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公开(公告)号：CN108319200B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN201810166185.1
申请日：2018-02-28
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 本发明公开一种便携式互联网逻辑分析仪，包括逻辑数据分析器、嵌入式系统板、数据采集电路、时钟触发电路、LCD触摸显示屏，所述数据采集电路、时钟触发电路均与逻辑数据分析器相连，所述逻辑数据分析器通过外围I/O与嵌入式系统板相连，所述LCD触摸显示屏连接到设置在嵌入式系统板上的MIPI DSI外接端口，安装在所述嵌入式系统板内的嵌入式系统通过设置在所述嵌入式系统板上的以太网接口与局域网路由相连，或者通过WIFI模块和移动网络模块实现与外部PC连接通信。通过上述方式，本发明提供一种便携式互联网逻辑分析仪，支持基于互联网的远程显示，多用户协作，以及支持系统在线升级等优点。
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公开(公告)号：CN107146811B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201710197643.3
申请日：2017-03-29
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： H01L29/06 , H01L29/20 , H01L29/778 , H01L21/335
摘要： 本发明公开了一种基于阻挡层调制结构的电流孔径功率晶体管，主要解决现有同类器击穿电压低与导通电阻大的问题，其包括：衬底(1)、漂移层(2)、电流孔径层(3)、左右两个对称的多级阶梯结构的电流阻挡层(4)、沟道层(6)、势垒层(7)和钝化层(12)，势垒层(7)上的两侧淀积有两个源极(9)，两个源极(9)下方通过离子注入形成两个注入区(8)，两个源极(9)之间的势垒层(7)上淀积有栅极(10)，衬底(1)下面淀积有漏极(11)，钝化层(12)完全包裹除在漏极底部以外所有区域，两个对称电流阻挡层(4)之间形成孔径(5)。本发明击穿电压高、工艺简单、导通电阻小、成品率高，可用于电力电子系统。
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公开(公告)号：CN107068740B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201710198833.7
申请日：2017-03-29
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： H01L29/40 , H01L29/778 , H01L29/06 , H01L21/335
摘要： 本发明公开了一种源阶梯场板垂直型功率晶体管，其包括：衬底(1)、漂移层(2)、孔径层(3)、三级台阶形的阻挡层(4)、沟道层(6)、势垒层(7)和钝化层(12)，势垒层上两侧淀积有源极(9)，源极之间的势垒层上淀积有栅极(10)，衬底下淀积有漏极(11)，钝化层(12)包裹除漏极底部以外的所有区域，钝化层两边刻有阶梯，阶梯上淀积有金属，形成阶梯场板(13)，该阶梯场板与源极电气连接。本发明击穿电压高、工艺简单、导通电阻小、成品率高，可用于电力电子系统。
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公开(公告)号：CN107068740A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710198833.7
申请日：2017-03-29
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： H01L29/40 , H01L29/778 , H01L29/06 , H01L21/335
摘要： 本发明公开了一种源阶梯场板垂直型功率晶体管，其包括：衬底(1)、漂移层(2)、孔径层(3)、三级台阶形的阻挡层(4)、沟道层(6)、势垒层(7)和钝化层(12)，势垒层上两侧淀积有源极(9)，源极之间的势垒层上淀积有栅极(10)，衬底下淀积有漏极(11)，钝化层(12)包裹除漏极底部以外的所有区域，钝化层两边刻有阶梯，阶梯上淀积有金属，形成阶梯场板(13)，该阶梯场板与源极电气连接。本发明击穿电压高、工艺简单、导通电阻小、成品率高，可用于电力电子系统。
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公开(公告)号：CN115299943A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210851702.5
申请日：2022-07-19
申请人： 西安电子科技大学
摘要： 本发明公开了一种情绪监测方法及其装置，涉及嵌入式开发技术领域，包括：采集待监测人的原始生理参数；对原始生理参数进行信号放大和信号降噪处理，得到处理后的生理参数；将处理后的生理参数输入预设的第一模型，输出待监测人的第一情绪状态等级；判断待监测人的第一情绪状态等级是否位于第一条件，如果不是，则以第一情绪状态等级作为待监测人的情绪状态等级；如果是，则将处理后的生理参数与预设的数据库中的样本数据进行差异匹配，选取差值绝对值最小的预设的数据库，作为待监测人的情绪状态等级；根据待监测人的情绪状态等级，进行相应的警告；其中，警告程度包括不警告、警告程度一和警告程度二。本申请能够提高情绪判断的准确性。
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公开(公告)号：CN110238480A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910690316.0
