一种GaN基薄膜芯片的生产方法

    公开(公告)号:CN102790138A

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN201110132423.5

    申请日:2011-05-19

    IPC分类号: H01L33/00 B23K26/36

    摘要: 本发明公开了一种GaN基薄膜芯片的生产方法,涉及半导体发光器件的制备工艺,用于解决在剥离蓝宝石衬底时GaN薄膜损伤的问题。该生产方法包括在蓝宝石衬底上生长n型GaN层、活性层、p型GaN层,形成外延层;刻蚀外延层;在外延层上涂胶,黏附第一临时基板并固化;对蓝宝石衬底进行激光剥离;将剥离后的表面与第二临时基板键合;除掉第一临时基板和胶层,露出外延层;与永久支撑基板进行键合;腐蚀第二基板。本发明由于采用了多次转移,并且在第二次转移过程中,采取了键合的方式固定第二临时基板,可以使得第一次临时基板和相应的胶可以很顺利的腐蚀掉,使得工艺带来方便,提高了生产的良率。

    一种GaN基薄膜芯片的生产方法

    公开(公告)号:CN102790138B

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:CN201110132423.5

    申请日:2011-05-19

    摘要: 本发明公开了一种GaN基薄膜芯片的生产方法,涉及半导体发光器件的制备工艺,用于解决在剥离蓝宝石衬底时GaN薄膜损伤的问题。该生产方法包括在蓝宝石衬底上生长n型GaN层、活性层、p型GaN层,形成外延层;刻蚀外延层;在外延层上涂胶,黏附第一临时基板并固化;对蓝宝石衬底进行激光剥离;将剥离后的表面与第二临时基板键合;除掉第一临时基板和胶层,露出外延层;与永久支撑基板进行键合;腐蚀第二基板。本发明由于采用了多次转移,并且在第二次转移过程中,采取了键合的方式固定第二临时基板,可以使得第一次临时基板和相应的胶可以很顺利的腐蚀掉,使得工艺带来方便,提高了生产的良率。

    GaN基薄膜芯片的制备方法

    公开(公告)号:CN102790137B

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:CN201110132402.3

    申请日:2011-05-19

    IPC分类号: H01L33/00

    摘要: 本发明提供一种GaN基薄膜片的制备方法,涉及半导体发光器件的制备工艺,用于解决在剥离蓝宝石衬底时发生的外延薄膜破裂的问题。该制备方法包括以下步骤:在蓝宝石衬底上依次生长n型GaN层、活性层、p型GaN层,形成半导体多层结构;对蓝宝石衬底进行减薄和抛光处理;在半导体多层结构和导电反射复合金属层上涂第一胶,与第一临时基板进行固化;将蓝宝石衬底进行激光剥离,在剥离面涂第二胶,并固化到第二临时基板;将第一临时基板和第一胶去掉;采用共晶键合方式将所述半导体多层结构与永久支撑基板结合;去掉第二临时基板和第二胶。本发明可以降低对氮化镓膜的损伤,可以大大提高通过这种工艺得到的GaN基薄膜芯片的良率。

    GaN基薄膜芯片的制备方法

    公开(公告)号:CN102790137A

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN201110132402.3

    申请日:2011-05-19

    IPC分类号: H01L33/00

    摘要: 本发明提供一种GaN基薄膜芯片的制备方法,涉及半导体发光器件的制备工艺,用于解决在剥离蓝宝石衬底时发生的外延薄膜破裂的问题。该制备方法包括以下步骤:在蓝宝石衬底上依次生长n型GaN层、活性层、p型GaN层,形成半导体多层结构;对蓝宝石衬底进行减薄和抛光处理;在半导体多层结构和导电反射复合金属层上涂第一胶,与第一临时基板进行固化;将蓝宝石衬底进行激光剥离,在剥离面涂第二胶,并固化到第二临时基板;将第一临时基板和第一胶去掉;采用共晶键合方式将所述半导体多层结构与永久支撑基板结合;去掉第二临时基板和第二胶。本发明可以降低对氮化镓膜的损伤,可以大大提高通过这种工艺得到的GaN基薄膜芯片的良率。

    基于蓝宝石剥离的薄膜GaN芯片的制造方法

    公开(公告)号:CN102790139B

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201110132454.0

    申请日:2011-05-19

    IPC分类号: H01L33/00 H01L21/78

    摘要: 本发明公开了一种基于蓝宝石剥离的薄膜GaN芯片的制造方法,涉及半导体发光器件的制备工艺,该方法能解决在剥离蓝宝石衬底过程中导致的外延薄膜破裂的问题。该制造方法包括以下步骤:刻蚀蓝宝石衬底上的外延层;在刻蚀的外延层上制备反射层材料,并进行合金;与永久支撑基板键合;在永久支撑基板的另一侧采用树脂与第二基板进行固化;激光剥离蓝宝石衬底;剥离后去除第二基板和树脂,第二基板也可在激光剥离前去掉。本发明可以使GaN薄膜芯片的成品率提高。

    基于蓝宝石剥离的薄膜GaN芯片的制造方法

    公开(公告)号:CN102790139A

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN201110132454.0

    申请日:2011-05-19

    IPC分类号: H01L33/00 H01L21/78

    摘要: 本发明公开了一种基于蓝宝石剥离的薄膜GaN芯片的制造方法,涉及半导体发光器件的制备工艺,该方法能解决在剥离蓝宝石衬底过程中导致的外延薄膜破裂的问题。该制造方法包括以下步骤:刻蚀蓝宝石衬底上的外延层;在刻蚀的外延层上制备反射层材料,并进行合金;与永久支撑基板键合;在永久支撑基板的另一侧采用树脂与第二基板进行固化;激光剥离蓝宝石衬底;剥离后去除第二基板和树脂,第二基板也可在激光剥离前去掉。本发明可以使GaN薄膜芯片的成品率提高。