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公开(公告)号：CN105629148B
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201410586635.4
申请日：2014-10-28
申请人： 国际商业机器公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31703 , G01R31/31707 , G01R31/3172 , G01R31/3177 , G01R31/318563 , G01R31/3193
摘要： 本发明公开了一种用于测试电路中的多个模块的测试设备和测试方法，所述多个模块具有相同的结构。所述测试设备包括：比较装置，被配置为收集通过将激励信号并行施加于所述多个模块而由所述多个模块产生的输出响应，比较所述多个模块的输出响应以确定所述多个模块的输出响应是否相同，并且输出指示该比较装置的比较结果的信号；以及确定装置，被配置为接收所述信号，并且根据该比较装置的比较结果来确定所述多个模块是否具有缺陷。利用所述测试设备和测试方法，可以简化对于所述多个具有相同结构的模块的测试过程，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN105445641B
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201410303072.3
申请日：2014-06-30
申请人： 国际商业机器公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了用于扫描链诊断的方法和装置。一种用于扫描链诊断的方法，包括：获取扫描链的初始结构；根据扫描寄存器所对应的功能模块，确定至少一个具有反向依赖关系的扫描寄存器对；针对所确定的至少一个具有反向依赖关系的扫描寄存器对，根据所对应的功能模块的功能，确定所述反向依赖关系的类型；和根据所述反向依赖关系的类型，选择性地在所述具有反向依赖关系的扫描寄存器对中的至少一个扫描寄存器的输入端和输出端插入反相器。采用根据本发明实施例的技术方案，可以对扫描链本身的故障进行诊断。
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公开(公告)号：CN105445641A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410303072.3
申请日：2014-06-30
申请人： 国际商业机器公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了用于扫描链诊断的方法和装置。一种用于扫描链诊断的方法，包括：获取扫描链的初始结构；根据扫描寄存器所对应的功能模块，确定至少一个具有反向依赖关系的扫描寄存器对；针对所确定的至少一个具有反向依赖关系的扫描寄存器对，根据所对应的功能模块的功能，确定所述反向依赖关系的类型；和根据所述反向依赖关系的类型，选择性地在所述具有反向依赖关系的扫描寄存器对中的至少一个扫描寄存器的输入端和输出端插入反相器。采用根据本发明实施例的技术方案，可以对扫描链本身的故障进行诊断。
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公开(公告)号：CN105572573B
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201410599243.1
申请日：2014-10-30
申请人： 国际商业机器公司
IPC分类号： G01R31/3177
CPC分类号： G01R31/3177 , G11C29/32 , G11C2029/3202
摘要： 本发明公开了一种构建用于存储器时序测试的扫描链的方法，包括：确定存储器的输入边界寄存器，根据所述输入边界寄存器所连接到的存储器输入引脚的类型，确定所需的测试向量的数目N；基于所述数目N，布置扫描链，使得在所述扫描链中，在所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器，存在至少(N‑1)个连续的非边界寄存器；以及设置输入边界寄存器以及(N‑1)个非边界寄存器的控制信号，使其在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。还公开了如此构建的扫描链，以及相应的装置。由此，优化了测试向量的产生和加载过程，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN105629148A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410586635.4
申请日：2014-10-28
申请人： 国际商业机器公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31703 , G01R31/31707 , G01R31/3172 , G01R31/3177 , G01R31/318563 , G01R31/3193
摘要： 本发明公开了一种用于测试电路中的多个模块的测试设备和测试方法，所述多个模块具有相同的结构。所述测试设备包括：比较装置，被配置为收集通过将激励信号并行施加于所述多个模块而由所述多个模块产生的输出响应，比较所述多个模块的输出响应以确定所述多个模块的输出响应是否相同，并且输出指示该比较装置的比较结果的信号；以及确定装置，被配置为接收所述信号，并且根据该比较装置的比较结果来确定所述多个模块是否具有缺陷。利用所述测试设备和测试方法，可以简化对于所述多个具有相同结构的模块的测试过程，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN105572573A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201410599243.1
申请日：2014-10-30
申请人： 国际商业机器公司
IPC分类号： G01R31/3177
CPC分类号： G01R31/3177 , G11C29/32 , G11C2029/3202
摘要： 本发明公开了一种构建用于存储器时序测试的扫描链的方法，包括：确定存储器的输入边界寄存器，根据所述输入边界寄存器所连接到的存储器输入引脚的类型，确定所需的测试向量的数目N；基于所述数目N，布置扫描链，使得在所述扫描链中，在所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器，存在至少(N-1)个连续的非边界寄存器；以及设置输入边界寄存器以及(N-1)个非边界寄存器的控制信号，使其在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。还公开了如此构建的扫描链，以及相应的装置。由此，优化了测试向量的产生和加载过程，提高了测试效率。
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