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公开(公告)号：CN101669009B
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：CN200880013684.1
申请日：2008-04-23
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 哈立德·马穆尔 , 琼·路易斯·格热西亚克
CPC分类号： G01B5/0032 , G01B5/012 , G01B21/045
摘要： 一种用于确定表面特征的尺寸和位置的方法，所述表面特征例如是阀座。测量所述特征的表面，例如借助接触式探针使用螺旋扫描路径进行测量，并且使用从所述扫描获得的多个数据点来产生数字化图像。将所述数字化图像与所述表面特征的标称图像(例如，CAD数据)进行拟合。使用所述数字化图像与所述标称图像之间的偏差来确定所述表面特征的尺寸、位置和形状偏差中的至少一个。
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公开(公告)号：CN101166953B
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN200680013972.8
申请日：2006-04-25
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 凯维恩·巴里·乔纳斯 , 琼·路易斯·格热西亚克 , 若弗雷·麦克法兰
摘要： 本发明公开了一种校准探针(62)的方法，所述探针安装在机器上且具有带工件测量尖端(66)的触针(64)，所述方法包括：对于探针的第一方位，计算探针的校准信息；以及使所述校准信息旋转一定角度，以获得当探针相对于第一方位以所述角度定向时的探针校准信息。还公开了一种在测量过程中校准探针的方法。所述校准信息可以包括将探针头的轴与机器轴相关联的矢量；校准矩阵；基准数据；惯性矩阵。可以在所述探针方位处对触针尖端(66)进行基准化，或者由在不同方位处得到的基准信息推断触针尖端(66)。可以通过软件/计算机程序实施旋转步骤，所述软件/计算机程序可以存储在机器的控制器中。
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公开(公告)号：CN101772690A
公开(公告)日：2010-07-07
申请号：CN200880024540.6
申请日：2008-07-11
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 戴维·斯文·瓦利亚塞 , 琼·路易斯·格热西亚克
IPC分类号： G01B21/04
CPC分类号： G01B21/045
摘要： 一种操作具有表面传感器的坐标定位装置的方法，所述表面传感器可以围绕至少第一轴线旋转。所述方法包括在表面传感器处于第一角度取向时，获取第一测量值，并且在表面传感器处于第二角度取向时，获取至少第二测量值。所述第一和第二角度取向彼此不同，以使表面传感器从预期位置的任何偏移在第一和第二测量值上的影响至少部分相反。然后所述方法利用第一和第二测量值来补偿和/或建立所述偏移。
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公开(公告)号：CN101669009A
公开(公告)日：2010-03-10
申请号：CN200880013684.1
申请日：2008-04-23
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 哈立德·马穆尔 , 琼·路易斯·格热西亚克
CPC分类号： G01B5/0032 , G01B5/012 , G01B21/045
摘要： 一种用于确定表面特征的尺寸和位置的方法，所述表面特征例如是阀座。测量所述特征的表面，例如借助接触式探针使用螺旋扫描路径进行测量，并且使用从所述扫描获得的多个数据点来产生数字化图像。将所述数字化图像与所述表面特征的标称图像(例如，CAD数据)进行拟合。使用所述数字化图像与所述标称图像之间的偏差来确定所述表面特征的尺寸、位置和形状偏差中的至少一个。
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公开(公告)号：CN102197274B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN200980143127.6
申请日：2009-10-29
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 琼·路易斯·格热西亚克
CPC分类号： G01B5/008 , G01B5/20 , G01B21/042
摘要： 本发明涉及一种用于测量物体的结构的方法，所述方法包括：借助至少对物体上结构的表面测量获取多个数据点，从而获得至少所述结构的图像。将大致复制物体的至少所述结构的模型与所述图像拟合。所述模型包括限定至少两个可独立改变部分的参数，所述两个部分在一公共点连接。所述拟合包括通过改变所述至少两个可独立改变部分的至少一个而改变所述模型的形式。所述方法还包括从所拟合模型获得关于至少所述结构的信息。
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公开(公告)号：CN101772690B
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN200880024540.6
申请日：2008-07-11
