一种NBTI效应作用下的数字集成电路时序分析方法和装置

    公开(公告)号:CN118036526A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410123817.1

    申请日:2024-01-29

    摘要: 本发明公开了一种NBTI效应作用下的数字集成电路时序分析方法和装置,包括针对数字电路每个种类的单元,利用预设数量个针对单元单输入端的信号概率采样值确定输入信号概率组合并在各输入信号概率组合下建立老化单元库;针对每个种类单元建立的老化单元库中各timing arc下不同时序模型分别建立老化相关参数和老化结果的映射关系;针对需要仿真的每条路径,确定其中每个单元的状态信息、输入的信号概率、输入信号转换时间、输出信号负载电容和timing arc信息以及对应的映射关系,将相关数据代入对应的映射关系中得到延迟值和输出信号转换时间;将该路径中所有单元的延迟值累加得到整体时序信息;本发明能够降低成本和复杂度,提高实际应用中NBTI效应仿真分析的效率。

    一种基于共同注意力机制的图像描述生成方法

    公开(公告)号:CN116452688A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310334196.7

    申请日:2023-03-31

    摘要: 本发明公开了一种基于共同注意力机制的图像描述生成方法。该发明在图像描述算法的语义对齐上具有一定的有效性。针对生成描述与图像中区域不对齐问题,在编码器‑解码器框架中加入了先知注意力机制,先知注意力机制能够根据未来时间步骤的信息,动态地关注图像区域;针对图像描述中语义一致性的问题,通过在判别器中引入共同注意力机制,引入对抗学习的思想,训练生成器与判别器,以对生成的图像描述进行分类,从而提高其语义一致性。基于共同注意力机制的图像描述算法模型能够精准的生成符合图像内容的描述,且基于生成对抗网络生成语言多样化的图像描述。

    一种基于反射式双向泵浦的光纤SERF原子磁力仪装置

    公开(公告)号:CN113721173B

    公开(公告)日:2022-07-15

    申请号:CN202111029826.7

    申请日:2021-09-02

    IPC分类号: G01R33/032

    摘要: 本发明公开了一种基于反射式双向泵浦的光纤SERF原子磁力仪装置,涉及光纤弱磁探测领域,解决现有整体结构尺寸不能进一步缩小,难以实现结构微型化的技术问题,包括光源,传感模块,调制、解调模块;所述的光源包括一束泵浦探测激光,一束加热激光,传感模块包括磁场线圈、碱金属原子气室、反射镜和自聚焦透镜,调制、解调模块包括光电二极管、跨阻放大器、锁相放大器实现对磁场调制以及对信号解调。本发明避免了传统方法中在气室附近进行光电转换,采用全光结构进行探测,避免了光电转换电路带来的磁噪声,提高了探测灵敏度;同时采用反射式双向泵浦结构,使原子气室内的极化率更加均匀,有助于提高磁场探测的稳定性、准确性。

    基于高分辨一维像信息融合的目标识别方法

    公开(公告)号:CN106443625A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610829717.6

    申请日:2016-09-19

    IPC分类号: G01S7/41

    CPC分类号: G01S7/41

    摘要: 基于高分辨一维像信息融合的目标识别方法,目的在于解决如何把网络中不同雷达的观测结果进行信息融合,进而达到提高分辨率。其包括以下步骤:步骤1、利用BSS产生波形不同的两种雷达,对两飞行器进行探测,得到两个不同雷达的回波数据;步骤2、将回波数据进行脉冲压缩,得到目标的两组高分辨一维像;步骤3、两组高分辨一维像采用加权平均法进行数据融合,得到一组新的一维像,其中融合权值在0到1之间任取;步骤4、将新的高分辨一维像通过一设定门限,得到采样点数目;步骤5、将得到的新的高分辨一维像的采样点个数与预设的距离分辨率(两采样点间的实际距离)相乘,得到目标的长度;步骤6、采用贝叶斯分类进行目标识别。

