公开(公告)号：CN110516376B

公开(公告)日：2023-03-24

申请号：CN201910809767.1

申请日：2019-08-29

申请人： 合肥工业大学

发明人： 梁华国 ,  应健锋 ,  陈鑫 ,  蒋翠云 ,  李丹青 ,  左小寒 ,  易茂祥 ,  黄正峰

IPC分类号： G06F30/398 ,  G06N20/20 ,  G06N5/01

摘要： 本发明公开了一种基于随机森林模型的集成电路X值灵敏度预测方法，其步骤包括：1对电路原始网表进行综合生成电路门级网表；2通过电路门级网表计算每个逻辑门的等级和深度；3根据每个输入端口为X值时的不同拓扑结构对电路进行区域划分；4根据不同区域的重要性提取电路在不同输入端口为X值时的结构特征；5通过ATPG工具计算不同输入端口为X值时的测试覆盖率损失，并结合提取的结构特征形成样本数据集合；6通过随机森林模型对样本数据集合进行训练和预测。本发明能快速准确地预测电路中不同输入端口为X值时造成的测试覆盖率损失从而达到降低电路设计防护X值模块时的硬件开销，提升电路测试质量的目的。

公开(公告)号：CN110491850A

公开(公告)日：2019-11-22

申请号：CN201910809561.9

申请日：2019-08-29

申请人： 合肥工业大学

发明人： 梁华国 ,  左小寒 ,  王鑫宇 ,  倪天明 ,  蒋翠云 ,  应健锋 ,  易茂祥 ,  黄正峰

IPC分类号： H01L23/48 ,  G06F17/50

摘要： 本发明公开了一种基于间隔分组的TSV故障容错方法，其步骤包括：1使用正方形将网格阵列中TSV按位置分为若干TSV组；2为每个TSV组确定冗余、信号TSV，并配备数据选择器；3构建TSV组中双向环链式结构；4确定TSV组中一阶信号TSV并将对应逻辑信号连接至冗余TSV；5将TSV分区并构建单向环链式结构。本发明能够以较小的硬件开销、较低的延时为代价，在TSV发生均匀及聚簇故障下，均达到高修复率。

公开(公告)号：CN110491850B

公开(公告)日：2020-11-27

申请号：CN201910809561.9

申请日：2019-08-29

申请人： 合肥工业大学

发明人： 梁华国 ,  左小寒 ,  王鑫宇 ,  倪天明 ,  蒋翠云 ,  应健锋 ,  易茂祥 ,  黄正峰

IPC分类号： H01L23/48 ,  G06F30/398 ,  G06F117/02 ,  G06F115/06

摘要： 本发明公开了一种基于间隔分组的TSV故障容错方法，其步骤包括：1使用正方形将网格阵列中TSV按位置分为若干TSV组；2为每个TSV组确定冗余、信号TSV，并配备数据选择器；3构建TSV组中双向环链式结构；4确定TSV组中一阶信号TSV并将对应逻辑信号连接至冗余TSV；5将TSV分区并构建单向环链式结构。本发明能够以较小的硬件开销、较低的延时为代价，在TSV发生均匀及聚簇故障下，均达到高修复率。

公开(公告)号：CN110516376A

公开(公告)日：2019-11-29

申请号：CN201910809767.1

申请日：2019-08-29

申请人： 合肥工业大学

发明人： 梁华国 ,  应健锋 ,  陈鑫 ,  蒋翠云 ,  李丹青 ,  左小寒 ,  易茂祥 ,  黄正峰

IPC分类号： G06F17/50

摘要： 本发明公开了一种基于随机森林模型的集成电路X值灵敏度预测方法，其步骤包括：1对电路原始网表进行综合生成电路门级网表；2通过电路门级网表计算每个逻辑门的等级和深度；3根据每个输入端口为X值时的不同拓扑结构对电路进行区域划分；4根据不同区域的重要性提取电路在不同输入端口为X值时的结构特征；5通过ATPG工具计算不同输入端口为X值时的测试覆盖率损失，并结合提取的结构特征形成样本数据集合；6通过随机森林模型对样本数据集合进行训练和预测。本发明能快速准确地预测电路中不同输入端口为X值时造成的测试覆盖率损失从而达到降低电路设计防护X值模块时的硬件开销，提升电路测试质量的目的。