申请日：2019-07-29
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： B23K3/08
摘要： 本发明属于实验设备领域，具体涉及一种智能焊台系统，包括若干焊台，焊台包括烙铁架和焊台手柄，还包括：电源；集中控制模块连接焊台；若干焊台手柄与电源通过开关模块连接，开关模块的控制信号输入端连接集中控制模块的控制信号输出端；示警模块与集中控制模块的示警信号输出端连接；烙铁架还包括火灾检测单元、高温接触式检测单元、红外传感器且均设置在烙铁架上，焊台手柄还包括使用规范检测单元和陀螺仪，并且均与集中控制模块连接。本发明可以实时监控操作人员的使用行为，并监控、预警火灾情况，提高了设备使用的安全系数；本发明还实现了规范操作人员操作习惯的作用，更加实用；实现了多焊台设备的统一管理，提高了管理效率。
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公开(公告)号：CN118036526A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410123817.1
申请日：2024-01-29
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： G06F30/3312 , G06F30/367 , G06F30/327 , G06F119/04
摘要： 本发明公开了一种NBTI效应作用下的数字集成电路时序分析方法和装置，包括针对数字电路每个种类的单元，利用预设数量个针对单元单输入端的信号概率采样值确定输入信号概率组合并在各输入信号概率组合下建立老化单元库；针对每个种类单元建立的老化单元库中各timing arc下不同时序模型分别建立老化相关参数和老化结果的映射关系；针对需要仿真的每条路径，确定其中每个单元的状态信息、输入的信号概率、输入信号转换时间、输出信号负载电容和timing arc信息以及对应的映射关系，将相关数据代入对应的映射关系中得到延迟值和输出信号转换时间；将该路径中所有单元的延迟值累加得到整体时序信息；本发明能够降低成本和复杂度，提高实际应用中NBTI效应仿真分析的效率。
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公开(公告)号：CN107146811A
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201710197643.3
申请日：2017-03-29
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： H01L29/06 , H01L29/20 , H01L29/778 , H01L21/335
摘要： 本发明公开了一种基于阻挡层调制结构的电流孔径功率晶体管，主要解决现有同类器击穿电压低与导通电阻大的问题，其包括：衬底(1)、漂移层(2)、电流孔径层(3)、左右两个对称的多级阶梯结构的电流阻挡层(4)、沟道层(6)、势垒层(7)和钝化层(12)，势垒层(7)上的两侧淀积有两个源极(9)，两个源极(9)下方通过离子注入形成两个注入区(8)，两个源极(9)之间的势垒层(7)上淀积有栅极(10)，衬底(1)下面淀积有漏极(11)，钝化层(12)完全包裹除在漏极底部以外所有区域，两个对称电流阻挡层(4)之间形成孔径(5)。本发明击穿电压高、工艺简单、导通电阻小、成品率高，可用于电力电子系统。
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公开(公告)号：CN108319200A
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201810166185.1
申请日：2018-02-28
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 本发明公开一种便携式互联网逻辑分析仪，包括逻辑数据分析器、嵌入式系统板、数据采集电路、时钟触发电路、LCD触摸显示屏，所述数据采集电路、时钟触发电路均与逻辑数据分析器相连，所述逻辑数据分析器通过外围I/O与嵌入式系统板相连，所述LCD触摸显示屏连接到设置在嵌入式系统板上的MIPI DSI外接端口，安装在所述嵌入式系统板内的嵌入式系统通过设置在所述嵌入式系统板上的以太网接口与局域网路由相连，或者通过WIFI模块和移动网络模块实现与外部PC连接通信。通过上述方式，本发明提供一种便携式互联网逻辑分析仪，支持基于互联网的远程显示，多用户协作，以及支持系统在线升级等优点。
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公开(公告)号：CN118259136A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202410203614.3
申请日：2024-02-23
申请人： 西安电子科技大学
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/317 , G06F30/3308
摘要： 本发明涉及一种数字电路中的潜在缺陷位置分析方法、装置、电子设备及存储介质，属于数字电路分析领域，该方法包括获取数字电路中标准单元的参考缺陷关键度；根据标准单元的实际负载得到标准单元的缩放因子；根据标准单元的参考缺陷关键度和缩放因子，得到标准单元的实际缺陷关键度；根据标准单元的实际缺陷关键度确定数字电路中的潜在缺陷位置。通过上述技术方案，利用参考缺陷关键度得到实际缺陷关键度，并进一步根据实际缺陷关键度确定潜在缺陷位置，利用仿真实验得到的参考缺陷关键度，反应潜在缺陷的影响，确保潜在缺陷的分析结果的有效性，从而提高芯片的测试质量，进一步帮助提高芯片的质量和可靠性。
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