公开(公告)号：CN108029164A

公开(公告)日：2018-05-11

申请号：CN201680053520.6

申请日：2016-08-25

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 奥山真人 ,  小渕礼子

IPC: H05B33/04 ,  H01L51/50

Abstract: 本发明的技术在于，提供一种具备具有高的阻气性能的密封层的电子器件，及使用有该密封层的电子器件的密封方法。本发明的电子器件为在基材上具有功能性元件及密封该功能性元件的密封层的电子器件，其中，所述密封层是含有第12～14族的非过渡金属(M1)的氧化物的第1阻气层和与该第1阻气层相接而配置的含有过渡金属(M2)的氧化物的第2阻气层的叠层体；或者是含有所述非过渡金属(M1)及所述过渡金属(M2)的复合氧化物的阻气层；或者是具有含有该复合氧化物的区域。

公开(公告)号：CN108029164B

公开(公告)日：2020-01-10

申请号：CN201680053520.6

申请日：2016-08-25

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 奥山真人 ,  小渕礼子

IPC: H01L51/50

Abstract: 本发明的技术在于，提供一种具备具有高的阻气性能的密封层的电子器件，及使用有该密封层的电子器件的密封方法。本发明的电子器件为在基材上具有功能性元件及密封该功能性元件的密封层的电子器件，其中，所述密封层是含有第12～14族的非过渡金属(M1)的氧化物的第1阻气层和与该第1阻气层相接而配置的含有过渡金属(M2)的氧化物的第2阻气层的叠层体；或者是含有所述非过渡金属(M1)及所述过渡金属(M2)的复合氧化物的阻气层；或者是具有含有该复合氧化物的区域。

公开(公告)号：CN119534470A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411208346.0

申请日：2024-08-30

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 西田麻衣子 ,  畠泽翔太 ,  佐川正悟 ,  增田修 ,  奥山真人

IPC: G01N21/892 ,  G01N21/84 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明涉及薄膜检查装置、薄膜检查方法以及程序。无需人工监视或作业而容易地进行薄膜产生缺陷的检测。在光学性地检查重叠的状态的薄膜中产生的缺陷的薄膜检查装置中，通过光源向薄膜照射光(步骤S1)，通过相机(光学传感器)检测在薄膜中反射的光中的至少漫射光(步骤S2)。薄膜检查装置通过从由相机的输出信号得到的第1图像数据提取检查定时下的检查区域(步骤S5)，并对与检查区域对应的第2图像数据进行数据处理，从而检测缺陷(步骤S6)。

公开(公告)号：CN106457785A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580025553.5

申请日：2015-05-20

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 奥山真人

IPC: B32B27/00 ,  B05D3/00 ,  B05D7/04 ,  B32B38/18 ,  H01L51/50 ,  H05B33/04

Abstract: 本发明的课题在于，提供一种使用含有环烯烃聚合物或环烯烃共聚物的膜基材，制造对该膜基材的断裂或皲裂的产生进行抑制气体阻隔性膜的方法。该气体阻隔性膜的制造方法为在含有环烯烃聚合物或环烯烃共聚物的膜基材(2)上依次设置透明硬涂层(3)及气体阻隔层(5)的制造方法，其特征在于，包括如下工序：在设置透明硬涂层(3)之前，在设置膜基材(2)的与透明硬涂层件(9)的工序；对含有膜基材(2)及保护层压部件(9)的叠层体的宽度方向的端部进行裁切，并使膜基材(2)的宽度方向的尺寸和保护层压部件(9)的宽度方向的尺寸相同的工序。(3)的表面相反一侧的表面上，设置保护层压部