3D轮廓测量仪中CMOS与光轴夹角的测量装置和方法

    公开(公告)号:CN112033308A

    公开(公告)日:2020-12-04

    申请号:CN202010840572.6

    申请日:2020-08-20

    IPC分类号: G01B11/26 G01B11/24

    摘要: 本发明公开了一种3D轮廓测量仪中CMOS与光轴夹角的测量装置和方法,包括:移动装置,所述移动装置包括可带动CMOS、镜头夹具、标定板沿着滑轨长度方向移动并带有磁读表以读出CMOS、镜头夹具、标定板位于滑轨上位置的滑块,还包括:转动装置,所述转动装置包括可带动CMOS和标定板转动的旋转云台,所述旋转云台中设有可消除旋转云台转动时产生的振动力的振动力消除单元,可测量标定板与镜头光轴之间的夹角值大小,从而获得CMOS与镜头光轴的夹角大小值,保证了成像清晰度,便于快速调节确定夹角大小,保证了成像画面的清晰度,且旋转云台可稳定平稳旋转,不会出现动力机构工作时振动而引起旋转云台振动的现象。

    3D轮廓测量仪中CMOS与光轴夹角的测量装置和方法

    公开(公告)号:CN112033308B

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202010840572.6

    申请日:2020-08-20

    IPC分类号: G01B11/26 G01B11/24

    摘要: 本发明公开了一种3D轮廓测量仪中CMOS与光轴夹角的测量装置和方法,包括:移动装置,所述移动装置包括可带动CMOS、镜头夹具、标定板沿着滑轨长度方向移动并带有磁读表以读出CMOS、镜头夹具、标定板位于滑轨上位置的滑块,还包括:转动装置,所述转动装置包括可带动CMOS和标定板转动的旋转云台,所述旋转云台中设有可消除旋转云台转动时产生的振动力的振动力消除单元,可测量标定板与镜头光轴之间的夹角值大小,从而获得CMOS与镜头光轴的夹角大小值,保证了成像清晰度,便于快速调节确定夹角大小,保证了成像画面的清晰度,且旋转云台可稳定平稳旋转,不会出现动力机构工作时振动而引起旋转云台振动的现象。

    一种浸没式高精度测量系统

    公开(公告)号:CN111929240A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN202010739464.X

    申请日:2020-07-28

    IPC分类号: G01N21/01 G05D23/30

    摘要: 本发明公开了一种浸没式高精度测量系统,包括供图像传感器处于恒温状态的浸没液体腔体,浸没液体腔体中包括充满图像传感器外部的恒温介质,浸没液体腔体中的恒温介质能够将图像传感器控制在恒温的环境中,图像传感器的变形量得到很好的控制,从而得到高精度的检测装置,包括供浸没液体腔体内的恒温介质处于恒温状态的水循环腔体,水循环腔体中具有循环流动的换热介质,水循环腔体中的换热介质循环流动供浸没液体腔体中的恒温介质保持恒温状态,水循环腔体中循环流动的换热介质保证了浸没液体腔体中的恒温介质保持恒温状态。

    一种精密测距装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN110986848B

    公开(公告)日:2021-07-20

    申请号:CN201911326638.3

    申请日:2019-12-20

    IPC分类号: G01B21/04

    摘要: 本发明公开一种精密测距装置及其校准方法,该精密测距装置包括光学导轨及若干分布于光学导轨上的测距组件,光学导轨上安装有用于丈量长度待测距离的磁栅尺条,测距组件通过移动单元连接于光学导轨上,移动单元上固定安装有用于与磁栅尺条匹配的磁头,磁头与磁栅尺条进行配合,使得待测距离的读数在磁头中显示,测距组件包括多个测距元件,多个测距元件通过定位工件进行定位及校准,定位工件包括多个具有固定直径的圆形体,圆形体直径从定位工件的一端到另一端呈递增的趋势,本发明的精密测距装置能够提高测量精度,而且在使用前的校准工作中,能够提高定位精度。

    一种精密测距装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN110986848A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911326638.3

    申请日:2019-12-20

    IPC分类号: G01B21/04

    摘要: 本发明公开一种精密测距装置及其校准方法,该精密测距装置包括光学导轨及若干分布于光学导轨上的测距组件,光学导轨上安装有用于丈量长度待测距离的磁栅尺条,测距组件通过移动单元连接于光学导轨上,移动单元上固定安装有用于与磁栅尺条匹配的磁头,磁头与磁栅尺条进行配合,使得待测距离的读数在磁头中显示,测距组件包括多个测距元件,多个测距元件通过定位工件进行定位及校准,定位工件包括多个具有固定直径的圆形体,圆形体直径从定位工件的一端到另一端呈递增的趋势,本发明的精密测距装置能够提高测量精度,而且在使用前的校准工作中,能够提高定位精度。

