一种X射线荧光光谱仪及中草药重金属快速检测方法

    公开(公告)号:CN114324434A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202210249909.5

    申请日:2022-03-15

    IPC分类号: G01N23/223

    摘要: 本发明设计X光检测技术领域,具体是X射线荧光光谱仪及中草药重金属快速检测方法,单波长激发能量色散X射线荧光光谱仪(HS‑XRF),采用了全聚焦型双曲面弯晶,对X射线管出射谱进行单色化聚焦入射到样品,从而大幅降低散射线背景,降低了待测元素检出限1‑2个数量级;快速基本参数法(Fast FP)利用基本参数库与先进数学模型,解决XRF多种基体元素间干扰效应等所带来的不确定性与分析误差,减少对标准品的依赖性,达到对各类中草药样品进行重金属定量分析的目标;可以完成中草药材中重金属快速检测的目的,填补当前中草药材多种重金属快速检测的市场空白,满足中草药材种植、流通、加工、质检等各个环节对重金属质量安全快速检测的需求。

    一种基于X射线荧光光谱的食品重金属检测装置和方法

    公开(公告)号:CN115047019A

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202210983734.0

    申请日:2022-08-17

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明公开了一种基于X射线荧光光谱的食品重金属检测装置和方法,属于重金属检测设备技术领域,碎料组件位于动力装置的上端,通过碎料组件将食品破碎成粉末颗粒并加热干燥。动力装置的下端与传动检测组件相连,传动检测组件与挤压成型装置传动连接,动力装置在带动碎料组件的同时通过传动检测组件带动挤压成型装置运行,碎料组件释放需要检测的物料,而动力装置同时与碎料组件以及传动检测组件通过传动连接,由此挤压成型装置将物料做成压片通过照射X光线获得光谱,从而分析物料重金属是否超标。本发明设计合理,显著加快物料前处理的效率,可快速批量进行检测,解决了现有技术中由于食品重金属检测步骤繁琐而导致的检测效率低,周期长的问题。

    一种基于X射线荧光光谱的食品重金属检测装置和方法

    公开(公告)号:CN115047019B

    公开(公告)日:2022-11-15

    申请号:CN202210983734.0

    申请日:2022-08-17

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明公开了一种基于X射线荧光光谱的食品重金属检测装置和方法,属于重金属检测设备技术领域,碎料组件位于动力装置的上端,通过碎料组件将食品破碎成粉末颗粒并加热干燥。动力装置的下端与传动检测组件相连,传动检测组件与挤压成型装置传动连接,动力装置在带动碎料组件的同时通过传动检测组件带动挤压成型装置运行,碎料组件释放需要检测的物料,而动力装置同时与碎料组件以及传动检测组件通过传动连接,由此挤压成型装置将物料做成压片通过照射X光线获得光谱,从而分析物料重金属是否超标。本发明设计合理,显著加快物料前处理的效率,可快速批量进行检测,解决了现有技术中由于食品重金属检测步骤繁琐而导致的检测效率低,周期长的问题。

    一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法

    公开(公告)号:CN117949482A

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202211279863.8

    申请日:2022-10-19

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明提供一种磷酸铁锂中锂含量的测定方法,其包括以下步骤:步骤1.将磷酸铁锂粉末压制成压片样品;步骤2.使用X射线荧光光谱仪测定压片样品中氧、磷、铁的含量;步骤3.依据磷的含量推导出五氧化二磷的含量,依据铁的含量推导出三氧化二铁的含量;步骤4.依据氧元素的含量、五氧化二磷的氧含量及三氧化二铁的氧含量,推导氧化锂中的氧含量,进而得到氧化锂中的锂含量。本发明能够简便快速测出磷酸铁锂中的锂含量。

    一种漏液检测报警装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115683477A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202110860436.8