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 戴维·斯文·瓦利亚塞 , 琼·路易斯·格热西亚克
IPC分类号： G01B21/04
CPC分类号： G01B21/045
摘要： 一种操作具有表面传感器的坐标定位装置的方法，所述表面传感器可以围绕至少第一轴线旋转。所述方法包括在表面传感器处于第一角度取向时，获取第一测量值，并且在表面传感器处于第二角度取向时，获取至少第二测量值。所述第一和第二角度取向彼此不同，以使表面传感器从预期位置的任何偏移在第一和第二测量值上的影响至少部分相反。然后所述方法利用第一和第二测量值来补偿和/或建立所述偏移。
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公开(公告)号：CN105473981B
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201480047005.8
申请日：2014-06-26
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 戴维·斯文·瓦利亚赛 , 琼·路易斯·格热西亚克
IPC分类号： G01B21/04
摘要： 本发明涉及一种校准接触式探针的方法，该接触式探针具有接触式元件。该方法包括用该接触式探针测量已校准加工品(100、200、300、400、500)的第一几何性质和该已校准加工品或另一个已校准加工品(100、200、300、400、500)的第二几何性质。第一和第二几何性质使得该测量值与预期值之间的偏差对于该第一和第二几何性质中的每一个具有相反符号，该偏差由接触式元件的有效直径与用于确定测量值的假定直径之间的差异引起。该方法进一步包括识别接触式元件的有效直径与假定直径的差异，其包括针对第一和第二几何性质中的每一个比较测量值与预期值的偏差以确定该偏差是否存在差异。
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公开(公告)号：CN105473981A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201480047005.8
申请日：2014-06-26
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 戴维·斯文·瓦利亚赛 , 琼·路易斯·格热西亚克
IPC分类号： G01B21/04
CPC分类号： G01B21/042 , B25J9/1692 , B82Y35/00 , G01D18/00 , G01Q40/00
摘要： 本发明涉及一种校准接触式探针的方法，该接触式探针具有接触式元件。该方法包括用该接触式探针测量已校准加工品(100、200、300、400、500)的第一几何性质和该已校准加工品或另一个已校准加工品(100、200、300、400、500)的第二几何性质。第一和第二几何性质使得该测量值与预期值之间的偏差对于该第一和第二几何性质中的每一个具有相反符号，该偏差由接触式元件的有效直径与用于确定测量值的假定直径之间的差异引起。该方法进一步包括识别接触式元件的有效直径与假定直径的差异，其包括针对第一和第二几何性质中的每一个比较测量值与预期值的偏差以确定该偏差是否存在差异。
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公开(公告)号：CN102197274A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN200980143127.6
申请日：2009-10-29
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 琼·路易斯·格热西亚克
CPC分类号： G01B5/008 , G01B5/20 , G01B21/042
摘要： 本发明涉及一种用于测量物体的结构的方法，所述方法包括：借助至少对物体上结构的表面测量获取多个数据点，从而获得至少所述结构的图像。将大致复制物体的至少所述结构的模型与所述图像拟合。所述模型包括限定至少两个可独立改变部分的参数，所述两个部分在一公共点连接。所述拟合包括通过改变所述至少两个可独立改变部分的至少一个而改变所述模型的形式。所述方法还包括从所拟合模型获得关于至少所述结构的信息。
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公开(公告)号：CN101166953A
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：CN200680013972.8
申请日：2006-04-25
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 凯维恩·巴里·乔纳斯 , 琼·路易斯·格热西亚克 , 若弗雷·麦克法兰
摘要： 本发明公开了一种校准探针(62)的方法，所述探针安装在机器上且具有带工件测量尖端(66)的触针(64)，所述方法包括：对于探针的第一方位，计算探针的校准信息；以及使所述校准信息旋转一定角度，以获得当探针相对于第一方位以所述角度定向时的探针校准信息。还公开了一种在测量过程中校准探针的方法。所述校准信息可以包括将探针头的轴与机器轴相关联的矢量；校准矩阵；基准数据；惯性矩阵。可以在所述探针方位处对触针尖端(66)进行基准化，或者由在不同方位处得到的基准信息推断触针尖端(66)。可以通过软件/计算机程序实施旋转步骤，所述软件/计算机程序可以存储在机器的控制器中。
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