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公开(公告)号：CN103048052B
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201310000806.6
申请日：2013-01-05
申请人： 昆明物理研究所
IPC分类号： G01J5/04
摘要： 一种制导用微型金属杜瓦内管，杜瓦内管的薄壁部分由内管根部、均匀过渡壁厚部分和均匀壁厚部分构成，其中，内管根部的壁厚在0.1mm至0.6mm之间，长度在5mm至12mm之间；均匀壁厚部分的壁厚在0.01mm至0.1mm之间，长度在5mm至12mm之间；均匀过渡壁厚部分位于内管根部与均匀壁厚部分之间，其最厚壁厚与内管根部的壁厚一致，其最薄壁厚与均匀壁厚部分的壁厚一致，该段壁厚均匀过渡，长度在30mm至60mm之间。杜瓦内管采用高强度合金材料。本发明与现有杜瓦内管相比，内管根部壁厚更厚，在靠近芯片安装基准位置的内管底部壁厚更薄，实现了杜瓦内管热负载控制和振动刚度控制的良好平衡，并降低了精密加工难度。
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公开(公告)号：CN117664350A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311433382.2
申请日：2023-11-01
申请人： 昆明物理研究所
摘要： 本发明公开了一种微纳红外偏振片及红外探测器，该微纳红外偏振片采用各取向偏振单元差异性设计，所述微纳红外偏振片由周期性排布的复合偏振像元构成，每一复合偏振像元包含两种以上不同偏振取向的偏振单元。视应用需求，对各偏振单元起偏振选择作用的区域大小和/或偏振选择区域内微纳偏振结构的材质、几何形状、特征尺寸，采取差异性设计，以弥补偏振取向相关的结构性差异以及工艺误差所导致的消光比离散。本发明实现了微纳红外偏振片内各取向偏振单元的性能均衡，有效减少了偏振成像的非均匀性来源，缓解了后期图像处理中的非均匀性校正难度，提高了偏振成像质量。
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公开(公告)号：CN110529728A
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201910413702.5
申请日：2019-05-17
申请人： 昆明物理研究所
摘要： 本发明提供一种在线检测红外焦平面探测器杜瓦瓶寿命的装置及方法，包括真空室以及与真空室相连的若干工位接口，通过测量排气管与一个工位接口相连的测量组件；所述测量组件的另一端设有第二BA热阴极规管，第二BA热阴极规管依次与真空计、计算机相连。本发明通过实时在线检测真空获得关键工艺参数真空度，运用稀薄气体物理和真空技术原理，建立真空有用寿命与关键工艺参数的数学模型，进而得到气体源出气速率。有利于优化真空获得工艺，提高生产效率和降低生产成本，也能够有效地控制真空获得工艺质量参数，提高待测制冷型红外焦平面探测器杜瓦组件的高真空绝热能力和可靠性。
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公开(公告)号：CN103048052A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201310000806.6
申请日：2013-01-05
申请人： 昆明物理研究所
IPC分类号： G01J5/04
摘要： 一种制导用微型金属杜瓦内管，杜瓦内管的薄壁部分由内管根部、均匀过渡壁厚部分和均匀壁厚部分构成，其中，内管根部的壁厚在0.1mm至0.6mm之间，长度在5mm至12mm之间；均匀壁厚部分的壁厚在0.01mm至0.1mm之间，长度在5mm至12mm之间；均匀过渡壁厚部分位于内管根部与均匀壁厚部分之间，其最厚壁厚与内管根部的壁厚一致，其最薄壁厚与均匀壁厚部分的壁厚一致，该段壁厚均匀过渡，长度在30mm至60mm之间。杜瓦内管采用高强度合金材料。本发明与现有杜瓦内管相比，内管根部壁厚更厚，在靠近芯片安装基准位置的内管底部壁厚更薄，实现了杜瓦内管热负载控制和振动刚度控制的良好平衡，并降低了精密加工难度。
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公开(公告)号：CN100451499C
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200610163824.6
申请日：2006-12-20
申请人： 昆明物理研究所
摘要： 一种焦平面探测器成像测试用液氮金属杜瓦，它可获得不同响应波段、适应不同器件作性能测试和成像测试，主体和窗体分别和连接板通过方便拆装的方式相连，形成一个具有不同响应波段的测试杜瓦，主体外部焊接真空阀，内部焊接有储液内胆，储液内胆的端面为呈阶梯结构的冷装载面，探测器芯片安放在冷装载面上，冷屏通过螺钉直接固定在冷装载面上，位于冷装载面上方的窗体上连有窗口玻璃；由于采用了成熟工艺和标准件，降低了研制难度；采用柔性薄膜电缆作为电极引出线，性能可靠，使用方便；可以根据实际需要选择是否使用冷屏，冷屏拆装方便可靠且具有液氮温度背景；阶梯状冷装载面既提供了器件和冷屏的液氮温度背景安装面，又减少了杜瓦自身的热耗。
