测定系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111435074A

    公开(公告)日:2020-07-21

    申请号:CN201911315204.3

    申请日:2019-12-18

    IPC分类号: G01B11/24

    摘要: 测定系统(100)具备:测定装置(2),其测定工件(WK);显示装置(16),其显示与工件(WK)对应的工件信息;读取装置(3),其读取由显示装置(16)显示的工件信息;以及控制装置(20),其具有将由读取装置(3)读取到的工件信息与由测定装置(2)得到的工件(WK)的测定信息建立对应关系而存储的存储部(22)。