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公开(公告)号：CN114966373A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210567409.6
申请日：2022-05-24
Applicant: 江苏科技大学 , 江阴捷芯电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种集成电路模数转换芯片参数测试方法和测试系统，其中测试方法包括步骤：1、采用二重卷积窗函数对ADC的输出信号x(n)进行加权移位相加，得到截取信号y(m)；所述二重卷积窗函数由长度为M的汉宁窗进行两次自卷积和两端补零后得到；2、对截取信号y(m)进行频谱分析，计算ADC的动态参数。当为待测ADC提供输入的正弦信号源频率精度不高而产生频谱泄漏时，该方法可以有效的恢复其在相干采样下的频谱。
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公开(公告)号：CN119865173A
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202411922634.2
申请日：2024-12-25
Applicant: 江阴捷芯电子科技有限公司
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了一种基于群最小均方算法的无约束张弛型数模转换器数字校准方法，包括：初始化SLMS算法参数，生成长度为n的随机二进制序列ba；利用l个长度为n的随机二进制序列ba对Uc‑ReDAC的校准电路进行充放电并记录输出电压#imgabs0#计算校准电路中l个校准电压与对应#imgabs1#的误差e(n)，并计算误差均值#imgabs2#利用误差均值#imgabs3#计算SLMS算法的当前自适应步长；利用误差均值#imgabs4#及当前自适应步长更新权重系数m；判断迭代次数是否为最大迭代次数，若不是，更新最佳权重系数Gm，并返回步骤S1反之，输出τ0；根据输出的τ0生成新的二进制编码集。本发明使用SLMS算法找到RC网络的实际时钟常数，并基于此常数生成新的二进制编码集，有效抑制了RC网络的寄生效应对Uc‑ReDAC性能的影响。
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公开(公告)号：CN116667853B
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202310444128.6
申请日：2023-04-24
Applicant: 江阴捷芯电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种无约束张弛型数模转换器包括存储模块、电压编码获取模块、移位寄存器、三态缓冲器控制模块、三态缓冲器、一阶RC网络；其中存储模块用于存储电压编码集，电压编码集为2N‑1个电压编码构成的集合；电压编码获取模块用于根据数字输入Din获取期望的输出电压对应的电压编码，并传输至移位寄存器；移位寄存器在时钟信号CLK的控制下对存储的数据进行移位，并输出至三态缓冲器；三态缓冲器控制模块根据期望输出电压对应的电压编码长度和时钟信号CLK的周期T确定三态缓冲器高阻态使能信号的电平；一阶RC网络根据三态缓冲器输出电平进行充放电。该DAC的工作时钟周期可以为任意可实现的精确时钟频率，无需为无理数。
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公开(公告)号：CN118279335A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410390634.6
申请日：2024-04-02
Applicant: 江阴捷芯电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于改进区域灰度模型的晶圆针印图像边缘亚像素检测方法，包括如下步骤：采集待检测的晶圆针印图像；将采集到的晶圆针印图像进行预处理，将RGB图像转为灰度图；将晶圆针印图像进行边缘点粗提取，生成粗提取图像；根据构建好的改进区域灰度模型，采用改进区域灰度模型法对粗提取图像进行边缘点亚像素检测，输出得到检测结果。本发明通过设计Canny算子结合各向异性扩散滤波去除图像中的噪声和平滑图像，保留图像的边缘和细节信息，并消除图像中的噪声，通过改进子图像合并中的强度值计算方法，设计自适应加权计算，提高图像边缘亚像素检测结果的准确度。
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公开(公告)号：CN116667853A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310444128.6
申请日：2023-04-24
Applicant: 江阴捷芯电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种无约束张弛型数模转换器包括存储模块、电压编码获取模块、移位寄存器、三态缓冲器控制模块、三态缓冲器、一阶RC网络；其中存储模块用于存储电压编码集，电压编码集为2N‑1个电压编码构成的集合；电压编码获取模块用于根据数字输入Din获取期望的输出电压对应的电压编码，并传输至移位寄存器；移位寄存器在时钟信号CLK的控制下对存储的数据进行移位，并输出至三态缓冲器；三态缓冲器控制模块根据期望输出电压对应的电压编码长度和时钟信号CLK的周期T确定三态缓冲器高阻态使能信号的电平；一阶RC网络根据三态缓冲器输出电平进行充放电。该DAC的工作时钟周期可以为任意可实现的精确时钟频率，无需为无理数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116298817A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310373088.0
