基于轮廓斜度的表面粗糙度表征方法在绝缘领域的应用

    公开(公告)号:CN116168786B

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202310203801.7

    申请日:2023-03-06

    摘要: 本发明公开了一种基于轮廓斜度的表面粗糙度表征方法在绝缘领域的应用,属于表面粗糙度表征技术领域,采用固体表面轮廓斜率绝对值的算术平均值表征其表面粗糙度,称为轮廓斜度算术平均偏差,用参数Rk表示。计算Rk仅需获得固体材料的表面轮廓,因此现有的任意表面粗糙度测试仪都能用于测量和计算Rk,方便实用,不会增加成本。此外,轮廓斜度算术平均偏差Rk相比现有的表面粗糙度参数,可以较好的反映固体材料表面微观结构,适合在研究表面接触角、沿面闪络、二次电子发射等与材料表面微观结构紧密相关的表界面现象中选用,有利于推动表界面物理、沿面绝缘等相关领域的理论发展与实际应用。