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公开(公告)号：CN101473692B
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN200780023073.0
申请日：2007-06-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 一种能正常地均匀加热加热室的整个内部并且按照需要实现局部集中加热的微波加热装置。该微波加热装置包括：微波发生装置；波导管，传送来自微波发生装置的微波；加热室，放置着将由微波加热的物体；旋转天线，将微波从波导管辐射到加热室中；驱动单元，旋转地驱动所述旋转天线；温度分布检测装置，检测加热室中的温度分布；和控制装置，根据温度分布检测装置的检测结果，通过控制所述驱动单元，来控制旋转天线的方向。控制装置控制至少一个旋转天线，以使其具有高辐射指向性的部分定向成朝向根据温度分布检测装置的检测结果而确定的方向上以对物体进行集中加热。驱动装置包括用于检测旋转天线的位置的位置检测装置。
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公开(公告)号：CN1143599C
公开(公告)日：2004-03-24
申请号：CN95195792.9
申请日：1995-10-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H05B6/6411 , H05B6/66 , H05B6/688 , H05B6/704 , H05B6/705 , H05B6/74 , Y02B40/143 , Y02B40/146
Abstract: 本发明加热被加热物体的高频电波加热装置中设置发射电磁波的电磁波发射手段、能够以该电磁波发射手段发射的电磁波对被加热物体的任意部位进行加热的局部加热手段，以及控制该局部加热手段的控制手段。又根据需要设置保护局部加热手段的保护手段和载物台，或设定手段和检测手段，同时根据设定手段和检测手段控制局部加热手段、电磁波发射手段或载物台。
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公开(公告)号：CN100385215C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN98801069.0
申请日：1998-07-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 今井博久 , 西井一成 , 金泽靖之 , 渋谷诚 , 森口实纪 , 中谷直史 , 乾弘文 , 粟屋加寿子 , 西井完治 , 高田和政 , 加藤玄道 , 小林宽 , 吉本弘次 , 西川雅德
CPC classification number: G01J5/02 , G01J5/025 , G01J5/026 , G01J5/027 , G01J5/04 , G01J5/046 , G01J5/049 , G01J5/06 , G01J5/08 , G01J5/0806 , G01J5/0815 , G01J5/0834 , G01J5/089 , G01J5/62 , G01J2005/0048 , G01J2005/068
Abstract: 本发明涉及一种非接触方式测定鼓膜温度的辐射体温计，其具有将仅接收从鼓膜和/或其附近直接辐射出的红外线的受光部17的输出运算成温度的信号处理手段4和报告运算出的温度的报告手段18，由于做成为不受到来自鼓膜和/或其附近之外的热辐射影响的结构，所以，探头1的温度变化不会成为测定误差的因素，能进行正确的体温测定。当从聚光元件的光轴所在的剖面看时，红外光电检测元件设置在如下三点所形成的三角形内，这三点为：从聚光元件的边缘起引出且与相对光轴位于聚光元件边缘同侧的探头内壁接触的直线与探头顶端的面交叉成假想顶端点时，从该假想顶端点起通过相对光轴与假想顶端点同侧的聚光元件的边缘后到达由聚光元件形成的假想顶端点的像点的光路与光轴的交点，以及由聚光元件形成的假想顶端点的两个像点。
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公开(公告)号：CN1301040C
公开(公告)日：2007-02-14
申请号：CN03157948.5
申请日：1995-10-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H05B6/68
CPC classification number: H05B6/6411 , H05B6/66 , H05B6/688 , H05B6/704 , H05B6/705 , H05B6/74 , Y02B40/143 , Y02B40/146
Abstract: 本发明加热被加热物体的高频电波加热装置中设置发射电磁波的电磁波发射手段、能够以该电磁波发射手段发射的电磁波对被加热物体的任意部位进行加热的局部加热手段，以及控制该局部加热手段的控制手段。又根据需要设置保护局部加热手段的保护手段和载物台，或设定手段和检测手段，同时根据设定手段和检测手段控制局部加热手段、电磁波发射手段或载物台。
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公开(公告)号：CN102812298A
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN201180013908.0
申请日：2011-03-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: F24C7/02
CPC classification number: H05B6/6455
Abstract: 本发明的加热烹调器具有：加热仓，其包含载置被加热物的底面；加热装置，其对加热仓内的被加热物进行加热；发光装置，其向加热仓内发出至少红外波段的光；红外线传感器，其检测来自底面的反射光而取得被加热物的信息；以及控制装置，其至少控制加热装置和发光装置。由此，即使是常温物品，也能够使用红外线传感器在加热初期取得被加热物的信息来控制加热，因此能够实现低价且紧凑的加热烹调器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1432166A