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公开(公告)号：CN1975295A
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN200610163824.6
申请日：2006-12-20
申请人： 昆明物理研究所
摘要： 一种焦平面探测器成像测试用液氮金属杜瓦，它可获得不同响应波段、适应不同器件作性能测试和成像测试，主体和窗体分别和连接板通过方便拆装的方式相连，形成一个具有不同响应波段的测试杜瓦，主体外部焊接真空阀，内部焊接有储液内胆，储液内胆的端面为呈阶梯结构的冷装载面，探测器芯片安放在冷装载面上，冷屏通过螺钉直接固定在冷装载面上，位于冷装载面上方的窗体上连有窗口玻璃；由于采用了成熟工艺和标准件，降低了研制难度；采用柔性薄膜电缆作为电极引出线，性能可靠，使用方便；可以根据实际需要选择是否使用冷屏，冷屏拆装方便可靠且具有液氮温度背景；阶梯状冷装载面既提供了器件和冷屏的液氮温度背景安装面，又减少了杜瓦自身的热耗。
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公开(公告)号：CN116356382A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202310246981.7
申请日：2023-03-15
申请人： 昆明物理研究所
摘要： 本发明公开了一种缩短红外焦平面探测器启动时间的冷屏的制备方法，该冷屏将传统的镍钴合金替代为铜，并实现了波纹管铜冷屏的电铸成型，大幅提升了冷屏本身的热导率，同时避免了胶粘的使用，从而大大减小了冷屏传导热阻，缩短了杜瓦的制冷启动时间。本发明提供了一种易于实现波纹管铜冷屏的制备工艺，通过在芯模尖角处倒圆角和应用双脉冲进行电铸，降低了铜冷屏电铸的难度，增加了电铸铜冷屏的晶粒致密度，提升了铜冷屏强度和可靠性。
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公开(公告)号：CN110529728B
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN201910413702.5
申请日：2019-05-17
申请人： 昆明物理研究所
摘要： 本发明提供一种在线检测红外焦平面探测器杜瓦瓶寿命的装置及方法，包括真空室以及与真空室相连的若干工位接口，通过测量排气管与一个工位接口相连的测量组件；所述测量组件的另一端设有第二BA热阴极规管，第二BA热阴极规管依次与真空计、计算机相连。本发明通过实时在线检测真空获得关键工艺参数真空度，运用稀薄气体物理和真空技术原理，建立真空有用寿命与关键工艺参数的数学模型，进而得到气体源出气速率。有利于优化真空获得工艺，提高生产效率和降低生产成本，也能够有效地控制真空获得工艺质量参数，提高待测制冷型红外焦平面探测器杜瓦组件的高真空绝热能力和可靠性。
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公开(公告)号：CN200972855Y
公开(公告)日：2007-11-07
申请号：CN200620022529.4
申请日：2006-11-16
申请人： 昆明物理研究所
摘要： 一种焦平面探测器芯片的专用粘接固定夹具，以平台1作为安装基座，固定支撑模块2通过螺钉6固定安装在平台上，加压装置3由其上部的操作块、中部的连接杆5以及下部的压片头8三部分所组成，加压装置穿过贯通支撑模块的开槽7，其连接杆和压片头可在开槽内作上下运动；当操作块与支撑模块相接触时，加压装置达到一个固定位置使待粘接工件被压片头稳定地压住，从而实现了工件的固定，粘接过程中，待粘接工件被平放在摆放平台上与加压装置的压片头相对的位置，该压片头截面为矩形，且其面积大于待粘接工件；本实用新型适于各种类型芯片的整体式粘接固定夹具，保证了芯片的粘接质量，提高了粘接工艺的稳定性和可操作性，降低了工艺成本。
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公开(公告)号：CN207280512U
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201721310861.5
申请日：2017-10-12
申请人： 昆明物理研究所
IPC分类号： G01D21/02
摘要： 本实用新型公开了一种杜瓦组件绝热特性综合测量装置，所述测量装置主要由电子天平、流量计、数字源表、恒温器、计算机控制系统组成，所述电子天平、流量计和数字源表分别通过RS232串口与计算机控制系统通信，所述计算机控制系统内配置秒表计时器；所述杜瓦组件放置在电子天平上，或者放置在恒温器(8)的恒温腔体(18)中，进行称量法或流量法的热负载测量。本实用新型中电子天平、质量流量计和数字源表与软件编程秒表计时器构成质量、质量流量、电压和时间测量模块，能够测量和绘制质量－时间、质量流量－时间和电压－时间曲线。恒温器解决了70℃高温工作状态热负载测量问题，减小了测量误差和测量不确定度，提高了测量质量。
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