公开(公告)号：CN109448776A

公开(公告)日：2019-03-08

申请号：CN201811068329.6

申请日：2018-09-13

申请人： 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司

发明人： 罗朝凤 ,  姜胜林 ,  赵俊 ,  张薄军 ,  范旭阳

IPC分类号： G11C29/00 ,  G11C29/08

CPC分类号： G11C29/003 ,  G11C29/08

摘要： 本发明公开了一种NAND FLASH类芯片测试系统，包括主控CPU、TTL接口模块、显示模块、功能选择模块、OS参数测试模块、ICC测试模块、FLASH功能测试模块、电平转换模块和NAND FLASH芯片；主控CPU用于实现对整个系统所有功能模块的控制；显示模块用于实现显示NAND FLASH类芯片测试系统工作过程中检测到的芯片相关信息。本发明所述的一种NAND FLASH类芯片测试系统，由各种小型模块和机械手自动化设备组成，整体成本比较低，在实际的生产过程中，解决了通用测试设备自身体积大、控制程序繁琐、成本高等方面的不足，提高了芯片测试系统生产测试的灵活性，整个成本低，而且操作方便，生产周期短，极大的提高生产效率，带来更好的使用前景。

公开(公告)号：CN109541430A

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：CN201811067323.7

申请日：2018-09-13

申请人： 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司

发明人： 张薄军 ,  姜胜林 ,  赵俊 ,  罗朝凤 ,  周元辰

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/3181 ,  G01R19/00 ,  G11C29/56

CPC分类号： G01R31/2851 ,  G01R19/0084 ,  G01R19/0092 ,  G01R31/3181 ,  G11C29/56

摘要： 本发明公开了一种NOR FLASH类芯片测试系统，包括CPU模块、TTL接口模块、显示模块、功能选择模块、OS参数测试模块、IDD测试模块、FLASH功能测试模块、电平转换模块、系统电源模块和NAND FLASH芯片；CPU模块用于实现对系统中各个模块的功能实现及控制，从而实现对NOR FLASH类芯片的所有功能参数测试。本发明所述的一种NOR FLASH类芯片测试系统，由各种小型模块和机械手自动化设备组成，能够解决生产过程中通用测试设备自身体积大、控制程序繁琐、成本高等方面的不足，提高了芯片测试系统生产测试的灵活性，而且成本比较低，便于工作人员操作，缩短了芯片的生产周期，提高了生产效率，而且满足了并行和串行NOR FLASH类芯片的全面测试，带来更好的使用前景。