公开(公告)号：CN114167008B

公开(公告)日：2022-05-17

申请号：CN202210132107.6

申请日：2022-02-14

Applicant: 广州地铁设计研究院股份有限公司

Inventor： 林珊 ,  翟利华 ,  刘健美 ,  陈吉刚 ,  侯峰 ,  高杰 ,  孙菁 ,  张羽 ,  彭伟 ,  饶美婉 ,  周丹 ,  刘从胜 ,  苏华 ,  罗旭 ,  王洪杰 ,  阮艳妹 ,  卢晓智 ,  邹晓文 ,  吴淑娟

IPC: G01N33/00

Abstract: 本发明提供一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，包括以下步骤：制备单层试样群；从单层试样群中任意抽取一片单层试样；利用固定的双头对射激光同轴位移计扫描得到单层试样的厚度平均值；利用CCD尺寸视觉系统扫描测量得到单层试样的宽度值与长度值；利用精密电子天平测量单层试样的重量值；根据获得的单层试样的厚度平均值、宽度值与长度值、重量值，计算得到铁基非晶带材的叠片系数；本发明测量方法准确度高、速度快，提高了现有非晶带材的叠片系数测量速度，降低了误差对测量结果的影响，从而提高了叠片系数测量的精确度。

公开(公告)号：CN114167008A

公开(公告)日：2022-03-11

申请号：CN202210132107.6

申请日：2022-02-14

Applicant: 广州地铁设计研究院股份有限公司

Inventor： 林珊 ,  翟利华 ,  刘健美 ,  陈吉刚 ,  侯峰 ,  高杰 ,  孙菁 ,  张羽 ,  彭伟 ,  饶美婉 ,  周丹 ,  刘从胜 ,  苏华 ,  罗旭 ,  王洪杰 ,  阮艳妹 ,  卢晓智 ,  邹晓文 ,  吴淑娟

IPC: G01N33/00

Abstract: 本发明提供一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，包括以下步骤：制备单层试样群；从单层试样群中任意抽取一片单层试样；利用固定的双头对射激光同轴位移计扫描得到单层试样的厚度平均值；利用CCD尺寸视觉系统扫描测量得到单层试样的宽度值与长度值；利用精密电子天平测量单层试样的重量值；根据获得的单层试样的厚度平均值、宽度值与长度值、重量值，计算得到铁基非晶带材的叠片系数；本发明测量方法准确度高、速度快，提高了现有非晶带材的叠片系数测量速度，降低了误差对测量结果的影响，从而提高了叠片系数测量的精确度。