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公开(公告)号：CN108227324A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201810036209.1
申请日：2018-01-15
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/1362
CPC分类号： G02F1/136259 , G02F2001/136222
摘要： 本发明提供了一种用于断线修补的测试键和测试方法以及断线修补方法。所述测试键包括：金属层，包括两个电断开的第一测试点和第二测试点；滤色器层，位于金属层上，包括彩色光阻；附加金属层，位于金属层下，包括第三测试点；上绝缘层，位于金属层与滤色器层之间；下绝缘层，位于金属层与附加金属层之间。
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公开(公告)号：CN104201151A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201410426119.5
申请日：2014-08-26
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
发明人： 高鹏
IPC分类号： H01L21/77 , H01L27/12 , G02F1/1368
CPC分类号： G02F1/1368 , H01L21/77 , H01L27/12 , H01L27/124 , H01L27/1259
摘要： 本发明公开了一种薄膜晶体管阵列基板及其像素暗点化处理方法，薄膜晶体管阵列基板包括数据线、扫描线、公共线、第一像素以及经过暗点化处理的像素；经过暗点化处理的像素是对薄膜晶体管阵列基板的第二像素进行暗点化处理来形成的，经过暗点化处理的像素包括第二薄膜晶体管和第二像素电极，其中，第二薄膜晶体管与扫描线和第二像素电极连接，第二薄膜晶体管与数据线处于断开连接状态，第二像素电极与公共线之间设置有绝缘层，第二像素电极与公共线处于电性连接状态。本发明对部分像素进行暗点化处理，从而使得经过暗点化处理的像素对应的区域显示为常暗态。
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公开(公告)号：CN109333337A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811379341.9
申请日：2018-11-19
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
IPC分类号： B24B37/10 , B24B37/04 , B24B37/34 , B24B37/005 , B24B55/06
摘要： 本发明提供一种研磨装置及研磨方法。该研磨装置包括具有间隔设置的放片区域与取片区域的运动轴、设于所述运动轴上方并位于放片区域与取片区域之间的研磨单元、设于所述运动轴上的承载平台、设于所述研磨单元上的清洗单元以及与所述清洗单元连接的控制单元，所述承载平台用于在放片区域、研磨单元及取片区域之间往复运动，并将待研磨的面板从放片区域搬运至研磨单元，将研磨后的面板从研磨单元搬运至取片区域，所述控制单元用于控制清洗单元在承载平台从取片区域运动至研磨单元时对承载平台进行清洗，去除面板研磨产生的玻璃碎渣等残留物，避免造成大批量面板产生mura或者破片的风险。
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公开(公告)号：CN105097674B
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201510561435.8
申请日：2015-09-07
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
发明人： 高鹏
IPC分类号： H01L21/77 , G02F1/1362 , G02F1/1333 , G03F9/00
摘要： 本发明提出了一种在玻璃基板上重新制作扫描线的方法，其包括：步骤一：向玻璃基板上的对位记号凹槽内填充不透光材料以在对位记号凹槽内形成基板标记；步骤二：将扫描线掩膜上的且透光的第一对位标记与基板标记对应对齐。采用本方法重新在玻璃基板上制作扫描线，在玻璃基板上不会出现重影的现象。由此不会出现由于玻璃基板上有重影而导致曝光机无法抓取新对位记号的现象。
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公开(公告)号：CN105093756B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201510548242.9
申请日：2015-08-31
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/1362 , G02F1/1368
摘要： 本发明提供一种液晶显示像素结构及其制作方法。该液晶显示像素结构的每一次像素区域内包括一下拉分享电容(C)与对应连接下拉分享电容(C)的下拉分享控制TFT(T)；所述下拉分享电容(C)的两电极板分别为：与下拉分享控制TFT(T)的源极(41)、漏极(43)、及数据线(45)位于同一层且共同由第二金属层形成的金属电极板(47)、与次像素电极(61)位于同一层且共同由透明导电薄膜形成的透明电极板(63)；所述金属电极板(47)与透明电极板(63)之间仅间隔一钝化层(5)。金属电极板(47)与透明电极板(63)之间的间距减小，能够减小下拉分享电容(C)的面积，增大像素开口率，节约能耗，降低成本。
