一种钨锡系助熔剂片的制备方法

    公开(公告)号:CN111318613B

    公开(公告)日:2021-07-02

    申请号:CN202010130373.6

    申请日:2020-02-28

    IPC分类号: B21D33/00 B22F3/02

    摘要: 本发明涉及一种钨锡系助熔剂片的制备方法。其技术方案是:冲压头Ⅰ、冲压头Ⅱ和冲压头Ⅲ的冲压面尺寸依次为直径d1=14.0mm、正方形边长a1=17.0mm和直径d3=13.8mm,孔板Ⅰ的直径为14.0mm圆孔,孔板Ⅱ和孔板Ⅲ边长依次为17.1mm和15.0mm的正方孔。将孔板Ⅱ置于孔板Ⅰ上对齐后固定在底板Ⅳ的侧板上,将锡箔覆盖于孔板Ⅱ的孔上,用冲压头Ⅰ冲压,得到锡箔凹盘;将0.40~0.70g钨铁混合物或将同样质量的钨粒置于锡箔凹盘中,用孔板Ⅲ换下孔板Ⅱ,再用另一锡箔覆盖孔板Ⅲ的孔,用冲压头Ⅱ冲压,得到包锡块;用冲压头Ⅲ将包锡块冲压到底板Ⅳ上,将包锡块压实,得到钨锡系助熔剂片。本发明具有操作方便、生产成本低、能耗低和操作安全的特点。

    基于助脱模剂的钴内标XRF分析用玻璃片的制备方法

    公开(公告)号:CN108982562B

    公开(公告)日:2021-02-19

    申请号:CN201810876639.4

    申请日:2018-08-03

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明涉及一种基于助脱模剂的钴内标XRF分析用玻璃片的制备方法。其方案是:将0.1g三氧化二钴、6~7g四硼酸锂和0.1g助脱模剂混匀,得到含钴和助脱模剂的四硼酸锂,简称混合物Ⅰ。将1g碳酸锂、0.15~0.2g助脱模剂、0.05~0.08g碘化物和0.5g试料混匀,得到含碘和助脱模剂的碳酸锂,简称混合物Ⅱ。将5~6g混合物Ⅰ置于铂金坩埚中,再放入混合物Ⅱ,用剩余的混合物Ⅰ覆盖。将装有混合物Ⅰ和混合物Ⅱ的铂金坩埚置于高温炉中,在680~720℃预氧化,取出,移至另一高温炉内,在980~1050℃熔融;取出,自然冷却,剥离,脱模,得到基于助脱模剂的钴内标XRF分析用玻璃片。本发明环境友好、成本低和周期短,用所制制品分析的准确度高。

    一种XRF钴内标分析用包衣熔剂片的制备方法

    公开(公告)号:CN108414556A

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201810077108.9

    申请日:2018-01-26

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明涉及一种XRF钴内标分析用包衣熔剂片的制备方法。其技术方案是:按四硼酸锂∶聚乙烯醇的质量比为100∶(2~3)配料,混合均匀,用水调制为可塑料;称取1.10g可塑料,压制为凹弧面片,制得坩埚。再按Co2O3∶Li2B4O7的质量比为0.11∶1配料,混合均匀,得到混合粉Ⅱ;然后将0.9997~1.0003g的混合粉Ⅱ置于所述坩埚内,取1.00g可塑料均匀覆盖在所述坩埚内的混合粉Ⅱ上,压制成坯,烘干,包衣,制得含钴包衣熔剂片。在所制含钴包衣熔剂N片中抽取10~N1/3片所述含钴包衣熔剂片,测定Co2O3量,评定制备误差,得到XRF钴内标分析用包衣熔剂片。本发明的内标物加入量精密度高、内标物加入量误差可评定、分析效率高、无内标物转移损失和同时加入氧化剂。

    一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法

    公开(公告)号:CN110470686B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201910735179.8

    申请日:2019-08-09

    IPC分类号: G01N23/2202 G01N23/223

    摘要: 本发明涉及一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法。其技术方案是:将2.5~3.5g工业硼酸置于XRFS分析用压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层;按试样粉末∶结合剂的质量比为100∶(0.3~3),将所述试样粉末和所述结合剂混合均匀,得到混合粉;将衬托膜平铺在所述衬底层上,然后将0.5~3g所述混合粉或0.5~3g所述试样粉末均匀地铺洒在衬托膜上,用样勺抹平;所述衬托膜的直径d1=d0‑(3~5)mm,厚度为0.1~0.3mm;其中:d0表示压片机装料腔的直径,mm;将聚乙烯膜覆盖于XRFS分析用压片机压头的工作面上,加压,保压,脱模,得到聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片。本发明具有效率高、成片率高和测量误差小的特点。

    一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法

    公开(公告)号:CN110470685B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201910728811.6

    申请日:2019-08-08

    IPC分类号: G01N23/2202 G01N23/223

    摘要: 本发明涉及一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法。其技术方案是:将2.5~3.5g的硼酸置入压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层;再将厚度为0.5~1mm的薄膜材料制成直径d=d0‑(3~5mm)的圆片,即得衬托膜;其中:d0表示压片机装料腔的直径,mm;然后将所述衬托膜平铺在所述衬底层上,将0.5~3g的试样粉末均匀地铺撒在所述衬托膜上;最后用样勺将试样粉末抹平,安装压片机压头,加压,保压,脱模,得到硼酸衬底的XRFS分析用样片。本发明具有效率高、不易产生剥离层、试样粉末用量小和成片率高的特点。

    一种XRFS分析用样片的试样粉末布置方法

    公开(公告)号:CN111289550A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN202010220514.3

    申请日:2020-03-25

    IPC分类号: G01N23/2202 G01N23/223

    摘要: 本发明涉及一种XRFS分析用样片的试样粉末布置方法。其技术方案是:将圆形纸巾用胶水粘贴在布置管的下端面,封住端口,得到纸底布置管。所述布置管是由内径相同的短管和圆环组成的同轴线整体,布置管高度H1=15~20mm,圆环高度H2=1mm,布置管下端的圆环端口均匀地开有24个相同的“凹”形口。将1.0~2.0g的硼酸置于XRFS分析用粉末压片机料仓中的下压头上,将纸底布置管装入XRFS分析用粉末压片机的装料仓中,再将0.5~1.5g的待压试样粉末从纸底布置管的上端加入,用样勺将待压试样粉末覆盖纸底布置管的纸底,用压杆从纸底布置管上端将试样粉末压住,取出布置管和压杆即可。本发明具有布样速度快、能耗低和样片分析层厚度均匀的特点。