一种LBT设备的信道接入机制的测试系统和方法

    公开(公告)号:CN112188516A

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN202010889190.2

    申请日:2020-08-28

    IPC分类号: H04W24/02 H04W74/00

    摘要: 本发明提供了一种LBT设备的信道接入机制的测试系统和方法。该系统包括:被测LBT设备;配对设备,与被测LBT设备通信连接,配置为与被测LBT设备进行信号传输;功率分配装置,连接在被测LBT设备和配对设备之间;以及频谱分析装置,与功率分配装置连接;其中,功率分配装置将从被测LBT设备一侧输入至功率分配装置的信号分配给频谱分析装置和配对设备,或将从配对设备一侧输入至功率分配装置的信号分配给频谱分析装置和被测LBT设备;频谱分析装置采集被测LBT设备与配对设备之间传输的信号,分析所采集的信号的时域波形得到被测LBT设备的信道接入性能参数,根据信道接入性能参数对被测LBT设备的信道接入机制进行评价。实现对LBT设备的信道接入机制的通用测试。

    基于PXI总线构架的射频测试单元

    公开(公告)号:CN103368667A

    公开(公告)日:2013-10-23

    申请号:CN201210516105.3

    申请日:2012-12-06

    IPC分类号: H04B17/00

    摘要: 一种基于PXI总线构架的射频测试单元,主要包括一个嵌入式图形控制处理器S3C2440、PXI总线、6级同轴开关、第一高通滤波器、第二高通滤波器、低通滤波器、第一陷波器、第二陷波器、第三陷波器、第一放大器和第二放大器组成,该PXI总线构架的射频测试单元克服了在射频终端设备进行测试过程中,不同测试项目需要不同信号处理路径的问题,可将所有核准辐射骚扰及辐射杂散指标的测试链路进行系统集成,避免了手动测试带来的误差,提高了测试准确度和测试效率。

    一种天线罩的最佳厚度的测量方法和系统

    公开(公告)号:CN113721081B

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202111137719.6

    申请日:2021-09-27

    IPC分类号: G01R27/26 G01N27/22

    摘要: 本发明提供了一种天线罩的最佳厚度的测量方法和系统。该方法包括:以搭建的介电常数测量系统通过自由空间法测量天线罩的材料样品的相对介电常数,其中,介电常数测量系统包括相对的发射天线和接收天线、分别与发射天线和接收天线连接的网络分析仪、以及用于在发射天线和接收天线之间放置和调节待测样品的夹具;根据材料样品的相对介电常数和预推导出的材料传输损耗公式,计算得到材料样品的传输损耗与厚度的曲线;根据材料样品的传输损耗与厚度的曲线确定天线罩的最佳厚度。本发明不依赖于场地环境即可快速、高精度地测量出天线罩的最佳厚度,且无需天线罩厂家提供多个样本,避免了使用试错的方法来进行最佳厚度的测量,降低了测量成本。

    一种OTA测试暗室
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113156224A

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN202110351932.0

    申请日:2021-03-31

    IPC分类号: G01R29/10

    摘要: 本发明提供了一种OTA测试暗室,包括:屏蔽壳体,屏蔽壳体限定暗室的内部空间;吸波材料,设置在屏蔽壳体的内墙面上;反射面,设置在暗室的内部空间的长度方向的第一端;平面波发生器,设置在内部空间的与第一端相对的第二端;转台,设置在内部空间内且位于反射面与平面波发生器之间,配置为安装待测对象;以及馈源,设置在内部空间内且位于反射面与转台之间。通过设置反射面和馈源形成紧缩场系统,设置平面波发生器形成平面波系统,并且可通过利用平面波发生器的单探头或替换的其他探头形成近场系统,平面波系统和紧缩场系统共用转台,从而实现了近场、紧缩场和平面波系统的三合一,在支持宽频和较大静区的前提下降低了暗室的成本和占用面积。