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公开(公告)号：CN108957823A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810922258.5
申请日：2018-08-14
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
发明人： 高鹏
IPC分类号： G02F1/1333
CPC分类号： G02F1/1333 , G02F2001/133354 , G02F2001/133374
摘要： 本申请提供了一种用于显示面板的读取装置，该读取装置包括两个读取机构，显示面板包括相对设置的上基板及下基板，上基板与下基板分别设有第一标记及第二标记，两个读取机构分别用于向第一标记及第二标记发射光线，以读取第一标记及第二标记。通过这种方式，可以在第一标记或第二标记中的任一个无法被读取时读取另外一个，以保证后续工序的正常进行，从而提高生产效率。
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公开(公告)号：CN107115713A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710407164.X
申请日：2017-06-02
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
IPC分类号： B01D35/30
CPC分类号： B01D35/30
摘要： 本发明公开了一种滤芯通用安装构件及过滤装置，涉及过滤设备技术领域，用于使两种不同滤芯能够安装在同一种壳体中并能进行正常工作，从而达到控制成本的目的。滤芯通用安装构件包括滤筒，通过采用一个具有内腔的滤筒，使第一滤芯(即滤芯K/F)可安装在该滤筒内，该滤筒的两端分别有固定件和盖体，既可将第一滤芯固定于滤筒上，又可使滤筒与第二滤芯(即滤芯B)壳体相连，因此即可实现将第一滤芯替换第二滤芯，并使用第二滤芯的壳体进行正常工作的目的。
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公开(公告)号：CN106271958A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610648065.6
申请日：2016-08-08
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
发明人： 高鹏
CPC分类号： B24B9/10 , B24B27/0076 , B24B41/005 , B24B41/02 , B24B55/00 , B24B55/02
摘要： 本发明提供一种磨边机及利用磨边机对液晶面板进行打磨的方法，该磨边机包括邻近设置的倒角单元和传送机构，倒角单元包括倒角砥石、打磨电机和水管，倒角砥石设置有金属斜面且安装在打磨电机的转轴上，并在转轴的带动下旋转，水管用于向倒角砥石喷洒冷却水；传送机构包括传送轮和驱动模组，驱动模组安装于传送轮下方且远离倒角单元一侧，液晶面板放置于传送轮上方，驱动模组驱动传送轮转动以移动液晶面板至靠近倒角单元的位置；转轴与液晶面板的移动方向平行设置。通过以上方案，本发明可改变冷却水的喷洒方向，从而解决液晶面板表面水过多易于形成真空异常、驱动模组进水短路、金属机构生锈、下方漏水致地面安全隐患等技术问题。
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公开(公告)号：CN103984132B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410242159.4
申请日：2014-05-31
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本发明提供一种阵列基板线路故障的修复方法，所述方法包括：检测所述阵列基板上线路故障的位置；当所述线路故障的位置位于阵列基板上的至少两条线路形成的交叠区时，将所述交叠区中的每条线路同时断开，以使得所述断开后的每条线路包括两条子线路，所述子线路包括第一端点以及第二端点，所述子线路的所述第二端点较所述子线路的所述第一端点远离所述交叠区；在所述子线路上设置修复点，所述修复点较所述子线路的第一端点远离所述交叠区；以及使用修复线连接属于同一线路的两条子线路上的修复点。本发明能够对两条以上线路的交叠区出现的故障进行修复，解决现有修复手法产品的成品率低、生产成本高的技术问题。
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公开(公告)号：CN105097674A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510561435.8
申请日：2015-09-07
申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
发明人： 高鹏
IPC分类号： H01L21/77 , G02F1/1362 , G02F1/1333 , G03F9/00
CPC分类号： H01L21/77 , G02F1/1333 , G02F1/1362 , G02F1/136286
摘要： 本发明提出了一种在玻璃基板上重新制作扫描线的方法，其包括：步骤一：向玻璃基板上的对位记号凹槽内填充不透光材料以在对位记号凹槽内形成基板标记；步骤二：将扫描线掩膜上的且透光的第一对位标记与基板标记对应对齐。采用本方法重新在玻璃基板上制作扫描线，在玻璃基板上不会出现重影的现象。由此不会出现由于玻璃基板上有重影而导致曝光机无法抓取新对位记号的现象。
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