一种管道表面及亚表面缺陷的采集装置、检测装置、检测方法

    公开(公告)号:CN115165888B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202210574563.6

    申请日:2022-05-25

    摘要: 一种管道表面及亚表面缺陷的采集装置、检测装置、检测方法,涉及管道表面及亚表面缺陷的无损检测领域。解决了现有红外检测方法造成光纤、电缆缠绕造成检测工作效率低下的问题。所述方法包括:将所述采集装置放入待测管道内部;通过控制采集装置中的驱动机构,带动采集装置沿待测管道轴线做匀速运动;在运动过程中,半导体激光器发射激光信号,所述激光信号经第二90°锥形反射镜反射,在待测管道内表面形成环形光斑,所述环形光斑为热源;红外相机采集经第一90°锥形反射镜反射的待测管道内壁的环形红外图像序列;根据所述环形红外图像序列,获得缺陷信息。本发明适用于异形孔管道内部表面及亚表面缺陷的检测与定位。

    涡流诱导的增材裂纹光热成像与靶向修复装置及方法

    公开(公告)号:CN117483817B

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202311294720.9

    申请日:2023-10-09

    摘要: 本发明涉及涡流诱导的增材裂纹光热成像与靶向修复装置及方法,属于无损检测与损伤修复技术领域。解决增材制造过程微裂纹在线原位快速无损检测及小型化需求的问题。包括计算机、制冷器、涡流电源、气体环境密闭箱、涡流发生器、红外热像仪、编码调节器、数据采集卡和基板,基板的上方设置有涡流发生器的涡流线圈和红外热像仪,基板上放置增材制件,涡流发生器与制冷器连接,计算机与红外热像仪连接,计算机通过数据采集卡、编码调节器、涡流电源与涡流发生器连接,红外热像仪与数据采集卡连接。将低功率编码涡流与高功率编码涡流相互配合,实现裂纹缺陷靶向修复,满足增材制造过程微裂纹在线快速无损检测及小型化的需求。

    一种半导体材料掺杂浓度与电阻率的测量方法及装置

    公开(公告)号:CN118376606A

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202410422575.6

    申请日:2024-04-09

    IPC分类号: G01N21/63 G01N21/01

    摘要: 本申请提出了一种半导体材料掺杂浓度与电阻率的测量方法,包括:调节两台激光器使激光器产生的激光光斑完全覆盖样件,调节分光片使单点近红外探测器探测到激光;控制两台激光器输出强度调制激光激励样件产生载流子辐射发光信号,并采集调制激光的光强幅值I0、样件产生的载流子辐射发光信号的幅值AmI和样件产生的载流子辐射发光信号的相位Ph I;并利用公式计算掺杂浓度ND及各像素点电阻率ρ。解决目前半导体材料电阻率测量存在成像检测效率低、易损伤材料表面、横向分辨率不高等问题,提供一种半导体材料掺杂浓度与电阻率的非接触光学成像测量方法与装置。

    涡流诱导的增材裂纹光热成像与靶向修复装置及方法

    公开(公告)号:CN117483817A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311294720.9

    申请日:2023-10-09

    摘要: 本发明涉及涡流诱导的增材裂纹光热成像与靶向修复装置及方法,属于无损检测与损伤修复技术领域。解决增材制造过程微裂纹在线原位快速无损检测及小型化需求的问题。包括计算机、制冷器、涡流电源、气体环境密闭箱、涡流发生器、红外热像仪、编码调节器、数据采集卡和基板,基板的上方设置有涡流发生器的涡流线圈和红外热像仪,基板上放置增材制件,涡流发生器与制冷器连接,计算机与红外热像仪连接,计算机通过数据采集卡、编码调节器、涡流电源与涡流发生器连接,红外热像仪与数据采集卡连接。将低功率编码涡流与高功率编码涡流相互配合,实现裂纹缺陷靶向修复,满足增材制造过程微裂纹在线快速无损检测及小型化的需求。