    数字电路中的潜在缺陷位置分析方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118259136A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410203614.3

    申请日:2024-02-23

    摘要: 本发明涉及一种数字电路中的潜在缺陷位置分析方法、装置、电子设备及存储介质,属于数字电路分析领域,该方法包括获取数字电路中标准单元的参考缺陷关键度;根据标准单元的实际负载得到标准单元的缩放因子;根据标准单元的参考缺陷关键度和缩放因子,得到标准单元的实际缺陷关键度;根据标准单元的实际缺陷关键度确定数字电路中的潜在缺陷位置。通过上述技术方案,利用参考缺陷关键度得到实际缺陷关键度,并进一步根据实际缺陷关键度确定潜在缺陷位置,利用仿真实验得到的参考缺陷关键度,反应潜在缺陷的影响,确保潜在缺陷的分析结果的有效性,从而提高芯片的测试质量,进一步帮助提高芯片的质量和可靠性。

    一种缓解数字电路NBTI老化的输入矢量生成方法和装置

    公开(公告)号:CN118036528A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410145856.1

    申请日:2024-02-01

    IPC分类号: G06F30/3315 G06F30/337

    摘要: 本发明公开了一种缓解数字电路NBTI老化的输入矢量生成方法和装置,方法包括:针对数字电路选用的所有种类的单元,建立感知NBTI效应的老化单元库;基于对老化单元库的老化仿真,确定数字电路中的NBTI老化关键路径;基于NBTI老化关键路径,采用线性规划方法确定数字电路中的NBTI老化关键门;基于NBTI老化关键门生成缓解NBTI老化的故障列表,并根据故障列表使用ATPG工具生成缓解NBTI老化的输入矢量。本发明对关键路径及关键门的定位更准确,无需在设计初期为NBTI效应预留额外的裕量、改变电路的结构,不会在缓解NBTI效应的同时给电路的面积、功耗等带来额外开销,无需在求解缓解老化的矢量时产生过大消耗,且生成效率较高。

    基于成像前分割的相参多基机载合成孔径雷达成像方法

    公开(公告)号:CN117348005A

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202311230934.X

    申请日:2023-09-22

    IPC分类号: G01S13/90 G01S7/41

    摘要: 本发明公开了一种基于成像前分割的相参多基机载合成孔径雷达的成像方法,本发明的方法为多基SAR系统建立一个极坐标系,并构建所述多基SAR系统的回波模型;通过FFBP算法将全孔径分解为子孔径;通过将所述子孔径后向投影到所述极坐标系,并结合所述回波模型来获得回波数据,且根据所述回波数据形成子图像;通过MSER的图像分割算法将选定的所述子图像分割出疑似目标区域;通过对所述疑似目标区域对应的像素点进行采样、合并、逐阶段递归融合来获得在所述第g个阶段第n个双基雷达对的第k个所述子孔径的成像结果;通过将一定数量的所述成像结果进行相参融合来获得最终的快速成像,克服了现有技术计算冗杂的缺点,实现了所述多基机载SAR的快速成像。

    一种基于联合检测跟踪框架的视频目标提取方法

    公开(公告)号:CN115661715A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211368436.7

    申请日:2022-11-03

    IPC分类号: G06V20/40 G06V10/25 G06V10/74

    摘要: 本发明公开了一种基于联合检测跟踪网络的多目标跟踪方法。本发明结合传统的检测和跟踪的算法,两个任务共享特征提取网络。本发明提出了基于代价矩阵的损失函数该损失函数有效的改善了检测任务和Re‑ID任务的不兼容问题。本发明提出了根据目标的偏移距离,对原始特征图进行调整。本发明提出了结合多帧的跟踪线索,通过求和的方式和当前帧的图像一起输入到网络中,有效的改善了检测的效果,提高了算法在部分遮挡场景下的检测效果。