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公开(公告)号：CN104777785A
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201510093312.6
申请日：2015-03-02
申请人： 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司 , 襄阳华中科技大学先进制造工程研究院
IPC分类号： G05B19/18
CPC分类号： G05B19/41
摘要： 本发明公开了一种基于指令域分析的数控加工工艺参数动态优化方法，包括：(1)设置采样的加工状态信息和加工程序指令序列信息，并相应配置形成加工信息动态采集界面；(2)实时采集获取实际加工数据，并利用正余弦算子对采集的数据进行迭代平滑处理，并提取滤波处理后信号的特征值；(3)根据当前行加工的G指令和/或刀位轨迹类型在工艺系数数据库中选择确定优化系数；(4)利用上述步骤获取的特征值以及优化系数，建立优化模型，据此计算当前合理的工艺参数，从而实现对加工工艺参数的动态优化。本发明的方法以指令域分析为基础，可以实现对数控系统工艺参数快速优化，实现与插补周期同步，最大程度实现数控系统加工质量与效率的提升。
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公开(公告)号：CN104777785B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201510093312.6
申请日：2015-03-02
申请人： 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司 , 襄阳华中科技大学先进制造工程研究院
IPC分类号： G05B19/18
摘要： 本发明公开了一种基于指令域分析的数控加工工艺参数动态优化方法，包括：(1)设置采样的加工状态信息和加工程序指令序列信息，并相应配置形成加工信息动态采集界面；(2)实时采集获取实际加工数据，并利用正余弦算子对采集的数据进行迭代平滑处理，并提取滤波处理后信号的特征值；(3)根据当前行加工的G指令和/或刀位轨迹类型在工艺系数数据库中选择确定优化系数；(4)利用上述步骤获取的特征值以及优化系数，建立优化模型，据此计算当前合理的工艺参数，从而实现对加工工艺参数的动态优化。本发明的方法以指令域分析为基础，可以实现对数控系统工艺参数快速优化，实现与插补周期同步，最大程度实现数控系统加工质量与效率的提升。
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公开(公告)号：CN113766015A
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN202110969231.3
申请日：2021-08-23
申请人： 武汉华中数控股份有限公司 , 华中科技大学
IPC分类号： H04L29/08
摘要： 本发明提供了一种NC‑Link层、基于其的通讯系统及方法，属于工业互联通讯领域，系统具体为：应用层用于下发命令指令，并接收NC‑Link层反馈的采集数据和响应；代理器用于将接收的应用层下发的命令指令传递至适配器，并将接收的适配器反馈的数据和响应传输至应用层；适配器用于从设备采集其属性数据、参数数据或运行数据并进行格式解析和转换，以统一格式传送到代理器，或者接收从代理器传来的控制信息，按照指定的设备要求转换并传递到对应的设备。本发明NC‑Link层可以快速适配所有具备工业控制系统的设备型号，不需要用户对设备定义设备模型，也并不需要单独为每个设备建立设备模型。
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公开(公告)号：CN110926670B
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201911154912.3
申请日：2019-11-22
申请人： 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC分类号： G01L3/00
摘要： 本发明属于电机性能检测领域，并具体公开了一种高转速立式加载测功机及其应用，其包括加载电机传动轴、加载电机转子、加载电机定子和扭矩测量装置，其中：加载电机传动轴沿竖直方向设置，其上部用于与被测装置连接，其下部用于与动力输入装置连接，同时该加载电机传动轴与加载电机转子固定连接，工作时动力输入装置通过加载电机传动轴带动加载电机转子旋转，加载电机定子套设在加载电机转子的外侧，并利用固定轴承或测功机基座进行固定，工作时利用扭矩测量装置测量传动轴的扭矩输出，从而对被测装置进行功率测试。本发明能够摆脱重力对测功机的不利影响，避免因复杂的机械结构装配存在的质量问题带来功率损耗，方便测试时更换被测电机。
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公开(公告)号：CN112615935A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011568565.1
申请日：2020-12-25
申请人： 武汉华中数控股份有限公司 , 华中科技大学
摘要： 本发明提供了一种终端设备联网参考模型及其交互方法，属于工业大数据及智能制造技术领域。终端设备联网参考模型包括应用系统、代理器和适配器；代理器与应用系统间、代理器与适配器间的数据接口兼容NC‑Link协议；支持多个应用系统与一个代理器的一侧双向数据交互，一个代理器的另一侧与多个适配器的双向数据交互；应用系统用于通过适配器和代理器接收终端设备的反馈数据，并向代理器发送数据交互指令；代理器用于向应用系统传输反馈数据，或向适配器发送数据交互指令；适配器用于与终端设备通过接口进行数据交互；本发明提供了一种终端设备联网参考模型，并以统一的NC‑Link接口进行数据交互，解决了工业互联网终端设备接入难度较大且成本较高的问题。