    一种用于3D扫描仪的精度检测及标定的设备

    公开(公告)号:CN211085113U

    公开(公告)日:2020-07-24

    申请号:CN201922199002.9

    申请日:2019-12-10

    IPC分类号: G01B11/00 G01B11/24

    摘要: 本实用新型公开了一种用于3D扫描仪的精度检测及标定的设备,包括基座,所述基座上划分有精度测试区及标定区;在所述精度测试区中,基座通过第一调节机构安装有载物台,所述载物台中安装有标准量块,所述载物台通过所述第一调节机构调节横向及纵向的位移;在所述精度测试区中,基座还通过支架安装待检测精度的第一扫描仪;在所述标定区中,基座通过第二调节机构安装有待标定的第二扫描仪,所述第二扫描仪通过第二调节机构调节横向以及纵向的位移;在所述标定区中,基座还安装有用于对第二扫描仪进行标定的标定板,所述标定板通过六轴调节平台安装在所述标定区内。本实用新型能够将精度检测以及标定操作集成在一起,提高了设备的集成度。

    一种多物理场耦合的视觉系统

    公开(公告)号:CN212647239U

    公开(公告)日:2021-03-02

    申请号:CN202021593866.5

    申请日:2020-08-04

    IPC分类号: G03B17/02 G03B17/55 G03B17/56

    摘要: 本实用新型公开了一种多物理场耦合的视觉系统,包括捕捉一组物镜成像的红外高速相机与可见光高速相机,红外高速相机与物镜之间设有将物镜成像的光路系统增长的中继镜头与接收经过中继镜头的光路系统并将光路系统中可见光与红外光分离的分光镜,所述可见光高速相机与分光镜之间设有接收并反射分光镜中分离光路系统中可见光的反光镜,可将一组物镜成像使用两通道系统观察,得到不同物理场耦合,且各组件在矩形导向壳体中滑动,移动稳定,且便于调节,而矩形导向壳体中设有包覆在各组件外部给各组件充分散热的冷却腔,还包括整体支撑并具有膨胀系数低以减少对视觉系统影响的载体,稳定性强,而各组件均方便拆装和更换,适配不同的场景。

    一种新型沙姆定律验证及测量装置

    公开(公告)号:CN213209431U

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN202022028513.7

    申请日:2020-09-16

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本实用新型公开了一种新型沙姆定律验证及测量装置,包括:标定板、镜头夹具、相机下方均设置有带有磁栅并可在光学导轨滑动的滑块,提高读数精度,通过设置供标定板、相机转动的转台,转台包括外圈带有刻度的下圆形壳体及转动设置在下圆形壳体上并带有指向下圆形壳体上刻度的指针的上圆形壳体,转动中的下圆形壳体上即设有方便转台在转动时读数的刻度,精度较高,通过在下圆形壳体的一侧设有可实现上圆形壳体在下圆形壳体上表面平行转动并固定的调节机构,解决了调节转台后固定转台时转台容易偏移的问题,随调随固定,且通过转台一侧的扭环控制调节,代替了手持转台表面调节容易遮挡刻度的方式。

    一种基于激光检测的测量机构

    公开(公告)号:CN211855238U

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202020754577.2

    申请日:2020-05-09

    IPC分类号: G01B11/24

    摘要: 本实用新型公开一种基于激光检测的测量机构,包括动态平台,所述动态平台的上表面设有检测目标,所述动态平台上还固定安装有激光轮廓仪以及姿态传感器,其中,所述姿态传感器通过安装盒固定安装在所述激光轮廓仪的侧部,所述激光轮廓仪与所述姿态传感器的信号输出端分别与主控芯片连接。本实用新型采用在激光轮廓仪的侧部安装姿态传感器,通过姿态传感器检测到的被测物体三维状态,解决了在测量运动目标时产生的相对误差,导致测量精度无法保证的问题。

    一种超大景深快速检测系统

    公开(公告)号:CN214174623U

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202021913510.5

    申请日:2020-09-04

    摘要: 本实用新型公开了一种超大景深快速检测系统,包括:测高装置,所述测高装置包括设置于工业相机一侧并接收与工业相机同轴光路的测距仪,还包括对焦装置,所述对焦装置包括可保持温度与系统所处环境温度一致并接收高被测物体和矮被测物体产生的光路的调焦镜片,在调焦镜片对焦之后将光路通过同轴光路传递至工业相机和测距仪,通过在工业相机一侧设置接收与工业相机同轴光路的测距仪,完成了准确快速的测定物距,而根据快速测定的物距可快速一次性完整对焦操作,实现高速,超大景深的测试,测定物距时的光路和工业相机拍摄的光路同轴,了避免避免误操作。