公开(公告)号：CN102308226A

公开(公告)日：2012-01-04

申请号：CN201080006522.2

申请日：2010-02-02

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 岩本敏 ,  泷泽茂树 ,  谷塚浩一 ,  松浦俊雄

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/3183

CPC分类号： G01R31/31919 ,  G01R31/31922

摘要： 在测试器件的测试装置上安装：图案产生部，其产生用于测试被测试器件的测试图案；信号提供部，其将与测试图案相对应的测试信号提供给被测试器件；触发产生部，其将触发信号提供给连接于被测试器件的外部的机器；同步控制部，其根据图案产生部产生的测试图案中的至少一部分，将指示产生触发信号的同步信号输出给触发产生部；所述测试装置上产生与测试图案同步的触发信号。

公开(公告)号：CN1829918A

公开(公告)日：2006-09-06

申请号：CN200480021574.1

申请日：2004-09-10

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 上林弘典 ,  谷塚浩一

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31928 ,  G01R31/31922

摘要： 一种测试装置，用于测试电子元件，本测试装置包括：多个测试模组、基准时脉产生部、产生电路、多个时序提供部，以及控制部。多个测试模组是把用于测试电子元件的测试图案供给至电子元件。基准时脉产生部是用以产生基准时脉。产生电路是根据基准时脉，产生使测试模组动作的时序信号。多个时序提供部是对应测试模组而设置，并将时序信号供给到对应的测试模组。控制部是使各测试模组依照时序信号输出测试图案的时序约略相同，以此方式控制时序提供部供给到各测试模组的时序信号的相位。

公开(公告)号：CN100523848C

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200480021574.1

申请日：2004-09-10

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 上林弘典 ,  谷塚浩一

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31928 ,  G01R31/31922

摘要： 一种测试装置，用于测试电子元件，本测试装置包括：多个测试模组、基准时脉产生部、产生电路、多个时序提供部，以及控制部。多个测试模组是把用于测试电子元件的测试图案供给至电子元件。基准时脉产生部是用以产生基准时脉。产生电路是根据基准时脉，产生使测试模组动作的时序信号。多个时序提供部是对应测试模组而设置，并将时序信号供给到对应的测试模组。控制部是使各测试模组依照时序信号输出测试图案的时序约略相同，以此方式控制时序提供部供给到各测试模组的时序信号的相位。