结晶性硅化钴膜的形成方法

    公开(公告)号:CN102656667B

    公开(公告)日:2015-08-26

    申请号:CN201080059237.7

    申请日:2010-12-22

    IPC分类号: H01L21/28 H01L21/288

    摘要: 本发明涉及结晶性硅化钴膜的形成方法,其特征在于:经过在由硅构成的表面上涂布将下式(1A)或(1B)所示的化合物或其聚合物与0价钴络合物混合而得到的组合物形成涂膜,将该涂膜在550~900℃下加热的步骤,形成由第一层和第二层构成的双层膜,然后除去上述双层膜的上述第二层,其中,该第一层在由硅构成的表面上,由结晶性硅化钴构成;该第二层在该第一层上,含有硅原子、氧原子、碳原子和钴原子。式(1A)和(1B)中,X分别为氢原子或卤原子,n为1~10的整数,m为3~10的整数。