等离子体处理装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1088765C

    公开(公告)日:2002-08-07

    申请号:CN97115408.2

    申请日:1997-07-17

    Abstract: 本发明等离子体处理装置,包括减压室、一对面对面的电极、处理气体供给机构、高频电源以及对设置在一电极上被处理物进行加热的加热机构,另一电极侧由温度调节构件、兼作电极用气体喷出板、夹于此两者间的格子状传热构件构成,该传热构件具有使供给的处理气体均压化、从气体喷出孔喷出的气体均压化空间,具有能将电极用气体喷出板的热量传至温度调节构件、能不使电极兼用气体喷出板产生热变形、可对大型基板进行等离子体处理的效果。

    溅射装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1072734C

    公开(公告)日:2001-10-10

    申请号:CN95109206.5

    申请日:1995-07-20

    CPC classification number: H01J37/347 H01J37/3405

    Abstract: 本发明揭示一种采用矩形靶进行溅射,在基板上形成薄膜的溅射装置,其特征在于:沿靶的两侧缘,在各侧缘配置多个磁铁,这些磁铁的极性确定为相邻的磁铁为相反关系,同时,隔靶相对的磁铁间的极性确定为相反关系;配置至少两个以上的靶使其靶面与所述基板面形成30°以上、60°以下的角度。该装置用具有多个矩形靶的溅射电极,提高形成于大型基板上的薄膜的膜厚及膜质的均匀性,进而具有高的靶利用效率。

    溅射装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1119552A

    公开(公告)日:1996-04-03

    申请号:CN95109206.5

    申请日:1995-07-20

    CPC classification number: H01J37/347 H01J37/3405

    Abstract: 本发明揭示一种采用矩形靶进行溅射,在基板上形成薄膜的溅射装置,其特征在于:沿靶的两侧缘,在各侧缘配置多个磁铁,这些磁铁的极性确定为相邻的磁铁为相反关系,同时,隔靶相对的磁铁间的极性确定为相反关系;配置至少两个以上的靶使其靶面与所述基板面形成30°以上、60°以下的角度。该装置用具有多个矩形靶的溅射电极,提高形成于大型基板上的薄膜的膜厚及膜质的均匀性,进而具有高的靶利用效率。

Patent Agency Ranking