直拉法单晶炉热场中的石墨件的清洗方法

    公开(公告)号:CN102794281A

    公开(公告)日:2012-11-28

    申请号:CN201210232539.0

    申请日:2012-07-06

    发明人: 潘永娥 杨正华

    IPC分类号: B08B7/00

    摘要: 本发明公开了一种直拉法单晶炉热场中的石墨件的清洗方法,按照以下具体的操作步骤实施:安装石墨件;分别开启高温感应炉的炉体冷却水循环系统和电源冷却水循环系统;抽真空;加热,包括预热及升温过程,在1000℃之前升温过程中,按照每小时100℃的升温幅度进行,在1000-2000℃升温过程中,按照每小时50℃的升温幅度进行,在2000-2400℃升温过程中,按照每小时30℃的升温幅度进行;将高温感应炉内温度从2400℃均匀降温到80-100℃的出炉温度;石墨件出炉。本发明的方法,通过将SiC在高温下发生反应,延长石墨件的使用寿命15-30炉,适用于单晶炉中的各个石墨件的清洗。

    直拉法单晶炉热场中的石墨件的清洗方法

    公开(公告)号:CN102794281B

    公开(公告)日:2014-06-18

    申请号:CN201210232539.0

    申请日:2012-07-06

    发明人: 潘永娥 杨正华

    IPC分类号: B08B7/00

    摘要: 本发明公开了一种直拉法单晶炉热场中的石墨件的清洗方法,按照以下具体的操作步骤实施:安装石墨件;分别开启高温感应炉的炉体冷却水循环系统和电源冷却水循环系统;抽真空;加热,包括预热及升温过程,在1000℃之前升温过程中,按照每小时100℃的升温幅度进行,在1000-2000℃升温过程中,按照每小时50℃的升温幅度进行,在2000-2400℃升温过程中,按照每小时30℃的升温幅度进行;将高温感应炉内温度从2400℃均匀降温到80-100℃的出炉温度;石墨件出炉。本发明的方法,通过将SiC在高温下发生反应,延长石墨件的使用寿命15-30炉,适用于单晶炉中的各个石墨件的清洗。

    直拉法生长单晶硅用籽晶行程校准装置

    公开(公告)号:CN203462164U

    公开(公告)日:2014-03-05

    申请号:CN201320512798.9

    申请日:2013-08-21

    发明人: 张鑫 潘永娥 李强

    IPC分类号: C30B15/20 C30B29/06

    摘要: 直拉法生长单晶硅用籽晶行程校准装置,直拉法生长单晶硅用籽晶行程校准装置,包括挂件和主杆,挂件和主杆固定连接,主杆上设有感应计数装置。感应计数装置包括感应器和数据显示器,数据显示器与主杆滑动连接,数据显示器固定连接有感应器;挂件包括主挂件和设置于主挂件一端的卡爪Ⅱ,主挂件的另一端固定安装有滑动副挂件,滑动副挂件上设有卡爪Ⅰ;主杆上设置有刻度尺。本实用新型设置感应计数装置,可以精确的测量出籽晶行程,准确测量出晶体长度,从而准确算出剩料量,准确判断是否收尾,克服了目测误差较大导致的物料浪费和收尾不稳的问题,提高了成晶率,降低了生产成本。