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公开(公告)号：CN104076024B
公开(公告)日：2018-12-04
申请号：CN201410119634.9
申请日：2014-03-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明提供ICP发光分光分析装置，其利用光纤将原子发光线引导到分光器内且光学特性优异。ICP分析装置（1）由感应耦合等离子体装置（10）、光纤（20）、分光器（30）、安装部件（40）和光出射孔（41）构成。光纤（20）配置在感应耦合等离子体（18）与分光器（30）之间，通过安装部件（40）与分光器（30）连结。原子发光线经由光纤（20）通过光出射孔（41）而入射到分光器（30）内。安装部件（40）安装于分光器（30），将光纤（20）的露出的光透射部（21）插入并固定于帽（45），使光透射部（21）的端面（23）与设置于帽（45）的光出射孔（41）相邻。
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公开(公告)号：CN104931484A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510120573.2
申请日：2015-03-19
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
CPC classification number: G01N21/73 , G01J3/0216 , G01J3/024 , G01J3/443
Abstract: 公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种能够通过多个聚光部来除去存在于原子发光线周围的背景以谋求S/B比的提高的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)以及控制部(50)大致构成。聚光部(20)被配置在感应耦合等离子体发生部(10)与分光器(30)之间，具备第一聚光部(21)、第二聚光部(22)、在聚光部(20)与分光器(30)的边界部处的狭缝型入射窗(23)以及在第一聚光部(21)与第二聚光部(22)之间的入射狭缝(24)。通过设置至少两个聚光部(21、22)和入射狭缝（24），从而能够除去存在于原子发光线周围的背景以提高原子发光线的信号对背景之比(S/B)。
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公开(公告)号：CN105979692A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610135085.3
申请日：2016-03-10
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 本发明涉及电感耦合等离子体发生装置和电感耦合等离子体分析装置。提供能够不使用冷却水而以高的冷却能力冷却高频感应线圈的电感耦合等离子体发生装置和使用其的电感耦合等离子体分析。电感耦合等离子体发生装置（10）由等离子体焰炬（13）、高频感应线圈（14）和高频电源（16）概略构成。此外，在电感耦合等离子体发生装置（10）设置有第一端（18a）连接于高频感应线圈（14）而第二端（18b）连接于冷却块（17）的传热构件（18）。使传热构件（18）的第二端（18b）为与第一端（18a）相比上方的位置，由此，凝结后的工作液由于重力的作用而向第一端（18a）落下移动，因此，工作液的循环、移动性提高，能够发挥高的冷却能力。
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公开(公告)号：CN102384924B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201110270780.8
申请日：2011-08-31
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明提供作业效率高且安全地进行试样测定的荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法。荧光X射线分析装置(100)包括：放射线源(2)，对试样(S)上的照射点(P1)照射放射线；X射线检测器(3)；移动机构(8)，能将试样相对于放射线源和X射线检测器移动；壳体(10)；门(20)，开关试样进出壳体内外的开口(10a)；高度测定机构(7)，能测定照射点的高度；移动机构控制部(9)，基于测定的照射点高度调整试样到放射线源及X射线检测器的距离；激光部(7)，对照射点照射可见光激光；激光部工作控制部(9)，门为开状态时，使激光部工作以照射可见光激光，且门为关状态时，停止激光部；以及高度测定机构工作控制部(9)，门为开状态时，使高度测定机构工作以测定照射点高度。
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公开(公告)号：CN104076024A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201410119634.9
申请日：2014-03-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N21/73
CPC classification number: G01J3/0218 , G01J3/024 , G01J3/0291 , G01J3/443 , G01N21/73
