射线检查系统和射线检查方法

    公开(公告)号:CN106053499B

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201610576774.8

    申请日:2016-07-20

    IPC分类号: G01N23/18

    摘要: 本发明公开了一种射线检查系统,包括:门架;射线源,用于发出射线束,所述射线源位于所述门架上且能够在所述门架上移动;多个准直器,用于校准所述射线源发出的射线束以形成有效射线束,所述多个准直器与所述射线源分离设置并且分别独立安装在所述门架上;探测器,用于接收所述有效射线束并转换成输出信号,所述探测器设置在所述门架下方的地沟中;控制器,所述控制器与所述探测器和所述射线源连接;图像生成模块,用于接收所述探测器的输出信号以生成被检查对象的透射图像。

    射线检查系统和射线检查方法

    公开(公告)号:CN106053499A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610576774.8

    申请日:2016-07-20

    IPC分类号: G01N23/18

    CPC分类号: G01N23/18

    摘要: 本发明公开了一种射线检查系统,包括:门架;射线源,用于发出射线束,所述射线源位于所述门架上且能够在所述门架上移动;多个准直器,用于校准所述射线源发出的射线束以形成有效射线束,所述多个准直器与所述射线源分离设置并且分别独立安装在所述门架上;探测器,用于接收所述有效射线束并转换成输出信号,所述探测器设置在所述门架下方的地沟中;控制器,所述控制器与所述探测器和所述射线源连接;图像生成模块,用于接收所述探测器的输出信号以生成被检查对象的透射图像。

    辐射检查系统
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208547727U

    公开(公告)日:2019-02-26

    申请号:CN201821093950.3

    申请日:2018-07-11

    IPC分类号: G01V5/00

    摘要: 本实用新型涉及一种辐射检查系统,其包括:平台,顶部用于承载被检测物;框架,相对所述平台可移动,所述框架形成允许所述平台上承载的被检测物通过的通道;射线源,设于所述框架的顶部;底盘,可移动地设于所述平台的底部;以及底部探测器,设于所述底盘上,用于接收所述射线源发出的射线。本实用新型可以缩小辐射检查系统的占地面积,减小辐射防护区面积;可迅速组装并可快速开始扫描。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    射线检查系统
    7.
    实用新型

    公开(公告)号:CN205861580U

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201620769200.8

    申请日:2016-07-20

    IPC分类号: G01N23/18

    摘要: 本实用新型公开了一种射线检查系统,包括:门架;射线源,用于发出射线束,所述射线源位于所述门架上且能够在所述门架上移动;多个准直器,用于校准所述射线源发出的射线束以形成有效射线束,所述多个准直器与所述射线源分离设置并且分别独立安装在所述门架上;探测器,用于接收所述有效射线束并转换成输出信号,所述探测器设置在所述门架下方的地沟中;控制器,所述控制器与所述探测器和所述射线源连接;图像生成模块,用于接收所述探测器的输出信号以生成被检查对象的透射图像。