点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置

    公开(公告)号:CN107329298A

    公开(公告)日:2017-11-07

    申请号:CN201710770229.7

    申请日:2017-08-31

    IPC分类号: G02F1/13

    CPC分类号: G02F1/1309

    摘要: 本发明公开了一种点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置,属于显示器领域。点灯测试电路包括多根平行布置的信号线引线、至少两根短路线以及与信号线引线一一对应设置的多个开关;每根信号线引线的一端适用于连接信号线,每根信号线引线的另一端连接至少两根短路线中的一根,每根短路线与至少两根信号线引线连接;每个开关设置在对应的信号线引线与短路线的连接点和对应的信号线引线与信号线的连接点之间,每个开关均连接有控制线。在进行点灯测试的时候,导通开关使得信号线引线导通,从而进行点灯测试,在点灯测试完,断开开关,从而不需要对短路线进行切割,省去了切割工序,杜绝了切割工序所造成的不良。

    一种测试信号接入板和点灯治具
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112908231A

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN202110249719.9

    申请日:2021-03-08

    IPC分类号: G09G3/00

    摘要: 本申请涉及显示模组检测技术领域,公开一种测试信号接入板和点灯治具。测试信号接入板包括:基材层;数据信号接入部,设置在基材层上,包括至少两排导电触点,导电触点被配置为与显示面板的数据信号测试引线电连接;相邻排的导电触点之间交错设置,且相邻排的导电触点之间错开的间距小于显示面板的数据信号测试引线之间的间距。上述测试信号接入板,可以避免pin miss的发生,提高Cell Test的不良检出,提高点灯测试检测的精确性;并且,本申请的测试信号接入方案无需使用Trimming设备切割,可以避免Trimming残留/异物、切割不良造成的假X‑line高发等影响,进而提高显示模组产品的良率。

    点灯装置和点灯测试方法

    公开(公告)号:CN106910444A

    公开(公告)日:2017-06-30

    申请号:CN201710111937.X

    申请日:2017-02-28

    IPC分类号: G09G3/00

    摘要: 提供一种点灯装置和点灯测试方法。该点灯装置包括:可移动单元,包括第一标记;图像获取单元,被配置来获取包括所述第一标记和显示面板上的第二标记的实际相对位置的图像;计算单元,被配置来根据所述图像获得所述第一标记与所述第二标记的实际相对位置;第一位置调整单元,被配置来移动所述可移动单元,以调整所述实际相对位置;第一控制单元,被配置来根据所述实际相对位置和理论正确对位时所述第一标记和所述第二标记的理论相对位置的差值是否超过设定值来确定所述第一位置调整单元是否调整到位。可提高检测速度,减少作业时间,提高对位的准确率。

    一种测试信号接入板和点灯治具

    公开(公告)号:CN112908231B

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202110249719.9

    申请日:2021-03-08

    IPC分类号: G09G3/00

    摘要: 本申请涉及显示模组检测技术领域,公开一种测试信号接入板和点灯治具。测试信号接入板包括:基材层;数据信号接入部,设置在基材层上,包括至少两排导电触点,导电触点被配置为与显示面板的数据信号测试引线电连接;相邻排的导电触点之间交错设置,且相邻排的导电触点之间错开的间距小于显示面板的数据信号测试引线之间的间距。上述测试信号接入板,可以避免pin miss的发生,提高Cell Test的不良检出,提高点灯测试检测的精确性;并且,本申请的测试信号接入方案无需使用Trimming设备切割,可以避免Trimming残留/异物、切割不良造成的假X‑line高发等影响,进而提高显示模组产品的良率。

    点灯装置和点灯测试方法

    公开(公告)号:CN106910444B

    公开(公告)日:2020-11-27

    申请号:CN201710111937.X

    申请日:2017-02-28

    IPC分类号: G09G3/00

    摘要: 提供一种点灯装置和点灯测试方法。该点灯装置包括:可移动单元,包括第一标记;图像获取单元,被配置来获取包括所述第一标记和显示面板上的第二标记的实际相对位置的图像;计算单元,被配置来根据所述图像获得所述第一标记与所述第二标记的实际相对位置;第一位置调整单元,被配置来移动所述可移动单元,以调整所述实际相对位置;第一控制单元,被配置来根据所述实际相对位置和理论正确对位时所述第一标记和所述第二标记的理论相对位置的差值是否超过设定值来确定所述第一位置调整单元是否调整到位。可提高检测速度,减少作业时间,提高对位的准确率。

    一种自动光学检测装置及显示面板的检测系统

    公开(公告)号:CN107564441A

    公开(公告)日:2018-01-09

    申请号:CN201710774919.X

    申请日:2017-08-31

    IPC分类号: G09G3/00 G01D21/00

    摘要: 本发明公开了一种自动光学检测装置及显示面板的检测系统,属于显示设备领域。该自动光学检测装置包括壳体、滑轨和摄像头,滑轨固定安装在壳体内,摄像头可滑动地设置在滑轨上,且摄像头位于滑轨的下方,壳体上设有观察口,在进行检测时,将摄像头在滑轨上移动,使摄像头靠近点灯机的载物台,使摄像头正对显示面板,从而通过摄像头对显示面板进行自动光学检测,而当自动光学检测装置出现故障无法进行检测时,则可以将摄像头沿着滑轨移动,使摄像头远离载物台,由于摄像头位于滑轨的下方,在摄像头移动至远离点灯机的载物台的位置后,点灯机前会出现较大的空间,从而可以方便操作人员进入,以进行人工检测。避免了点灯机的闲置,提高了检测效率。

    一种探针滑块组件、探针单元、点灯装置以及控制方法

    公开(公告)号:CN113219219A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202110655222.7

    申请日:2021-06-11

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/28 G09G3/00

    摘要: 本发明涉及待测试显示面板制造技术领域,具体涉及一种探针滑块组件、探针单元、点灯装置以及控制方法,该探针滑块组件包括:支撑座;探针块,包括朝向待测试显示面板的引脚区的多个探针;连接架,一端与所述探针块相连接,另一端通过第一滑动组件与所述支撑座滑动连接,用于驱动所述探针块向多个所述探针与所述引脚区相对应的方向滑动。本申请将现有技术中的探针块设计为可滑动结构,若通过显微镜观察到当前探针块内多个探针未与引脚区相对应,此时,技术人员仅需驱动探针块向与引脚区相对应的方向滑动即可,直至探针块内多个探针与引脚区完全相对应,综上所述,采用本申请的设计可以有效缩短调整时长,提高调整精准度,提高测试效率。