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公开(公告)号:CN104281001A
公开(公告)日:2015-01-14
申请号:CN201410317606.8
申请日:2014-07-04
Applicant: 株式会社阿迪泰克工程
CPC classification number: G03F9/00
Abstract: 本发明提供膜掩模校正装置,其能够部分地对膜掩模进行校正。膜掩模校正装置(A)具有箱主体(1),该箱主体(1)构成箱形状,一面为开放的开口(10),将该开口(10)侧覆盖到膜掩模(5)上而与膜掩模(5)之间形成密封空间(15),利用吸引装置(2)吸引密封空间(15)而使其成为负压。使轴(31)上下移动、旋转、倾斜,使摩擦球(30)对膜掩模(5)进行摩擦动作,进行膜掩模(5)的校正。