公开(公告)号：CN104977523B

公开(公告)日：2019-09-10

申请号：CN201510171209.9

申请日：2015-04-10

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 坪井幸利 ,  长野英生 ,  长冈浩司 ,  松永祐介 ,  井学丰 ,  久保田尚孝

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明涉及半导体器件、诊断测试和诊断测试电路。防止因为故障诊断导致的在操作性能上的变差。根据本发明的半导体器件(90)包括：多个CPU内核(91)至(94)，每一个包括扫描链；以及，诊断测试电路(95)，其通过使用CPU内核的扫描链对于该多个CPU内核(91)至(94)执行扫描测试。诊断测试电路(95)在周期性基础上以预定顺序来对多个CPU内核(91)至(94)中的每一个执行扫描测试，以使得扫描测试的执行时间段彼此不重叠。

公开(公告)号：CN104977523A

公开(公告)日：2015-10-14

申请号：CN201510171209.9

申请日：2015-04-10

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 坪井幸利 ,  长野英生 ,  长冈浩司 ,  松永祐介 ,  井学丰 ,  久保田尚孝

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明涉及半导体器件、诊断测试和诊断测试电路。防止因为故障诊断导致的在操作性能上的变差。根据本发明的半导体器件(90)包括：多个CPU内核(91)至(94)，每一个包括扫描链；以及，诊断测试电路(95)，其通过使用CPU内核的扫描链对于该多个CPU内核(91)至(94)执行扫描测试。诊断测试电路(95)在周期性基础上以预定顺序来对多个CPU内核(91)至(94)中的每一个执行扫描测试，以使得扫描测试的执行时间段彼此不重叠。

公开(公告)号：CN105388801B

公开(公告)日：2019-05-28

申请号：CN201510535861.4

申请日：2015-08-27

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 山越康广 ,  坪井幸利 ,  井学丰

IPC: G05B19/042

CPC classification number: B60W30/09 ,  B60W10/04 ,  B60W10/06 ,  B60W10/18 ,  B60W10/184 ,  B60W10/20 ,  B60W50/00 ,  B60W50/0205 ,  B60W50/029 ,  B60W50/045 ,  B60W50/14 ,  B60W2050/0006 ,  B60W2050/0045 ,  B60W2050/0052 ,  B60W2050/009 ,  B60W2420/42 ,  B60W2420/52 ,  B60W2550/20 ,  B60W2710/18 ,  B60W2710/20 ,  B60W2720/10 ,  B60Y2304/076 ,  G05B15/02 ,  G05B19/0423 ,  G05B2219/25032 ,  G06F13/00 ,  G06K9/00362 ,  G06K9/00805 ,  G08G1/166 ,  G08G1/167 ,  H04L12/00 ,  H04L12/6418

Abstract: 本发明涉及控制系统、中继装置和控制方法。根据本发明的控制系统(9)被安装在移动物体上。所述控制系统(9)包括：观察装置(92)，其发送指示所述移动物体的周围的观察结果的观察结果数据；第一控制指令装置(91)，其发送指示基于观察结果数据确定的控制内容的第一控制数据；移动控制装置(93)，其控制移动物体的移动；以及中继装置(95)，其将第一控制指令装置(91)发送的第一控制数据中继至移动控制装置(93)。当向控制系统(9)提供发送指示基于观察结果数据确定的控制内容的第二控制数据的第二控制指令装置(94)时，中继装置(95)将第二控制数据而非第一控制数据发送到移动控制装置(93)。

公开(公告)号：CN105388801A

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201510535861.4

申请日：2015-08-27

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 山越康广 ,  坪井幸利 ,  井学丰

IPC: G05B19/042

CPC classification number: B60W30/09 ,  B60W10/04 ,  B60W10/06 ,  B60W10/18 ,  B60W10/184 ,  B60W10/20 ,  B60W50/00 ,  B60W50/0205 ,  B60W50/029 ,  B60W50/045 ,  B60W50/14 ,  B60W2050/0006 ,  B60W2050/0045 ,  B60W2050/0052 ,  B60W2050/009 ,  B60W2420/42 ,  B60W2420/52 ,  B60W2550/20 ,  B60W2710/18 ,  B60W2710/20 ,  B60W2720/10 ,  B60Y2304/076 ,  G05B15/02 ,  G05B19/0423 ,  G05B2219/25032 ,  G06F13/00 ,  G06K9/00362 ,  G06K9/00805 ,  G08G1/166 ,  G08G1/167 ,  H04L12/00 ,  H04L12/6418 ,  G05B19/042 ,  G05B2219/25314

Abstract: 本发明涉及控制系统、中继装置和控制方法。根据本发明的控制系统(9)被安装在移动物体上。所述控制系统(9)包括：观察装置(92)，其发送指示所述移动物体的周围的观察结果数据；第一控制指令装置(91)，其发送指示基于观察结果数据确定的控制内容的第一控制数据；移动控制装置(93)，其控制移动物体的移动；以及中继装置(95)，其将第一控制指令装置(91)发送的第一控制数据中继至移动控制装置(93)。当向控制系统(9)提供发送指示基于观察结果数据确定的控制内容的第二控制数据的第二控制指令装置(94)时，中继装置(95)将第二控制数据而非第一控制数据发送到移动控制装置(93)。

公开(公告)号：CN106201793B

公开(公告)日：2021-07-30

申请号：CN201610365803.6

申请日：2016-05-27

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 芝原信一 ,  川上大辅 ,  井学丰

IPC: G06F11/22 ,  G01R31/3185

Abstract: 本发明涉及半导体装置和诊断测试方法。半导体装置包括存储电路、使用存储电路中存储的数据执行处理并且在执行处理时将数据写入存储电路中的处理电路、在处理电路不执行处理时对处理电路执行扫描测试的扫描测试电路以及在对处理电路执行扫描测试时禁止从处理电路到存储电路的数据写入的禁止电路。

公开(公告)号：CN106201793A

公开(公告)日：2016-12-07

申请号：CN201610365803.6

申请日：2016-05-27

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 芝原信一 ,  川上大辅 ,  井学丰

IPC: G06F11/22 ,  G01R31/3185

CPC classification number: G01R31/3177 ,  G01R31/31724 ,  G06F11/27 ,  G06F11/2236 ,  G01R31/318533

Abstract: 本发明涉及半导体装置和诊断测试方法。半导体装置包括存储电路、使用存储电路中存储的数据执行处理并且在执行处理时将数据写入存储电路中的处理电路、在处理电路不执行处理时对处理电路执行扫描测试的扫描测试电路以及在对处理电路执行扫描测试时禁止从处理电路到存储电路的数据写入的禁止电路。