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公开(公告)号：CN108958161B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201810849588.6
申请日：2018-07-28
申请人： 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC分类号： G05B19/19
摘要： 本发明属于数控加工相关技术领域，其公开了一种五轴刀具轨迹的B样条拟合方法，该方法包括以下步骤：S1，根据五轴离散刀具轨迹，建立五轴B样条刀具轨迹；S2，计算五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差，并检测所述五轴B样条刀具轨迹的弦高差约束和光顺性，其中，所述五轴B样条刀具轨迹的光顺性包括刀位点B样条轨迹的光顺性、刀轴光顺性及等距精度；S3，根据得到的所述五轴B样条刀具轨迹的最大弦高差及刀位点B样条轨迹的光顺性检测结果，对所述五轴B样条刀具轨迹进行调整，以建立满足加工要求的五轴B样条刀具轨迹。本发明能全面高效地评估五轴B样条刀具轨迹的质量，且获得的刀具轨迹一定满足五轴数控机床高速高精的加工要求。
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公开(公告)号：CN110134074A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201810104277.7
申请日：2018-02-02
申请人： 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC分类号： G05B19/418
摘要： 本发明提供了一种生产线系统及其控制方法。其中，一种生产线的控制系统，包括：多个控制子系统，用于分别控制与各个控制子系统相对应的设备；指令派发器，根据规范指令的类型将所述规范指令分配给所述多个控制子系统中与所述类型相对应的控制子系统。另外，本发明还提供一种用以存储处理器可执行指令的计算机可读存储介质和一种计算机设备。采用本发明能够增加了产线控制系统的精确性、稳定性和移植性，便于柔性产线量产，也使柔性产线具备高可用性。
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公开(公告)号：CN105425725B
公开(公告)日：2017-10-31
申请号：CN201510903480.7
申请日：2015-12-09
申请人： 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC分类号： G05B19/19
摘要： 本发明公开了一种离散刀具轨迹的曲线拟合方法，首先根据离散刀具轨迹建立拟合曲线，其次通过采样点将所述拟合曲线划分为多个采样区间，并通过计算多个采样区间内的最大弦高差，以及离散刀具轨迹到拟合曲线的距离，从而判断所述拟合曲线的最大弦高差是否超过加工系统的弦高差阈值，以及所述拟合曲线的光顺性是否满足加工系统的要求，然后根据检测结果对拟合曲线进行调整，最终建立具有满足加工系统误差以及光顺性要求的轨迹曲线。通过本发明，能高效率地全面检测拟合曲线上超过加工系统的误差阈值的区间，从而使得离散刀具轨迹的拟合曲线不仅能满足弦高差的精度要求，同时也满足光顺性要求，使得数控加工产品具有更高的精度以及更好的加工质量。
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公开(公告)号：CN107228610A
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201710309984.5
申请日：2017-05-03
申请人： 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
摘要： 一种针对筒状曲面的螺旋式扫描测量轨迹规划方法，属于曲面坐标测量技术领域，用于筒状曲面测量，目的是通过减少测头的非测量移动时间以及引导轨迹C(t)的长度，以提高筒状类零件的测量效率。本发明包括构成偏置曲面Sr步骤、偏置曲面Sr三角化步骤、三角化偏置曲面St参数化步骤、规划导向线及间隔线步骤、计算螺旋导向线G(t)和螺旋间隔线E(t)步骤、计算引导轨迹C(t)步骤、生成摆动轨迹参考扫描曲线步骤以及生成摆动扫描轨迹P(t)步骤。本发明测量过程可以通过测头探针针尖的一次往复扫描运动就能够完成，有效地减少了筒状曲面测量过程中测头的非测量移动时间和引导轨迹C(t)的长度，从而显著地提高了筒状曲面的测量效率。
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公开(公告)号：CN105092228A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510530851.1
申请日：2015-08-26
申请人： 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC分类号： G01M13/00
摘要： 本发明公开了一种传动切换装置，包括箱体、第一转轴、第二转轴和带轮传动机构，第一转轴和第二转轴分别可转动安装在箱体上，第一转轴和第二转轴相互平行且第一转轴位于第二转轴的下方；第一转轴和第二转轴通过所述带轮传动机构连接；箱体在对应于第一转轴和第二转轴的位置分别设置有第一动力源安装通孔和第二动力源安装通孔，以用于选择在第一动力源安装通孔或第二动力源安装通孔处安装动力源，进而通过所述动力源驱动所述第一转轴旋转。本发明极大地扩展了机床的测试平台的功能范围，简化了测试平台的系统结构和调整切换操作，降低了整个测试平台的重量和尺寸，为快速方便的开展实验研究提供了保障。
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