一种卫星综合电子机内测试设计方法

    公开(公告)号:CN112526269A

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN202011382151.X

    申请日:2020-12-01

    Abstract: 本发明公开一种卫星综合电子机内测试设计方法,首先根据综合电子单机物理功能划分和测试性要求,设计分层的BIT架构;然后对产品进行扩展FMEA分析,确定产品的故障模式以及选用测试点和测试点设计电路;筛选出对任务功能有显著影响的故障模式及其测试点;最后根据测试点特性,结合工程实践经验设计测试电路完成BIT设计。本方案通过对产品进行扩展FMEA分析,优选出反映产品关键功能和故障判断的测试点;并针对测试点特性设计专门测试电路,利用单机内部软硬件资源对测试点采集或测试,能够在不打开设备结构的情况下,缩小故障范围,便于故障时定位和判断,在不额外增加卫星软件和硬件资源基础上,有效提高单机的测试性水平,提高故障检测效率。

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