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公开(公告)号：CN105759303B
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201610188180.X
申请日：2013-04-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明提供一种半导体探测器，该半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极；所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面；所述阴极、所述阳极和所述阶梯电极都为沉积于所述半导体晶体表面的导电薄膜；所述阴极设于所述半导体晶体的所述底面上，所述阳极设于所述半导体晶体的所述顶面上，所述阶梯电极设于所述半导体晶体的至少一个侧面上；所述阶梯电极包括多个子电极。与现有技术相比，所述半导体探测器能够提高能量分辨率。
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公开(公告)号：CN103529060A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201210230078.3
申请日：2012-07-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01V5/0016 , F16M11/425 , G01N23/04
Abstract: 本发明公开一种用于组合移动式辐射检查系统的龙门结构，包括第一臂架、第二臂架和第三臂架。所述第一、第二和第三臂架限定用于让被检物品通过的扫描通道，所述用于组合移动式辐射检查系统的龙门结构还包括：位置传感装置，用于检测所述第一和第二臂架之间的位置误差；和控制器，用于根据所述传感装置检测到的位置误差控制第一和第二臂架中的至少一个的行走速度，使得所述第一和第二臂架之间的位置误差等于零。与现有技术相比，本发明的优点在于，在龙门臂架上提供了自动纠偏装置，能够有效防止龙门臂架受力变形，从而能够自动地将两侧的臂架之间的位置误差控制为零，使得辐射探测器能够接收到完整的射线，提高了成像质量。
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公开(公告)号：CN104345070B
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201310321325.5
申请日：2013-07-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01V5/0016 , G01V5/0075
Abstract: 应用于X/Gamma射线集装箱/车辆检查设备的散列排布探测器。本发明公开了一种探测器模块，该探测器模块被安装在探测器臂上，该探测器模块包括散列排布的一个或多个探测器单元，其中每个探测器模块中的每个探测器单元对准射线源的束流中心安装，在提高成像质量的同时大幅度减小探测器框架的尺寸。
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公开(公告)号：CN105676264A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610187826.2
申请日：2013-04-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/36
CPC classification number: G01T1/366
Abstract: 本发明提供一种半导体探测器，该半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极；所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面；所述阴极、所述阳极和所述阶梯电极都为沉积于所述半导体晶体表面的导电薄膜；所述阴极设于所述半导体晶体的所述底面上，所述阳极设于所述半导体晶体的所述顶面上，所述阶梯电极设于所述半导体晶体的至少一个侧面上；所述阶梯电极包括多个子电极。与现有技术相比，所述半导体探测器能够提高能量分辨率。
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公开(公告)号：CN103529060B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201210230078.3
申请日：2012-07-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01V5/0016 , F16M11/425 , G01N23/04
Abstract: 本发明公开一种用于组合移动式辐射检查系统的龙门结构，包括第一臂架、第二臂架和第三臂架。所述第一、第二和第三臂架限定用于让被检物品通过的扫描通道，所述用于组合移动式辐射检查系统的龙门结构还包括：位置传感装置，用于检测所述第一和第二臂架之间的位置误差；和控制器，用于根据所述传感装置检测到的位置误差控制第一和第二臂架中的至少一个的行走速度，使得所述第一和第二臂架之间的位置误差等于零。与现有技术相比，本发明的优点在于，在龙门臂架上提供了自动纠偏装置，能够有效防止龙门臂架受力变形，从而能够自动地将两侧的臂架之间的位置误差控制为零，使得辐射探测器能够接收到完整的射线，提高了成像质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104345070A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310321325.5
申请日：2013-07-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01V5/0016 , G01V5/0075
Abstract: 应用于X/Gamma射线集装箱/车辆检查设备的散列排布探测器。本发明公开了一种探测器模块，该探测器模块被安装在探测器臂上，该探测器模块包括散列排布的一个或多个探测器单元，其中每个探测器模块中的每个探测器单元对准射线源的束流中心安装，在提高成像质量的同时大幅度减小探测器框架的尺寸。
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公开(公告)号：CN102235984B
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201010171503.7
申请日：2010-05-07
Applicant: 北京固鸿科技有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 一种工业CT的触发装置、扫描系统及触发、扫描方法；所述触发装置包括一组位置传感器；在扫描中将运动的自由度的传动末端上至少各安装一个对应于该自由度的位置传感器；存储模块，用于保存一组触发条件；其中，一个所述触发条件为所述一组位置传感器中全部或部分的输出量；控制模块，用于将所述一组位置传感器中全部或部分的输出量与各触发条件进行比较；当所述输出量与至少一个触发条件匹配时启动所述使能模块；使能模块，用于在每次启动时发送触发信号。本发明可以使扫描过程不受机械装置的传动误差和运动速度的影响，提高重建的三维影像的准确度。
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公开(公告)号：CN103235332A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201310149397.6
申请日：2013-04-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明提供一种半导体探测器，该半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极；所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面；所述阴极、所述阳极和所述阶梯电极都为沉积于所述半导体晶体表面的导电薄膜；所述阴极设于所述半导体晶体的所述底面上，所述阳极设于所述半导体晶体的所述顶面上，所述阶梯电极设于所述半导体晶体的至少一个侧面上；所述阶梯电极包括多个子电极。与现有技术相比，所述半导体探测器能够提高能量分辨率。
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公开(公告)号：CN105759303A
公开(公告)日：2016-07-13
申请号：CN201610188180.X
申请日：2013-04-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/36
CPC classification number: G01T1/366
Abstract: 本发明提供一种半导体探测器，该半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极；所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面；所述阴极、所述阳极和所述阶梯电极都为沉积于所述半导体晶体表面的导电薄膜；所述阴极设于所述半导体晶体的所述底面上，所述阳极设于所述半导体晶体的所述顶面上，所述阶梯电极设于所述半导体晶体的至少一个侧面上；所述阶梯电极包括多个子电极。与现有技术相比，所述半导体探测器能够提高能量分辨率。
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公开(公告)号：CN102235984A
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201010171503.7
申请日：2010-05-07
Applicant: 北京固鸿科技有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 一种工业CT的触发装置、扫描系统及触发、扫描方法；所述触发装置包括一组位置传感器；在扫描中将运动的自由度的传动末端上至少各安装一个对应于该自由度的位置传感器；存储模块，用于保存一组触发条件；其中，一个所述触发条件为所述一组位置传感器中全部或部分的输出量；控制模块，用于将所述一组位置传感器中全部或部分的输出量与各触发条件进行比较；当所述输出量与至少一个触发条件匹配时启动所述使能模块；使能模块，用于在每次启动时发送触发信号。本发明可以使扫描过程不受机械装置的传动误差和运动速度的影响，提高重建的三维影像的准确度。
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