所述背光源连接，用于移动所述背光源的移动机构。本发明所提供的基板测试载台背光源可以根据实际需要运动到合适的位置，为待测基板提供背光，极大地方便了测试、提高了测试效率；同时使得一个基板测试载台所需背光源的使用数量大大缩减，节省了成本；此外，可以通过同一背光源移动至不同位置进行测试，避免了背光源之间的差异性造成的测试结果差异，提高了测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN107068696B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201710420077.8
申请日：2017-06-06
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L23/544 , H01L21/77
摘要： 本发明实施例公开了一种阵列基板和阵列基板的制作方法。该阵列基板包括：显示区和位于显示区周边的非显示区，非显示区中设置有第一测试单元、第二测试单元和测试焊盘，其中，第一测试单元和第二测试单元的源极连接到同一个测试焊盘，栅极连接到同一个测试焊盘，漏极连接到不同的测试焊盘；第一测试单元用于对薄膜场效应晶体管的电学参数性能进行测试；第二测试单元用于对非显示区的栅极驱动电路进行测试。本发明实施例解决了采用现有测试结构测试阵列基板的方式中，由于需要专门设置用于测试GOA特性的监控区域，而导致浪费基板空间的问题，以及由于无法在后续工艺中监控GOA特性而造成产品良率较低的问题。
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公开(公告)号：CN107515482A
公开(公告)日：2017-12-26
申请号：CN201710816461.X
申请日：2017-09-11
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/13 , G02F1/1345
CPC分类号： G02F1/1303 , G02F1/13452
摘要： 本发明公开了一种胶涂覆设备及涂覆胶的方法。胶涂覆设备包括：载台，其用于承载基板，基板的芯片绑定区域设置有多个芯片；布胶装置，用于对位扣设在基板的芯片绑定区域，布胶装置上设置有覆盖芯片区域的遮挡结构和暴露芯片以外区域的镂空结构；涂胶装置，用于向布胶装置涂胶，使胶通过布胶装置的镂空结构填充在芯片以外区域。这样的胶涂覆设备，可以一次性完成涂覆胶，保证芯片上无涂覆胶，满足了市场需求，提高了生产效率。芯片上没有胶，避免了芯片上胶的厚度超过阵列基板侧偏光片产生干涉风险，只在芯片以外区域涂覆胶，可以涂覆足够厚度的胶，保证了胶对芯片绑定区域的保护作用。本发明同时公开了使用该胶涂覆设备涂覆胶的方法。
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公开(公告)号：CN107393904A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710595983.1
申请日：2017-07-20
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L23/544 , H01L27/12
CPC分类号： H01L23/544 , H01L27/1214 , H01L2223/544
摘要： 本发明提供一种测试结构，包括多个测试电容，每个测试电容包括至少部分交叠、且绝缘间隔的两层测试电极，多个测试电容围成环形结构，任意相邻两个测试电容中，其中一个测试电容的一个测试电极与另一个测试电容的一个测试电极电连接，且该两个测试电容中，相连的两个测试电极的连接处设置有插孔，用于插入测试针。相应地，本发明还提供一种阵列基板和显示装置。本发明能够提高对显示区的电容检测的检测效率。
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公开(公告)号：CN107068696A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710420077.8
申请日：2017-06-06
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L23/544 , H01L21/77
摘要： 本发明实施例公开了一种阵列基板和阵列基板的制作方法。该阵列基板包括：显示区和位于显示区周边的非显示区，非显示区中设置有第一测试单元、第二测试单元和测试焊盘，其中，第一测试单元和第二测试单元的源极连接到同一个测试焊盘，栅极连接到同一个测试焊盘，漏极连接到不同的测试焊盘；第一测试单元用于对薄膜场效应晶体管的电学参数性能进行测试；第二测试单元用于对非显示区的栅极驱动电路进行测试。本发明实施例解决了采用现有测试结构测试阵列基板的方式中，由于需要专门设置用于测试GOA特性的监控区域，而导致浪费基板空间的问题，以及由于无法在后续工艺中监控GOA特性而造成产品良率较低的问题。
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