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公开(公告)号：CN112165614B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202011044845.2
申请日：2020-09-28
申请人： 成都微光集电科技有限公司 , 电子科技大学
IPC分类号： H04N17/00
摘要： 本发明公开了一种CMOS图像传感器测试系统及方法，包括中央处理节点和多个测试节点，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点灵活配置每个测试节点的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点发生故障时，不会影响其它测试节点的测试过程。可以灵活加减测试节点的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。
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公开(公告)号：CN112165588B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202011044799.6
申请日：2020-09-28
申请人： 成都微光集电科技有限公司 , 电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种屏幕叠加显示系统和方法、图片压缩方法，包括存储部件和图像处理器，所述存储部件存储待叠加图经压缩处理后的压缩图，图像处理器对所述压缩图进行解压缩并叠加所述待叠加图和背景图，最后输出叠加后的图像。本发明提出的所述屏幕叠加显示系统通过将压缩图放入低成本ISP的存储部件中，在OSD叠加时再解压缩获得无损的原图进行叠加的方法，来减小对ISP片内存储的需求，从而降低ISP的硬件成本，提高OSD使用灵活性。利用本发明的技术方案可以在片内存储空间较小的低成本ISP中实现屏幕叠加显示功能。
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公开(公告)号：CN112929026B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202110060991.2
申请日：2021-01-18
申请人： 电子科技大学 , 成都微光集电科技有限公司
摘要： 本发明属于模拟集成电路设计领域，涉及一种高速比较器延时方案，具体为一种基于可变比较器延时环路的SARADC。本发明通过对比较器环路进行可变延时，从而减少不必要的延时时间，并能够保证DAC电压的准确建立；同时在比较器工作完成之前，就提前给出比较器完成信号，并通过一定的延时保证逻辑正常，进一步提高环路速度。
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公开(公告)号：CN112165586A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202011042997.9
申请日：2020-09-28
申请人： 成都微光集电科技有限公司 , 电子科技大学
IPC分类号： H04N5/374 , H04N5/3745 , H04N17/00
摘要： 本发明公开了一种ADC功能安全校验装置和方法、CMOS图像传感器、参考像素单元，包括自检信号发生单元、DAC单元、参考像素单元以及判断单元，所述自检信号发生单单元用于输出ADC自检数字信号给所述DAC单元以及所述判断单元，所述DAC单元将所述ADC自检数字信号转换成模拟信号并发送给所述参考像素单元，所述参考像素单元输出对应的电压信号给CMOS图像传感器中的列级ADC，所述列级ADC输出待检数字信号给所述判断单元，最后，所述判断单元基于所述ADC自检数字信号和所述待检数字信号判断所述列级ADC是否发生故障。
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公开(公告)号：CN112153304A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN202011044803.9
申请日：2020-09-28
申请人： 成都微光集电科技有限公司 , 电子科技大学
IPC分类号： H04N5/235
摘要： 本发明公开了一种曝光调整方法和系统、驾驶员监控系统、高级驾驶辅助系统，用于调整一待测物的曝光。首先获取包含所述待测物的待测图像；然后统计待测图像中感兴趣区域的亮度均值和直方图数据，并基于所述亮度均值和所述直方图数据判断当前的场景；通过当前的场景来获取待测物区域的数据，最后计算出所述待测物的曝光参数和增益参数。利用本申请的方案，可以实现在各种光照环境下，保证待测物的精准曝光。通过亮度和直方图数据的统计，区分前景、背景以及不同的场景，根据当前的配置和场景，进一步设置曝光参数和增益参数。
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公开(公告)号：CN112910447A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110061448.4
申请日：2021-01-18
申请人： 电子科技大学 , 成都微光集电科技有限公司
IPC分类号： H03K5/24
摘要： 本发明涉及一种电子电路，具体涉及一种低功耗的轨至轨输入摆幅的比较器电路。本发明采用了使用互补输入对的思想通过修改前置放大器的结构，以增加一个输入放大器的代价换取轨至轨的摆幅，采用一对互补的时钟信号CLK和CLKN，通过使用时钟控制的PMOS动态预放大器和NMOS电流镜结合的方式，实现了覆盖低输入范围的目标，并且是采用的是全动态电路，功耗较低，适合应用于单端输入的ADC或者是共模输入电平变化很大的ADC结构中。本发明实现了在输入信号幅度很低的条件下，较高的比较速度和精度，最大限度地利用了电源电压摆幅。
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公开(公告)号：CN112165614A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202011044845.2
申请日：2020-09-28
申请人： 成都微光集电科技有限公司 , 电子科技大学
IPC分类号： H04N17/00
摘要： 本发明公开了一种CMOS图像传感器测试系统及方法，包括中央处理节点和多个测试节点，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点灵活配置每个测试节点的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点发生故障时，不会影响其它测试节点的测试过程。可以灵活加减测试节点的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。
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公开(公告)号：CN112153304B
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN202011044803.9
申请日：2020-09-28
申请人： 成都微光集电科技有限公司 , 电子科技大学
IPC分类号： H04N5/235
摘要： 本发明公开了一种曝光调整方法和系统、驾驶员监控系统、高级驾驶辅助系统，用于调整一待测物的曝光。首先获取包含所述待测物的待测图像；然后统计待测图像中感兴趣区域的亮度均值和直方图数据，并基于所述亮度均值和所述直方图数据判断当前的场景；通过当前的场景来获取待测物区域的数据，最后计算出所述待测物的曝光参数和增益参数。利用本申请的方案，可以实现在各种光照环境下，保证待测物的精准曝光。通过亮度和直方图数据的统计，区分前景、背景以及不同的场景，根据当前的配置和场景，进一步设置曝光参数和增益参数。
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公开(公告)号：CN112929026A
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN202110060991.2
申请日：2021-01-18
申请人： 电子科技大学 , 成都微光集电科技有限公司
摘要： 本发明属于模拟集成电路设计领域，涉及一种高速比较器延时方案，具体为一种基于可变比较器延时环路的SARADC。本发明通过对比较器环路进行可变延时，从而减少不必要的延时时间，并能够保证DAC电压的准确建立；同时在比较器工作完成之前，就提前给出比较器完成信号，并通过一定的延时保证逻辑正常，进一步提高环路速度。
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公开(公告)号：CN112165588A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202011044799.6
申请日：2020-09-28
申请人： 成都微光集电科技有限公司 , 电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种屏幕叠加显示系统和方法、图片压缩方法，包括存储部件和图像处理器，所述存储部件存储待叠加图经压缩处理后的压缩图，图像处理器对所述压缩图进行解压缩并叠加所述待叠加图和背景图，最后输出叠加后的图像。本发明提出的所述屏幕叠加显示系统通过将压缩图放入低成本ISP的存储部件中，在OSD叠加时再解压缩获得无损的原图进行叠加的方法，来减小对ISP片内存储的需求，从而降低ISP的硬件成本，提高OSD使用灵活性。利用本发明的技术方案可以在片内存储空间较小的低成本ISP中实现屏幕叠加显示功能。
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