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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109840226B
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN201811418423.X
申请日：2018-11-26
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: G06F13/26
Abstract: 本发明的实施例涉及半导体器件及其故障检测方法。一种半导体器件包括中断控制电路，其从电路块接收多个中断信号并向处理器输出中断请求；以及中断监测电路，其与中断信号中的一个中断信号相对应，并且包括用于设置监测类型以及第一监测周期和第二监测周期的设置电路。如果监测类型指示中断信号的断言状态，则中断监测电路监测该断言状态。如果连续断言状态的第一持续时间超过第一监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。如果监测类型指示中断信号的否定状态，则中断监测电路监测该否定状态。如果连续否定状态的第二持续时间超过第二监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。
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公开(公告)号：CN116110488A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202211336404.9
申请日：2022-10-28
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: G11C29/54
Abstract: 本公开涉及一种半导体装置。该半导体装置包括发出具有虚拟地址的存储器访问请求的处理单元、第一存储器管理单元和第二存储器管理单元，以及测试结果存储单元。第一存储器管理单元和第二存储器管理单元是分层提供的，并且各自包括将存储器访问请求的虚拟存储器转换为物理地址的地址转换单元，以及进行针对地址转换单元的测试的自测试单元。测试结果存储单元存储第一自测试结果和的第二自测试结果，该第一自测试结果指示第一自测试单元的结果，该第二自测试结果指示第二自测试单元的结果。
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公开(公告)号：CN106201793B
公开(公告)日：2021-07-30
申请号：CN201610365803.6
申请日：2016-05-27
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: G06F11/22 , G01R31/3185
Abstract: 本发明涉及半导体装置和诊断测试方法。半导体装置包括存储电路、使用存储电路中存储的数据执行处理并且在执行处理时将数据写入存储电路中的处理电路、在处理电路不执行处理时对处理电路执行扫描测试的扫描测试电路以及在对处理电路执行扫描测试时禁止从处理电路到存储电路的数据写入的禁止电路。
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公开(公告)号：CN109840226A
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201811418423.X
申请日：2018-11-26
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: G06F13/26
Abstract: 本发明的实施例涉及半导体器件及其故障检测方法。一种半导体器件包括中断控制电路，其从电路块接收多个中断信号并向处理器输出中断请求；以及中断监测电路，其与中断信号中的一个中断信号相对应，并且包括用于设置监测类型以及第一监测周期和第二监测周期的设置电路。如果监测类型指示中断信号的断言状态，则中断监测电路监测该断言状态。如果连续断言状态的第一持续时间超过第一监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。如果监测类型指示中断信号的否定状态，则中断监测电路监测该否定状态。如果连续否定状态的第二持续时间超过第二监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。
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公开(公告)号：CN106201793A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610365803.6
申请日：2016-05-27
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: G06F11/22 , G01R31/3185
CPC classification number: G01R31/3177 , G01R31/31724 , G06F11/27 , G06F11/2236 , G01R31/318533
Abstract: 本发明涉及半导体装置和诊断测试方法。半导体装置包括存储电路、使用存储电路中存储的数据执行处理并且在执行处理时将数据写入存储电路中的处理电路、在处理电路不执行处理时对处理电路执行扫描测试的扫描测试电路以及在对处理电路执行扫描测试时禁止从处理电路到存储电路的数据写入的禁止电路。
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