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公开(公告)号：CN115598715A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110769706.4
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司(CN) , 清华大学(CN)
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源；和探测器组件。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿承载装置的中心轴线升降。沿中心轴线观察，至少一个射线源能够相对于承载装置在多个扫描位置之间平移。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿中心轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源相对于承载装置平移到多个扫描位置中的另一个。检查系统还基于探测器组件的检测数据来重建被检查的物体的三维扫描图像。
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公开(公告)号：CN115601735A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110768537.2
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司(CN) , 同方威视科技江苏有限公司(CN) , 清华大学(CN)
摘要： 本发明提供一种空盘识别装置和方法，该空盘识别装置包括：图像获取模块，获取托盘的图像，所述托盘在底部设置有干扰介质；边缘检测模块，对所述图像中的底盘区域进行边缘检测，获得边缘图像；模板匹配模块，将所述边缘图像与干扰介质图像模板进行匹配；对应区域消除模块，将所述边缘图像中与所述干扰介质图像模板对应的边缘点消除，得到剩余边缘点；以及空盘判断模块，基于所述剩余边缘点，判断是否为空的托盘。
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公开(公告)号：CN115601245A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110774907.3
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司(CN) , 同方威视科技江苏有限公司(CN) , 清华大学(CN)
摘要： 本发明涉及阴影消除装置和方法、空盘识别装置和方法。该阴影消除装置包括：图像获取模块，获取有补光图像和无补光图像；光照区域图像获取模块，根据所述有补光图像和所述无补光图像之间的差异，获得光照区域图像；边缘检测模块，对所述无补光图像进行边缘检测，获得边缘图像；以及阴影线消除模块，从所述边缘图像中去除与所述光照区域图像对应的部分，获得实际边缘图像。
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公开(公告)号：CN115598718A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110769972.7
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司(CN) , 清华大学(CN)
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源，每个射线源包括单独的壳体以限定真空空间并且包括封装在壳体内的多个靶点；和探测器组件。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿承载装置的中心轴线升降。沿中心轴线观察，至少一个射线源能够相对于承载装置在多个扫描位置之间平移。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿中心轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源相对于承载装置平移到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN115598717A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110769776.X
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司(CN) , 清华大学(CN)
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源，每个射线源包括单独壳体以限定真空空间并且包括封装在壳体内的多个靶点；和探测器组件。检查系统构造成使得至少一个射线源能够围绕旋转轴线相对于承载装置在多个扫描位置之间转动，并且至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿旋转轴线升降。检查系统构造成：当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿旋转轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；并且当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线相对于承载装置转动到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN115598719A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110770950.2
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司(CN) , 清华大学(CN)
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源；和探测器组件。至少一个射线源能够围绕旋转轴线相对于承载装置在多个扫描位置之间转动。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿旋转轴线升降。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿旋转轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线相对于承载装置转动到多个扫描位置中的另一个。检查系统还基于探测器组件的检测数据来重建被检查的物体的三维扫描图像。
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公开(公告)号：CN115598716A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110769707.9
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司(CN) , 清华大学(CN)
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046
摘要： 本申请提供了用于射线扫描设备的射线源的安装定位结构以及射线扫描设备，射线扫描设备包括射线源以及固定设置的支撑框架，安装定位结构包括主体，主体能够固定连接到射线源和支撑框架，使得射线源能够通过主体固定安装到支撑框架上，安装定位结构还包括：移动装置，射线源能够通过移动装置在第一平面上被移动到预定安装位置；第一定位装置，其用于在第一平面上对射线源进行定位；升降装置，其用于沿第一方向调节射线源的位置，其中第一方向垂直于第一平面；以及第二定位装置，其用于在第一方向上固定射线源的位置。
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公开(公告)号：CN115598155A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110770964.4
申请日：2021-07-07
申请人： 清华大学(CN) , 同方威视技术股份有限公司(CN)
IPC分类号： G01N23/046
摘要： 本申请涉及用于射线扫描设备的探测器的安装固定结构以及射线扫描设备，射线扫描设备包括探测器和设置的支撑框架，探测器包括一个或多个探测器组，探测器组经由安装固定结构固定安装到支撑框架上或从支撑框架上拆卸，安装固定结构包括：第一安装部，其固定设置在探测器组上；第二安装部，其固定设置在支撑框架上并且能够与第一安装部直线移动配合，探测器组在第一安装部与第二安装部相互配合的状态下能够沿第二安装部移动到预定安装位置；以及固定装置，其设置在探测器组的沿宽度方向的一侧，用于相对于支撑框架上的安装基准面固定探测器组。
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