Abstract: 本发明提供ICP发光分光分析装置，其利用光纤将原子发光线引导到分光器内且光学特性优异。ICP分析装置（1）由感应耦合等离子体装置（10）、光纤（20）、分光器（30）、安装部件（40）和光出射孔（41）构成。光纤（20）配置在感应耦合等离子体（18）与分光器（30）之间，通过安装部件（40）与分光器（30）连结。原子发光线经由光纤（20）通过光出射孔（41）而入射到分光器（30）内。安装部件（40）安装于分光器（30），将光纤（20）的露出的光透射部（21）插入并固定于帽（45），使光透射部（21）的端面（23）与设置于帽（45）的光出射孔（41）相邻。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106018383B
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201610181794.5
申请日：2016-03-28
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 一宫丰
IPC: G01N21/73
Abstract: 提供顺序型ICP发光分光分析装置和测定波长校正方法，不需要分光器的温度校正机构和机械地移动检测器的机构等。该顺序型ICP发光分光分析装置将波长不同的多个氩发光线作为基准波长而持续进行测定的结果取得基准波长的伴随时间经过的波长峰值位置的位移量(时间依存性)和基准波长的每个波长的位移量(波长依存性)。进而，控制部(40)计算测定对象元素的检量线生成时设定的各测定波长的波长峰值位置的位移量作为衍射光栅(22a)相对于初始位置的移动位置的校正量，进行相对于初始位置校正与测定波长的波长峰值位置对应的衍射光栅(22a)的移动位置的测定波长校正。
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公开(公告)号：CN103515184B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201310261620.6
申请日：2013-06-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 提供感应耦合等离子体装置、分光分析装置以及质量分析装置。感应耦合等离子体装置大幅降低等离子气体的消耗量。作为解决手段，该感应耦合等离子体装置具有：圆筒形状的罩，其与等离子体炬是分离的，具有足够包围到生成等离子体火焰的前端部的高度，该罩外嵌地配置在等离子体炬上；以及校正气体导入机构，其将用于校正等离子气体的流路的校正气体导入到在罩的内表面和等离子体炬的外管的外表面之间形成的间隙部。
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公开(公告)号：CN106018383A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610181794.5
申请日：2016-03-28
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 一宫丰
IPC: G01N21/73
Abstract: 提供顺序型ICP发光分光分析装置和测定波长校正方法，不需要分光器的温度校正机构和机械地移动检测器的机构等。该顺序型ICP发光分光分析装置将波长不同的多个氩发光线作为基准波长而持续进行测定的结果取得基准波长的伴随时间经过的波长峰值位置的位移量(时间依存性)和基准波长的每个波长的位移量(波长依存性)。进而，控制部(40)计算测定对象元素的检量线生成时设定的各测定波长的波长峰值位置的位移量作为衍射光栅(22a)相对于初始位置的移动位置的校正量，进行相对于初始位置校正与测定波长的波长峰值位置对应的衍射光栅(22a)的移动位置的测定波长校正。
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公开(公告)号：CN105979692B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201610135085.3
申请日：2016-03-10
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 本发明涉及电感耦合等离子体发生装置和电感耦合等离子体分析装置。提供能够不使用冷却水而以高的冷却能力冷却高频感应线圈的电感耦合等离子体发生装置和使用其的电感耦合等离子体分析。电感耦合等离子体发生装置（10）由等离子体焰炬（13）、高频感应线圈（14）和高频电源（16）概略构成。此外，在电感耦合等离子体发生装置（10）设置有第一端（18a）连接于高频感应线圈（14）而第二端（18b）连接于冷却块（17）的传热构件（18）。使传热构件（18）的第二端（18b）为与第一端（18a）相比上方的位置，由此，凝结后的工作液由于重力的作用而向第一端（18a）落下移动，因此，工作液的循环、移动性提高，能够发挥高的冷却能力。
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公开(公告)号：CN103515184A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310261620.6
申请日：2013-06-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 提供感应耦合等离子体装置、分光分析装置以及质量分析装置。感应耦合等离子体装置大幅降低等离子气体的消耗量。作为解决手段，该感应耦合等离子体装置具有：圆筒形状的罩，其与等离子体炬是分离的，具有足够包围到生成等离子体火焰的前端部的高度，该罩外嵌地配置在等离子体炬上；以及校正气体导入机构，其将用于校正等离子气体的流路的校正气体导入到在罩的内表面和等离子体炬的外管的外表面之间形成的间隙部。
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