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公开(公告)号：CN105339843B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201480036205.3
申请日：2014-06-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01T1/2014 , A61B6/42 , A61B6/54 , G01T1/208 , G03B42/02
Abstract: 放射线图像读出装置(20)具备：MEMS镜(4)，在记录有图像的记录介质上扫描激发光；光检测元件(6)，将光电二极管阵列(10)作为一个信道且具有多个信道，检测从记录介质上的激发光被照射的位置产生的光；MEMS镜驱动电路(15)，将多个信道中对应于激发光被照射的位置的信道决定为检测光的光检测信道；读出电路(12)，从MEMS镜驱动电路(15)所决定的信道读出光的检测结果。
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公开(公告)号：CN106921387B
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN201610955356.X
申请日：2016-10-27
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: H03K23/78
Abstract: 本发明涉及一种读取电路，是读取来自将在分别包含雪崩光电二极管的多个像素中产生的电流一并输出的光电转换元件的输出电流的电路，包括：接收上述输出电流，输出与上述输出电流成比例的大小的第1和第2电流的电流镜像电路；基于上述第1电流，进行入射至上述光电转换元件的光子的计数的光子计数电路；对上述第2电流进行积分而生成电压信号的积分电路；和基于从上述光子计数电路输出的计数结果和从上述积分电路输出的上述电压信号的大小，判断入射至上述光电转换元件的光的大小的信号处理部。
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公开(公告)号：CN103650166B
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201180072092.9
申请日：2011-12-05
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: H01L31/107 , H01L27/146
CPC classification number: H01L27/1446
Abstract: 本发明提供光电二极管阵列、基准电压决定方法及推荐动作电压决定方法。对光电二极管阵列施加反偏电压，该光电二极管阵列具备：以盖格模式动作的多个雪崩光电二极管；及相对于各雪崩光电二极管串联连接的降压电阻。使施加的反偏电压变化而测定电流，并将所测定的电流的变化中的拐点处的反偏电压作为基准电压而决定。将对所决定的基准电压加上规定的值而得到的电压作为推荐动作电压而决定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105339843A
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201480036205.3
申请日：2014-06-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01T1/2014 , A61B6/42 , A61B6/54 , G01T1/208 , G03B42/02
Abstract: 放射线图像读出装置(20)具备：MEMS镜(4)，在记录有图像的记录介质上扫描激发光；光检测元件(6)，将光电二极管阵列(10)作为一个信道且具有多个信道，检测从记录介质上的激发光被照射的位置产生的光；MEMS镜驱动电路(15)，将多个信道中对应于激发光被照射的位置的信道决定为检测光的光检测信道；读出电路(12)，从MEMS镜驱动电路(15)所决定的信道读出光的检测结果。
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公开(公告)号：CN103650166A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201180072092.9
申请日：2011-12-05
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: H01L31/107 , H01L27/146
CPC classification number: H01L27/1446
Abstract: 本发明提供光电二极管阵列、基准电压决定方法及推荐动作电压决定方法。对光电二极管阵列施加反偏电压，该光电二极管阵列具备：以盖格模式动作的多个雪崩光电二极管；及相对于各雪崩光电二极管串联连接的降压电阻。使施加的反偏电压变化而测定电流，并将所测定的电流的变化中的拐点处的反偏电压作为基准电压而决定。将对所决定的基准电压加上规定的值而得到的电压作为推荐动作电压而决定。
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公开(公告)号：CN105122084B
公开(公告)日：2018-07-13
申请号：CN201480020443.5
申请日：2014-01-24
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01T1/2014 , G01T1/2018 , G02B5/04 , G02B26/0833 , G03B42/023 , G03B42/08 , G21K4/00
Abstract: 放射线图像检测装置(20)包括：光检测元件(10)，其检测荧光光；及棱镜(5)，其配置在朝向成像板(IP)的激发光(EL)的光路上且光检测元件(10)与成像板(IP)之间。棱镜(5)作为表面而具有：侧面(5c)，其与成像板(IP)相对；以及侧面(5a)及侧面(5b)，其相对于侧面(5c)倾斜。棱镜(5)以如下方式配置：自侧面(5a)入射的激发光(EL)在内部传播并自侧面(5c)出射，且自侧面(5c)入射的来自成像板(IP)的反射光在内部传播并自侧面(5b)出射。光检测元件(10)与棱镜(5)的表面中的与来自成像板(IP)的反射光出射的区域不同的区域相对配置。
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公开(公告)号：CN106921387A
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201610955356.X
申请日：2016-10-27
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: H03K23/78
CPC classification number: G01T1/247 , G01T1/18 , H01L31/02027 , H03K23/78
Abstract: 本发明涉及一种读取电路，是读取来自将在分别包含雪崩光电二极管的多个像素中产生的电流一并输出的光电转换元件的输出电流的电路，包括：接收上述输出电流，输出与上述输出电流成比例的大小的第1和第2电流的电流镜像电路；基于上述第1电流，进行入射至上述光电转换元件的光子的计数的光子计数电路；对上述第2电流进行积分而生成电压信号的积分电路；和基于从上述光子计数电路输出的计数结果和从上述积分电路输出的上述电压信号的大小，判断入射至上述光电转换元件的光的大小的信号处理部。
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公开(公告)号：CN105122084A
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201480020443.5
申请日：2014-01-24
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01T1/2014 , G01T1/2018 , G02B5/04 , G02B26/0833 , G03B42/023 , G03B42/08 , G21K4/00
Abstract: 放射线图像检测装置(20)包括：光检测元件(10)，其检测荧光光；及棱镜(5)，其配置在朝向成像板(IP)的激发光(EL)的光路上且光检测元件(10)与成像板(IP)之间。棱镜(5)作为表面而具有：侧面(5c)，其与成像板(IP)相对；以及侧面(5a)及侧面(5b)，其相对于侧面(5c)倾斜。棱镜(5)以如下方式配置：自侧面(5a)入射的激发光(EL)在内部传播并自侧面(5c)出射，且自侧面(5c)入射的来自成像板(IP)的反射光在内部传播并自侧面(5b)出射。光检测元件(10)与棱镜(5)的表面中的与来自成像板(IP)的反射光出射的区域不同的区域相对配置。
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