    申请日:2021-07-22

    IPC分类号: G01M3/20

    摘要: 本申请提供一种漏液检测报警装置,其包括进样头、薄膜组件、泄漏管及压力变送器。进样头设有输入通道、输出通道及进样口;薄膜组件设有样品膜及防护膜,样品膜暴露于进样口的一侧。薄膜组件在样品膜及防护膜之间形成密封的空腔及与空腔连通的凹槽,凹槽与泄漏通道的连通。泄漏管安装在进样头的一侧,泄漏管一端与泄漏通道连通,另一端与压力变送器连接。本申请漏液检测报警装置在薄膜组件的样品膜破损时,液体样品会穿过样品膜流入泄漏通道,压力变送器接收到信号并输出报警信号,提醒用户样品膜已破损,需要及时更换薄膜组件。

    一种基于线性光采样的超短脉冲光信号采样方法及系统

    公开(公告)号:CN117639913A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311458137.7

    申请日:2023-11-05

    IPC分类号: H04B10/075 H04B10/25

    摘要: 本申请实施例提供了一种基于线性光采样的超短脉冲光信号采样方法及系统。将超短脉冲光信号通过色散光纤,使超短脉冲光信号发生展宽,生成展宽脉冲光信号;将展宽脉冲光信号和采样脉冲信号输入光学混频器;将光学混频器的输出接入两个光电探测器,经由两个光电探测器生成第一电信号和第二电信号;将第一电信号和第二电信号输入模数转换器,生成数字信号;对数字信号进行峰值提取,并将数字信号恢复为原始的超短脉冲光信号。上述方案通过将待测超短脉冲光信号经过色散光纤,产生较大展宽,对展宽脉冲光信号进行采集,通过数字信号处理技术进行复原,恢复原始的超短脉冲光信号。由此,实现了有效采样,降低模数转换器的带宽,减少系统成本。

    一种碳化硅中物质含量的测定方法

    公开(公告)号:CN117949481A

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202211279848.3

    申请日:2022-10-19

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明提供一种碳化硅中物质含量的测定方法,包括以下步骤:步骤1.去除碳化硅样品中的游离碳并测定游离碳的含量;步骤2.将剩余的碳化硅样品进行压片处理,使用X射线荧光光谱仪测定样品中碳、铁、铝、钙、镁、氧、硅元素的含量;步骤3.依据碳含量计算碳化硅含量;依据铁、铝、钙、镁的含量分别计算三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙及氧化镁的含量;步骤4.依据氧元素的含量与三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙及氧化镁中的氧含量之和的差值计算二氧化硅的含量;步骤5.依据硅元素含量与二氧化硅中的硅含量的差值计算游离硅的含量。本发明碳化硅中物质含量的测定方法,能够简便快速测出碳化硅中的物质含量,且无需使用强酸强碱试剂。

    X射线分析仪及其样品放置装置

    公开(公告)号:CN218824013U

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202222290374.4

    申请日:2022-08-30

    IPC分类号: G01N23/04

    摘要: 本申请涉及一种X射线分析仪及其样品放置装置,样品放置装置包括底座、上盖及密封圈,上盖盖合在底座上,底座设有样品座,上盖设有样品盖,样品盖与样品座共同形成容纳样品的样品腔,密封圈密封连接样品盖及样品座,样品盖为浮动设置,并且上盖设有若干朝向样品座抵推样品盖的弹性件。本申请X射线分析仪的样品放置装置中,其样品盖通过自重及弹性件的弹力可调整位置,使样品盖通过密封圈与样品座能够紧密接触,确保样品腔处于良好密封的状态。

    X射线荧光分析仪及其侧向进样装置

    公开(公告)号:CN218239891U

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202222341341.8

    申请日:2022-09-04

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2204

    摘要: 本实用新型提供一种X射线荧光分析仪及其侧向进样装置,该侧向进样装置包括:样品架,能够上下移动并设有托架;样品组,放置在托架上;定位件,位于样品架的一侧,定位件在样品组到达检测位置高度时托住样品组;抵推组件,位于样品架的相对一侧,样品架在其与样品组分离后的下移过程中推动抵推组件,抵推组件推动样品组横向移动。本实用新型X射线荧光分析仪及其侧向进样装置设有抵推组件,抵推组件在样品架的驱动下推动样品组横向移动,使其与分析仪的相关部件密封连接,实现对样品组的密封,以便进行充气或抽真空处理。同时该侧向进样装置操作方便,仅需下压样品架即可实现样品组的放样和密封两个动作,减少操作步骤,避免误操作。