申请日：2023-04-10
Applicant: 江苏科技大学 , 江阴捷芯电子科技有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了本发明为一种用于集成电路测试的全合成精密测量单元，该精密测量单元包括全数字DAC模块、全合成ADC模块以及增益测量模块组成的精密测量单元。全数字DAC模块由DDR‑DDPM和LPF合成，用于为DUT提供激励。全合成ADC由全数字子DAC、电压比较器和SAR逻辑合成，用于DUT数据读取。增益测量模块由模拟元件构成，提供增益以及测试向量间的转换功能。本发明可解决进口PMU芯片成本过高及减少电容寄生效应提高精度等优点。
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公开(公告)号：CN115870242A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202211498058.4
申请日：2022-11-27
Applicant: 江阴捷芯电子科技有限公司
Abstract: 本发明适用于电源管理芯片测试分选技术领域，提供一种电源管理芯片多测位并联测试分选装置，包括底座，所述底座的顶部对称安装有两组进料组件，两组所述进料组件相对的一侧均安装有锁止机构，所述底座的顶部安装有摆动组件，所述摆动组件的一侧安装有调节机构，所述调节机构位于两组进料组件之间，所述底座的顶部安装有两组测试机构，两组所述测试机构均位于两组进料组件的下方，所述进料组件包括支架，所述支架安装于底座的顶部，所述支架的顶部均匀安装有主轨道，所述主轨道的内部设置有芯片，该装置解决了一个驱动异常导致装置整体停机影响效率的问题，达到了一个轨道异常不影响其他轨道运行的效果，并且达到了避免了堆料的目的。
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公开(公告)号：CN115684869A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211024632.2
申请日：2022-08-25
Applicant: 江阴捷芯电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于电源管理的芯片测试系统及方法，涉及芯片测试技术领域。本系统包括数据采集模块、预测模型构建分析模块、判断模型构建分析模块、预警模块和电源管理模块；所述数据采集模块的输出端与所述预测模型构建分析模块的输入端相连接；所述预测模型构建分析模块的输出端与所述判断模型构建分析模块的输入端相连接；所述判断模型构建分析模块的输出端与所述预警模块的输入端相连接；所述预警模块的输出端与所述电源管理模块的输入端相连接。本发明还提供了一种基于电源管理的芯片测试方法，用以具体分析。本发明能够通过构建判断模型对出错的封装环节进行判断，快速地找出出错的封装环节，提高封装测试的效率。
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公开(公告)号：CN219326317U
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202223463219.4
申请日：2022-12-25
Applicant: 江阴捷芯电子科技有限公司
Inventor： 王璐
IPC: B65G49/07 , B65G47/248
Abstract: 本实用新型公开了一种芯片测试用翻转机构，包括芯片测试机，所述芯片测试机的底面四角固定连接有脚撑，所述芯片测试机的上部设置有工位，所述工位的内底面中心部位固定连接有治具组件，所述治具组件的正上方固定连接有升降组件，所述升降组件包括滑动板，所述滑动板的底面固定连接有翻转组件；该装置解决了现有的芯片测试用翻转机构翻转的成功率不高的技术问题，通过设置升降组件和翻转组件使每个芯片在对一面测试完成之后就能立马翻面随即对另一面进行测试，达到了翻转成功率高，且避免翻转未成功后人工进行挑拣翻转的过程中汗液对芯片造成损伤的技术效果。
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公开(公告)号：CN219201860U
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN202223016271.5
申请日：2022-11-14
Applicant: 江阴捷芯电子科技有限公司
Inventor： 王璐
IPC: G01R31/378
Abstract: 本实用新型公开了一种锂电池充电管理芯片测试检测装置，包括支撑腿，所述支撑腿沿矩形阵列设置有四个，所述支撑腿上固定安装有对应设置的支撑台，所述支撑台上转动安装有对应设置的齿轮，所述每一齿轮均啮合有转台，所述转台与支撑台转动连接，所述支撑台靠近转台的一侧安装有挡板，所述转台上固定安装有矩形阵列设置的放置台，所述放置台上固定安装有检测组件,解决了需要反复将压块放到检测芯片上对凸块进行整平时耗时耗力、并且检测效率不高的问题，实现了在检测芯片的过程中省时省力、检测效率高的技术特点。
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