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公开(公告)号：CN110986848B
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN201911326638.3
申请日：2019-12-20
申请人： 合肥富煌君达高科信息技术有限公司
IPC分类号： G01B21/04
摘要： 本发明公开一种精密测距装置及其校准方法，该精密测距装置包括光学导轨及若干分布于光学导轨上的测距组件，光学导轨上安装有用于丈量长度待测距离的磁栅尺条，测距组件通过移动单元连接于光学导轨上，移动单元上固定安装有用于与磁栅尺条匹配的磁头，磁头与磁栅尺条进行配合，使得待测距离的读数在磁头中显示，测距组件包括多个测距元件，多个测距元件通过定位工件进行定位及校准，定位工件包括多个具有固定直径的圆形体，圆形体直径从定位工件的一端到另一端呈递增的趋势，本发明的精密测距装置能够提高测量精度，而且在使用前的校准工作中，能够提高定位精度。
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公开(公告)号：CN110986848A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911326638.3
申请日：2019-12-20
申请人： 合肥富煌君达高科信息技术有限公司
IPC分类号： G01B21/04
摘要： 本发明公开一种精密测距装置及其校准方法，该精密测距装置包括光学导轨及若干分布于光学导轨上的测距组件，光学导轨上安装有用于丈量长度待测距离的磁栅尺条，测距组件通过移动单元连接于光学导轨上，移动单元上固定安装有用于与磁栅尺条匹配的磁头，磁头与磁栅尺条进行配合，使得待测距离的读数在磁头中显示，测距组件包括多个测距元件，多个测距元件通过定位工件进行定位及校准，定位工件包括多个具有固定直径的圆形体，圆形体直径从定位工件的一端到另一端呈递增的趋势，本发明的精密测距装置能够提高测量精度，而且在使用前的校准工作中，能够提高定位精度。
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公开(公告)号：CN211085113U
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201922199002.9
申请日：2019-12-10
申请人： 合肥富煌君达高科信息技术有限公司
摘要： 本实用新型公开了一种用于3D扫描仪的精度检测及标定的设备，包括基座，所述基座上划分有精度测试区及标定区；在所述精度测试区中，基座通过第一调节机构安装有载物台，所述载物台中安装有标准量块，所述载物台通过所述第一调节机构调节横向及纵向的位移；在所述精度测试区中，基座还通过支架安装待检测精度的第一扫描仪；在所述标定区中，基座通过第二调节机构安装有待标定的第二扫描仪，所述第二扫描仪通过第二调节机构调节横向以及纵向的位移；在所述标定区中，基座还安装有用于对第二扫描仪进行标定的标定板，所述标定板通过六轴调节平台安装在所述标定区内。本实用新型能够将精度检测以及标定操作集成在一起，提高了设备的集成度。
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公开(公告)号：CN211085268U
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202020051097.X
申请日：2020-01-10
申请人： 合肥富煌君达高科信息技术有限公司
IPC分类号： G01C25/00
摘要： 本实用新型公开一种用于光学导轨测距装置的调节系统，包括光学导轨以及安装在光学导轨上的三个滑块，三个滑块上分别安装有标定板、激光发射机构以及COMS相机，其中，标定板与COMS相机分别通过第一转台及第二转台安装在滑块上，激光发射机构通过固定支架安装在位于中间位置的滑块上；激光发射机构包括激光器本体，激光器本体固定卡接在位于固定支架顶部的镜头夹具，激光器本体的激光发射端的外端面固定安装有靶体，靶体的中心设有与激光器本体同轴的中心孔，使得激光器本体发射的激光光束的光轴与中心孔的轴线重合。本实用新型能够提高调节面与面之间的平行度的精度，从而降低标定误差，提高标定精度。
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公开(公告)号：CN211085154U
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202020035435.0
申请日：2020-01-08
申请人： 合肥富煌君达高科信息技术有限公司
摘要： 本实用新型公开一种应用于3D扫描仪的可调节密封结构，包括：壳体，以及设置于壳体内的激光器、成像镜筒、以及传感器；所述壳体包括：呈盒状的壳身、以及与壳身连接的壳盖，所述壳身的底面开设有与壳身外部连通且用于对应激光器的第一通孔、以及对应成像镜筒的第二通孔，壳身的正面设有与壳身外部连通且用于对应传感器的第三通孔，且壳身的正顶面设有与壳身外部连通且用于注入散热液体的第四通孔；采用散热液体全侵没的方式，并且壳体具备完善的密封性，使得散热液体与各个部件之间得到充分接触，与现有的接触传导方式相比，本申请实现壳体的全面、高效散热，满足了3D扫描仪使用时的散热需求。
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