一种基于太赫兹时域光谱的皮肤屏障破损检测系统

    公开(公告)号:CN117883047A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410059374.4

    申请日:2024-01-16

    摘要: 本发明涉及医学检测技术领域,公开了一种基于太赫兹时域光谱的皮肤屏障破损检测系统,包括发射器、接收器、控制模块和显示模块;发射器发射太赫兹脉冲信号,与皮肤作用产生反射信号,接收器接收反射信号,控制模块控制检测系统运行,根据反射信号获得皮肤屏障破损分析结果,显示模块显示分析结果。本发明基于太赫兹时域光谱的皮肤屏障破损检测系统是一种高效、准确且用户友好的皮肤健康监测工具,通过太赫兹时域光谱技术,可以无创、快速、准确地检测皮肤屏障破损,提高检测的准确性和效率。

    一种基于太赫兹检测的涂层分层厚度测量方法

    公开(公告)号:CN118797446A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202411259903.1

    申请日:2024-09-10

    摘要: 本发明是一种基于太赫兹检测的涂层分层厚度测量方法,涉及太赫兹波技术领域,包括以下步骤:实验样品准备;太赫兹信号预处理;提取时频域特征;采用核主成分分析进行降维;对数据集进行划分和均值归一化处理;分类器训练;训练支持向量机分类模型;层数判定;厚度测量。本发明通过预先对涂层样品进行分层处理,为后续厚度测量提供准确的模型构建依据;通过精确的太赫兹信号预处理和特征提取,提高测量精度;利用核主成分分析进行降维,优化计算效率和分类器性能;采用改进型麻雀搜索算法对支持向量机进行优化,提高分类器的分类准确率;结合广义的Rouard方法和色散衰减改进的遗传算法,准确计算了各层的厚度,保证测量的准确性和可靠性。

    一种基于太赫兹的涂层厚度检测方法及系统

    公开(公告)号:CN118089558B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202311407515.9

    申请日:2023-10-27

    IPC分类号: G01B11/06 G01B11/00 G01B11/02

    摘要: 本发明涉及厚度检测技术领域,公开了一种基于太赫兹的涂层厚度检测方法及系统,该方法包括:建立机器人基座坐标系,标定法兰盘中心点映射关系;平面法标定激光测距传感器与法兰坐标系映射;利用太赫兹标定板确定激光测距传感器的检测距离;进行被测物检测和建模数据获取;控制机器人定位、采集局部平面数据,并与被测物法向量比对,自动调整机器人;根据角度差值判断是否调整机器人位置;采集环境信息并校正测量距离,测量距离与检测距离比对获得最终测量距离;最后根据最终测量距离进行太赫兹时域光谱测量。本发明具备自动化、高精度、非接触等优势,提高了涂层厚度测量的精度和自动化程度,减少操作人员技术依赖。

    基于太赫兹的多层膜厚测量方法及可读存储介质

    公开(公告)号:CN114964014B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202210566605.1

    申请日:2022-05-23

    IPC分类号: G01B11/06

    摘要: 本发明提供了一种基于太赫兹的多层膜厚测量方法及可读存储介质,属于镀膜厚度检测的技术领域,解决了现有技术在对较薄的多层镀膜进行测厚时存在运算速度较慢、测量效率较低的问题。一种基于太赫兹的多层膜厚测量方法,包括:获取数据的时域信号;调整窗滤波器的窗范围,得到最优窗滤波器;利用最优窗滤波器对数据的时域信号进行窗滤波,得到滤波后的时域信号;对滤波后的时域信号进行傅里叶变换,得到数据的频谱信号;判断最优窗滤波器是否移动到时域信号结束位置;若否,则最优窗滤波器移动到下一个驻点位置,返回利用最优窗滤波器对数据的时域信号进行窗滤波,得到滤波后的时域信号的步骤。

    一种基于双色场相位锁定的太赫兹场产生方法

    公开(公告)号:CN117452675A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311626248.4

    申请日:2023-11-30

    IPC分类号: G02F1/01 G02B27/09

    摘要: 本发明涉及光电子的太赫兹脉冲产生技术领域,公开了一种基于双色场相位锁定的太赫兹场产生方法,包括:通过光学系统搭建,使用扩束镜组对光路中的条纹光斑进行放大。获取放大后的光斑频率图和相位图,提取其周期频率点。分析周期频率点的相位变化信息,与预期相位变化阈值对比,判断是否需要对压电陶瓷位置进行调整。若相位变化信息在阈值范围内,认定不需调整;反之,则对压电陶瓷位置进行调整移动。这一过程通过对光场相位进行精确控制,提高脉冲的稳定性的同时,简化整体结构,降低太赫兹磁场产生的成本。

    基于太赫兹的膜厚测量方法及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN115014212A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202210553848.1

    申请日:2022-05-20

    IPC分类号: G01B11/06

    摘要: 本发明提供了一种基于太赫兹的膜厚测量方法及计算机可读存储介质,属于镀膜厚度检测的技术领域,解决了现有技术在对较薄镀膜进行测厚时存在测量困难的问题。一种基于太赫兹的膜厚测量方法,包括:获取测量数据的时域信号;对测量数据的时域信号进行傅里叶变换,得到测量数据的频谱图;判断测量数据的频谱图中是否存在两个以上波峰或波谷;若是,则获取频谱图中相邻两个波峰或波谷之间的频域间隔;根据频域间隔,计算厚度值。

    利用光泵浦太赫兹探测表征氮化镓载流子迁移率的方法

    公开(公告)号:CN118777253A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202411283932.1

    申请日:2024-09-13

    IPC分类号: G01N21/3586

    摘要: 本发明是一种利用光泵浦太赫兹探测表征氮化镓载流子迁移率的方法,涉及太赫兹信号探测技术领域,包括以下步骤:选择合适尺寸和质量的氮化镓材料作为待测试样品;搭建光泵浦太赫兹探测系统;对待测试的样品进行探测,太赫兹探测装置探测到的信号传输至数据处理系统进行处理和分析,计算得到氮化镓材料中的载流子迁移率和光电导率;缺陷评估,根据得到的氮化镓材料载流子迁移率和光电导率,结合已知的氮化镓材料性能参数和缺陷对性能的影响规律,间接评估氮化镓材料中的缺陷情况。本发明可以高精度地获取载流子迁移率和光电导率的数据,更准确地反映材料内部的电学性质,进而更精确地评估氮化镓材料中的缺陷情况。

    基于太赫兹的膜厚测量方法及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN115014212B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202210553848.1

    申请日:2022-05-20

    IPC分类号: G01B11/06

    摘要: 本发明提供了一种基于太赫兹的膜厚测量方法及计算机可读存储介质,属于镀膜厚度检测的技术领域,解决了现有技术在对较薄镀膜进行测厚时存在测量困难的问题。一种基于太赫兹的膜厚测量方法,包括:获取测量数据的时域信号;对测量数据的时域信号进行傅里叶变换,得到测量数据的频谱图;判断测量数据的频谱图中是否存在两个以上波峰或波谷;若是,则获取频谱图中相邻两个波峰或波谷之间的频域间隔;根据频域间隔,计算厚度值。