一种晶片全自动目检机
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102500554A

    公开(公告)日:2012-06-20

    申请号:CN201110308021.6

    申请日:2011-10-12

    Abstract: 本发明提供了一种晶片全自动目检机,属于机械技术领域。它解决了现有的技术中存在的工作效率比较低等技术问题。本晶片全自动目检机,包括一个机架,机架上设有取片转盘、检测转盘和收料盒,机架和取片转盘之间设有能将晶片输送至取片转盘上的进料机构,检测转盘和取片转盘之间设有能够将取片转盘上的晶片转移至检测转盘上预设位置的移料机构,检测转盘的上放和下方分别设有成像机构一和成像机构二,本目检机还包括一个与成像机构一和成像机构二相连的分析计算机,收料盒和检测转盘之间设有能够根据检测结果将检测转盘上的晶片放置在收料盒内不同位置的放料机构。本装置实现全自动化检测,相比目前通过人工目检方式,本装置能够提高工作效率。

    里程检定过程自动跟踪读数方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119741332A

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN202411797775.6

    申请日:2024-12-09

    Abstract: 本发明提供的里程检定过程自动跟踪读数方法,具体步骤包括:采集检测区域的图像,通过背景差分算法对采集图像进行分析,以判断检测区域内是否有大目标进入;基于分析的图像,通过目标搜索算法搜索图像视场中的大目标和大目标内的小目标,通过对小目标所在视场进行放大和对焦,获得清晰的小目标图像;获取小目标所在位置的模板图像,在模板图像中标记出里程数据的相对位置,根据相对位置计算出实际姿态下小目标里程数据所在位置的理论值;基于理论值,提取小目标里程数据所在的矩形位置信息;基于小目标里程数据的矩形位置信息,解析出当前里程数据;通过上述方法,本发明能够精准读取小目标中的里程数据,为里程数据的后续处理提供了便利。

    里程计量全自动检定系统
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119666023A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411797773.7

    申请日:2024-12-09

    Abstract: 本发明提供的里程计量全自动检定系统,其包括:采样模块,其通过工业球机获取检测区域的图像;图像分析模块,其通过对获取图像进行背景差分分析,以判断检测区域是否有大目标进入,为进一步识别和定位小目标提供了保障;定位模块,若有大目标进入,其通过目标搜索算法对大目标内的小目标进行定位,并对小目标的清晰度进行处理,为更好的识别小目标中的里程数提供保证;识别模块,针对清晰的小目标图像,其采用OCR字符识别模型小目标中显示的里程数;本发明通过机器视觉自动识别来替代传统的人工观测的方式,有效的提高了里程检定的效率和准确性,简化了检定流程。

    一种晶片全自动目检机
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN202270657U

    公开(公告)日:2012-06-13

    申请号:CN201120386688.3

    申请日:2011-10-12

    Abstract: 本实用新型提供了一种晶片全自动目检机,属于机械技术领域。它解决了现有的技术中存在的工作效率比较低等技术问题。本晶片全自动目检机,包括一个机架,机架上设有取片转盘、检测转盘和收料盒,机架和取片转盘之间设有能将晶片输送至取片转盘上的进料机构,检测转盘和取片转盘之间设有能够将取片转盘上的晶片转移至检测转盘上预设位置的移料机构,检测转盘的上放和下方分别设有成像机构一和成像机构二,本目检机还包括一个与成像机构一和成像机构二相连的分析计算机,收料盒和检测转盘之间设有能够根据检测结果将检测转盘上的晶片放置在收料盒内不同位置的放料机构。本装置实现全自动化检测,相比目前通过人工目检方式,本装置能够提高工作效率。

    一种晶片全自动目检机中的放料装置

    公开(公告)号:CN202275058U

    公开(公告)日:2012-06-13

    申请号:CN201120386623.9

    申请日:2011-10-12

    Abstract: 本实用新型提供了一种晶片全自动目检机中的放料装置,属于机械技术领域。它解决了现有的技术中存在的人工取料过程速度慢等技术问题。本晶片全自动目检机中的放料装置,该目检机包括一个机架,机架上设有检测转盘和收料盒,收料盒位于检测转盘的一侧,本放料装置包括一个横臂和固设在该横臂一端的吸头,吸头位于检测转盘的上方,横臂的另一端和机架之间设有一个导向机构,通过该导向机构能使横臂带动吸头位于收料盒的上方。本装置采用横臂和吸头的结构实现自动取料的过程,可根据晶片的分析结果将合格或不合格的晶片分类放置在收料盒内的不同位置上,提高了取料的速度。

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