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公开(公告)号：CN117687100A
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311695565.1
申请日：2023-12-11
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京神目科技有限公司
Abstract: 一种校准装置、成像装置、校准方法及图像重建方法，该校准装置包括：辐射计阵列，包括多个辐射计通道，辐射计通道适用于对接收的信号波进行探测；在辐射计阵列所处的环境温度变化超过预设阈值的情况下，信号生成机构按时序发出第一驱动信号和第二驱动信号；校准板的温度能够在第一温度和第二温度之间切换；驱动机构被配置为根据第一驱动信号驱动具有第一温度的校准板遮挡辐射计阵列的辐射计通道，使得辐射计阵列的多个辐射计通道对随具有第一温度的校准板发出的信号波分别进行探测，以及根据第二驱动信号驱动具有第二温度的校准板遮挡辐射计阵列的辐射计通道。
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公开(公告)号：CN117705300A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311694927.5
申请日：2023-12-11
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京神目科技有限公司
IPC: G01J5/80
Abstract: 一种太赫兹波探测设备的校准方法、探测方法，该校准方法包括：将辐射计阵列更换为第一检验板；使激光发射组件发出目标激光，调节第一检验板，使得目标激光垂直入射至第一检验板的中心，以确定第一检验板的位姿；按照第一检验板的位姿，将第一检验板更换为辐射计阵列，使得经目标透镜的光束垂直入射至辐射计阵列的中心。
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公开(公告)号：CN118519207A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410813514.2
申请日：2024-06-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 北京神目科技有限公司
Abstract: 提供了一种用于安检机器人的安检方法，该方法包括：所述安检机器人移动至被检查目标附近的特定位置；所述安检机器人通过非接触式探测的方式探测所述被检查目标，获得探测数据；在基于所述探测数据确定所述被检查目标可疑时，所述安检机器人发出第一预警，所述第一预警用于提示使用所述安检机器人的物质成分分析模块对可疑物品检查；响应于所述可疑物品被放置在分析区域，所述安检机器人通过所述物质成分分析模块得到所述可疑物品的成分分析结果。还提供了安检机器人和安检系统。
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公开(公告)号：CN222812949U
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202421428062.8
申请日：2024-06-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 北京神目科技有限公司
IPC: G01V8/10
Abstract: 本实用新型提供了一种安检机器人，包括：壳体；安全查验模块，安装于所述壳体，用于对查验区域内的被检查目标进行非接触式探测；物质成分分析模块，安装于所述壳体，所述物质成分分析模块用于对所述安全查验模块探测出的可疑物品进行物质成分分析；移动模块，与所述壳体连接，用于带动所述壳体移动。本实用新型还提供了一种包括上述安检机器人的安检系统。
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公开(公告)号：CN113835135A
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN202010583713.0
申请日：2020-06-23
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了一种太赫兹安检机器人，包括：壳体，所述壳体包括主壳体以及与所述主壳体转动式连接的头部壳体；太赫兹波成像机构，所述太赫兹波成像机构包括设置在所述头部壳体内的反射镜组件以及设置在所述主壳体内的探测器阵列；以及旋转机构，所述旋转机构用于使所述头部壳体及位于所述头部壳体内的反射镜组件相对于所述主壳体进行转动，从而使得所述太赫兹波成像机构的反射镜组件朝向不同的方向定向，以分别对安检场景中的不同检查区域内的被检查目标进行太赫兹扫描成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103674837A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201210364138.0
申请日：2012-09-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01J3/0291 , G01J3/0202 , G01N21/01 , G01N2201/0253 , H01H3/16
Abstract: 本发明公开了一种光学检测仪触发装置以及具有该触发装置的光学检测仪。该光学检测仪触发装置包括：触发开关，用于在受到触发时启动光学检测以发出检测光；中空的通光轴，用于供检测光从其内腔穿过而到达被测物，所述通光轴与触发开关具有固定的相对位置；和移动触发器，其能够相对于通光轴接近或远离触发开关移动以使触发开关触发或使触发开关复位。该光学检测仪触发装置通过移动触发器相对于触发开关的移动来自动触发光学检测仪的检测操作和及时中止检测操作，既可以提高触发装置的触发速度和效率，又可以减小检测操作的复杂性，避免由于触发和复位操作的错误导致损失。
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公开(公告)号：CN105424182B
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201510716708.1
申请日：2012-09-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明公开了一种光学检测仪触发装置以及具有该触发装置的光学检测仪。该光学检测仪触发装置包括：触发开关，用于在受到触发时启动光学检测以发出检测光；中空的通光轴，用于供检测光从其内腔穿过而到达被测物，所述通光轴与触发开关具有固定的相对位置；和移动触发器，其能够相对于通光轴接近或远离触发开关移动以使触发开关触发或使触发开关复位。该光学检测仪触发装置通过移动触发器相对于触发开关的移动来自动触发光学检测仪的检测操作和及时中止检测操作，既可以提高触发装置的触发速度和效率，又可以减小检测操作的复杂性，避免由于触发和复位操作的错误导致损失。
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公开(公告)号：CN113835135B
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202010583713.0
申请日：2020-06-23
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了一种太赫兹安检机器人，包括：壳体，所述壳体包括主壳体以及与所述主壳体转动式连接的头部壳体；太赫兹波成像机构，所述太赫兹波成像机构包括设置在所述头部壳体内的反射镜组件以及设置在所述主壳体内的探测器阵列；以及旋转机构，所述旋转机构用于使所述头部壳体及位于所述头部壳体内的反射镜组件相对于所述主壳体进行转动，从而使得所述太赫兹波成像机构的反射镜组件朝向不同的方向定向，以分别对安检场景中的不同检查区域内的被检查目标进行太赫兹扫描成像。
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公开(公告)号：CN103674837B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201210364138.0
申请日：2012-09-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01J3/0291 , G01J3/0202 , G01N21/01 , G01N2201/0253 , H01H3/16
Abstract: 本发明公开了一种光学检测仪触发装置以及具有该触发装置的光学检测仪。该光学检测仪触发装置包括：触发开关，用于在受到触发时启动光学检测以发出检测光；中空的通光轴，用于供检测光从其内腔穿过而到达被测物，所述通光轴与触发开关具有固定的相对位置；和移动触发器，其能够相对于通光轴接近或远离触发开关移动以使触发开关触发或使触发开关复位。该光学检测仪触发装置通过移动触发器相对于触发开关的移动来自动触发光学检测仪的检测操作和及时中止检测操作，既可以提高触发装置的触发速度和效率，又可以减小检测操作的复杂性，避免由于触发和复位操作的错误导致损失。
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公开(公告)号：CN105424182A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510716708.1
申请日：2012-09-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明公开了一种光学检测仪触发装置以及具有该触发装置的光学检测仪。该光学检测仪触发装置包括：触发开关，用于在受到触发时启动光学检测以发出检测光；中空的通光轴，用于供检测光从其内腔穿过而到达被测物，所述通光轴与触发开关具有固定的相对位置；和移动触发器，其能够相对于通光轴接近或远离触发开关移动以使触发开关触发或使触发开关复位。该光学检测仪触发装置通过移动触发器相对于触发开关的移动来自动触发光学检测仪的检测操作和及时中止检测操作，既可以提高触发装置的触发速度和效率，又可以减小检测操作的复杂性，避免由于触发和复位操作的错误导致损失。
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