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公开(公告)号:CN104793026A
公开(公告)日:2015-07-22
申请号:CN201410814572.3
申请日:2014-12-24
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
CPC classification number: B23K1/0016 , H01L24/12 , H01L24/81
Abstract: 本发明涉及一种应用于探针测试装置的支撑结构及其制作方法,该支撑结构包括一基板、一薄形化的空间转换板、多个焊球与光阻支撑块。基板具有多个第一内部导电线路。空间转换板具有多个第二内部导电线路。焊球介于基板与空间转换板之间,分别电性连接第一内部导电线路与第二内部导电线路。光阻支撑块介于基板与空间转换板之间,彼此分离地排列,且是通过微影制程所形成。至少其中一该光阻支撑块位于二相邻焊球之间。该制作方法为先提供该基板、该空间转换板、各光阻支撑块及焊球,再利用各焊球将该空间转换板与该基板进行回焊。
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公开(公告)号:CN104793026B
公开(公告)日:2018-09-28
申请号:CN201410814572.3
申请日:2014-12-24
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
CPC classification number: B23K1/0016 , H01L24/12 , H01L24/81
Abstract: 本发明涉及一种应用于探针测试装置的支撑结构及其制作方法,该支撑结构包括一基板、一薄形化的空间转换板、多个焊球与光阻支撑块。基板具有多个第一内部导电线路。空间转换板具有多个第二内部导电线路。焊球介于基板与空间转换板之间,分别电性连接第一内部导电线路与第二内部导电线路。光阻支撑块介于基板与空间转换板之间,彼此分离地排列,且是通过微影制程所形成。至少其中一该光阻支撑块位于二相邻焊球之间。该制作方法为先提供该基板、该空间转换板、各光阻支撑块及焊球,再利用各焊球将该空间转换板与该基板进行回焊。
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