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公开(公告)号：CN104076024B
公开(公告)日：2018-12-04
申请号：CN201410119634.9
申请日：2014-03-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明提供ICP发光分光分析装置，其利用光纤将原子发光线引导到分光器内且光学特性优异。ICP分析装置（1）由感应耦合等离子体装置（10）、光纤（20）、分光器（30）、安装部件（40）和光出射孔（41）构成。光纤（20）配置在感应耦合等离子体（18）与分光器（30）之间，通过安装部件（40）与分光器（30）连结。原子发光线经由光纤（20）通过光出射孔（41）而入射到分光器（30）内。安装部件（40）安装于分光器（30），将光纤（20）的露出的光透射部（21）插入并固定于帽（45），使光透射部（21）的端面（23）与设置于帽（45）的光出射孔（41）相邻。
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公开(公告)号：CN104076024A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201410119634.9
申请日：2014-03-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N21/73
CPC classification number: G01J3/0218 , G01J3/024 , G01J3/0291 , G01J3/443 , G01N21/73
Abstract: 本发明提供ICP发光分光分析装置，其利用光纤将原子发光线引导到分光器内且光学特性优异。ICP分析装置（1）由感应耦合等离子体装置（10）、光纤（20）、分光器（30）、安装部件（40）和光出射孔（41）构成。光纤（20）配置在感应耦合等离子体（18）与分光器（30）之间，通过安装部件（40）与分光器（30）连结。原子发光线经由光纤（20）通过光出射孔（41）而入射到分光器（30）内。安装部件（40）安装于分光器（30），将光纤（20）的露出的光透射部（21）插入并固定于帽（45），使光透射部（21）的端面（23）与设置于帽（45）的光出射孔（41）相邻。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103515184B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201310261620.6
申请日：2013-06-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 提供感应耦合等离子体装置、分光分析装置以及质量分析装置。感应耦合等离子体装置大幅降低等离子气体的消耗量。作为解决手段，该感应耦合等离子体装置具有：圆筒形状的罩，其与等离子体炬是分离的，具有足够包围到生成等离子体火焰的前端部的高度，该罩外嵌地配置在等离子体炬上；以及校正气体导入机构，其将用于校正等离子气体的流路的校正气体导入到在罩的内表面和等离子体炬的外管的外表面之间形成的间隙部。
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公开(公告)号：CN104949964B
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201510146338.2
申请日：2015-03-31
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 松泽修
IPC: G01N21/73
Abstract: 公开了一种ICP发光分光分析装置。提供了一种使用二维检测部且能够与出射光的成像形状相应地变更二维检测部所使用的像素来获得准确的强度的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)、二维检测部(40)以及控制部(50)大致构成。二维检测部(40)具备具有被呈面状铺满的多个像素的CCD图像传感器(41)，使从分光器(30)出射的出射光成像在多个图像上以对出射光进行检测。而且，控制部(50)与作为检测对象的出射光的成像形状相应地决定多个像素中使用于出射光的检测的像素。
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公开(公告)号：CN102235977B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201110086370.8
申请日：2011-03-29
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明涉及一种ICP分析装置及其分析方法，活用能进行高灵敏度测定但装置的劣化快的等离子体的发生轴方向测定和装置劣化少但灵敏度低的等离子体的横向测定中各测定的特征而能够进行高灵敏度且减轻了装置的劣化的倾斜方向测定。构成为：为了将所述等离子体喷灯设定为任意角度，以直线状对置地配置等离子体喷灯和聚光部时为基准，使至少一个相对于ICP分析装置中的聚光部的等离子体的光的取进方向转动，从而以任意角度对置。
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公开(公告)号：CN104949964A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510146338.2
申请日：2015-03-31
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 松泽修
IPC: G01N21/73
Abstract: 公开了一种ICP发光分光分析装置。提供了一种使用二维检测部且能够与出射光的成像形状相应地变更二维检测部所使用的像素来获得准确的强度的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)、二维检测部(40)以及控制部(50)大致构成。二维检测部(40)具备具有被呈面状铺满的多个像素的CCD图像传感器(41)，使从分光器(30)出射的出射光成像在多个图像上以对出射光进行检测。而且，控制部(50)与作为检测对象的出射光的成像形状相应地决定多个像素中使用于出射光的检测的像素。
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公开(公告)号：CN103515184A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310261620.6
申请日：2013-06-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 提供感应耦合等离子体装置、分光分析装置以及质量分析装置。感应耦合等离子体装置大幅降低等离子气体的消耗量。作为解决手段，该感应耦合等离子体装置具有：圆筒形状的罩，其与等离子体炬是分离的，具有足够包围到生成等离子体火焰的前端部的高度，该罩外嵌地配置在等离子体炬上；以及校正气体导入机构，其将用于校正等离子气体的流路的校正气体导入到在罩的内表面和等离子体炬的外管的外表面之间形成的间隙部。
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