公开(公告)日：2003-07-23
申请号：CN01810439.8
申请日：2001-05-31
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F17/60
Abstract: 健康诊断网络系统由测定血压、体温等身体信息的患者终端(1)、除了供医疗相关人员阅览患者的身体信息并进行诊断外还可以输入针对患者的时间表信息和建议信息等医疗支援信息的医生终端(2)、保存两种终端传送来的信息的中心服务器(3)所构成，这些均连接在因特网等通信网络(4)上。在该系统中，保存在中心服务器(3)中的患者信息，只限于预先在中心服务器(3)中已经登录的患者终端(1)和医生终端(2)，以及已经登录的患者或和医疗相关人员才可以输入、阅览，可以保护有关患者健康的隐私，同时1名患者的医疗信息可以供多个医疗相关人员利用。
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公开(公告)号：CN1297343A
公开(公告)日：2001-05-30
申请号：CN99805107.1
申请日：1999-04-30
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: A61B10/00
CPC classification number: G01J5/04 , A61B10/0012 , A61B2010/0019 , G01J5/02 , G01J5/025 , G01J5/026 , G01J5/049 , G01J5/06 , G01J5/08 , G01J5/0834 , G01J5/089 , G01J5/0893 , G01J5/34 , G01J2005/0048 , G01J2005/068
Abstract: 本发明涉及使用红外线进行测量的体温计,利用根据包含运算时间在内的测量时间的长短而测量误差变化的测量方法测量体温。该测量时间根据所要求的测量误差来计算。结果,便可用与所要求的允许误差相应的适当的时间测量温度。此外,将探头采用多孔结构等,提高绝热效率,并设置了对于耳孔的个人差更适合的辅助探头,同时具有根据希望分娩日报告符合的排卵日的功能。
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公开(公告)号：CN103874976B
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201380003443.X
申请日：2013-02-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F3/0488 , F24C7/02 , F24C15/00 , G06F3/041
CPC classification number: G06F3/041 , F24C7/082 , G06F3/0488 , G06F2203/04101 , G06F2203/04108 , H05B6/6435
Abstract: 本发明的烤炉具备：液晶触摸面板(10)，其显示包含操作按钮的显示画面，该操作按钮受理由使用者进行的输入；接近探测部(30)，其探测使用者对显示画面所包含的操作按钮的接近，来作为由该使用者进行的接近输入；加热控制部(24)和显示控制部(31)，它们根据对操作按钮的输入，来执行与该操作按钮相对应的功能；标准按钮图像存储部(32)，其将接近输入可否信息与显示画面的至少一部分相对应地存储，该接近输入可否信息表示是否允许接近探测部(30)探测接近输入；以及有效/无效判定部(49)，其基于接近输入可否信息来判定是否允许接近探测部(30)探测接近输入。
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公开(公告)号：CN1301041C
公开(公告)日：2007-02-14
申请号：CN03157949.3
申请日：1995-10-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H05B6/68
CPC classification number: H05B6/6411 , H05B6/66 , H05B6/688 , H05B6/704 , H05B6/705 , H05B6/74 , Y02B40/143 , Y02B40/146
Abstract: 本发明加热被加热物体的高频电波加热装置中设置发射电磁波的电磁波发射手段、能够以该电磁波发射手段发射的电磁波对被加热物体的任意部位进行加热的局部加热手段，以及控制该局部加热手段的控制手段。又根据需要设置保护局部加热手段的保护手段和载物台，或设定手段和检测手段，同时根据设定手段和检测手段控制局部加热手段、电磁波发射手段或载物台。
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公开(公告)号：CN1496195A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03157949.3
申请日：1995-10-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H05B6/68
CPC classification number: H05B6/6411 , H05B6/66 , H05B6/688 , H05B6/704 , H05B6/705 , H05B6/74 , Y02B40/143 , Y02B40/146
Abstract: 本发明加热被加热物体的高频电波加热装置中设置发射电磁波的电磁波发射手段、能够以该电磁波发射手段发射的电磁波对被加热物体的任意部位进行加热的局部加热手段，以及控制该局部加热手段的控制手段。又根据需要设置保护局部加热手段的保护手段和载物台，或设定手段和检测手段，同时根据设定手段和检测手段控制局部加热手段、电磁波发射手段或载物台。
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