公开(公告)号：CN114972866B

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202210587890.5

申请日：2022-05-26

申请人： 湖南大学

发明人： 刘坚 ,  王转旺 ,  张杰 ,  周飞滔 ,  李蓉

IPC分类号： G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/40

摘要： 本发明公开了一种用于识别车削零件表面粗糙度等级的有效特征的确定方法、模块、计算设备及存储介质，该方法包括：生成车削零件表面图像集，车削零件表面图像集包括多个对应不同表面粗糙度等级的表面图像子集，每个表面图像子集包括多张车削零件表面图像；基于预设的特征类型集，对车削零件表面图像集中的每张车削零件表面图像进行图像特征提取，以获取对应的图像特征数据；对特征类型集中每种图像特征类型，分别构建对应的支持向量机分类模型并进行训练；将图像特征数据输入到对应的训练好的支持向量机分类模型中处理，根据处理情况计算模型评价指标；根据模型评价指标，从特征类型集中确定用于识别车削零件表面粗糙度等级的有效特征。

公开(公告)号：CN117218076A

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202311153854.9

申请日：2023-09-07

申请人： 江苏优普纳科技有限公司 ,  湖南大学

发明人： 刘坚 ,  张航 ,  张桢巍 ,  王辰 ,  王转旺 ,  尹韶辉 ,  陈宁 ,  李蓉

IPC分类号： G06T7/00 ,  G06V10/26 ,  G06V10/44 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82

摘要： 本发明公开了一种芯片缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域。方法包括：获取芯片图像，其中，所述芯片图像包括基于多种光源组合对芯片进行成像得到的多种光源芯片图像；将所述芯片图像输入语义分割模型进行处理，以预测出所述芯片图像对应的分割掩码图；根据所述芯片图像和对应的分割掩码图，对芯片进行缺陷检测，以确定所述芯片的缺陷类型和缺陷位置。根据本发明的技术方案，多种成像有利于表现芯片上不同区域的多种缺陷类型，扩大了缺陷检测范围，增加了可检测的缺陷种类数，提高了对芯片外观进行缺陷检测的精度和检测效率。

公开(公告)号：CN114972866A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210587890.5

申请日：2022-05-26

申请人： 湖南大学

发明人： 刘坚 ,  王转旺 ,  张杰 ,  周飞滔 ,  李蓉

IPC分类号： G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/40

摘要： 本发明公开了一种用于识别车削零件表面粗糙度等级的有效特征的确定方法、模块、计算设备及存储介质，该方法包括：生成车削零件表面图像集，车削零件表面图像集包括多个对应不同表面粗糙度等级的表面图像子集，每个表面图像子集包括多张车削零件表面图像；基于预设的特征类型集，对车削零件表面图像集中的每张车削零件表面图像进行图像特征提取，以获取对应的图像特征数据；对特征类型集中每种图像特征类型，分别构建对应的支持向量机分类模型并进行训练；将图像特征数据输入到对应的训练好的支持向量机分类模型中处理，根据处理情况计算模型评价指标；根据模型评价指标，从特征类型集中确定用于识别车削零件表面粗糙度等级的有效特征。